在納米CT圖像定量分析的過程中,相信大家都遇到過這樣的情況:很難找到一個(gè)合適的閾值來分割我們要分析的對(duì)象。尤其是對(duì)于顯微ct掃描樣品中的細(xì)微結(jié)構(gòu)而言,由于沒有足夠高的分辨率來表征,高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng)造成其灰度要低于正常值,局部高襯度X射線三維掃描襯度降低。這就對(duì)我們的閾值選取、個(gè)體分割造成了非常大的困難,尤其是動(dòng)輒幾百兆,幾個(gè)G的三維CT數(shù)據(jù)。所以在進(jìn)行閾值分割之前,各種濾波工具就被我們拿來強(qiáng)化對(duì)象,弱化背景噪音,以期能夠得到一個(gè)更準(zhǔn)確的結(jié)果。所有測量支持手動(dòng)設(shè)置,確保為難度較大的樣本設(shè)置參數(shù)。在分辨率低于5μm的情況下,掃描時(shí)間也在15分鐘以內(nèi)。江西質(zhì)量顯微CT配件

§CTVox通過體繪制實(shí)現(xiàn)三維可視化體繪制程序CTVox通過一系列重建切片顯示逼真的3D樣品,具有針對(duì)樣品和探測器的直觀導(dǎo)航和操作,靈活的剪切工具可生成剪切視圖,而交互式傳輸功能控制能調(diào)整顏色和透明度。能選擇材料表面屬性以及加亮和陰影功能,可生成逼真的圖像。借助“飛行記錄器”功能,只需選擇多個(gè)關(guān)鍵幀,并在中間自動(dòng)插值,就可以快速創(chuàng)建動(dòng)畫。應(yīng)用BrukerMicro-CT可廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域:§原材料:金屬、地質(zhì)樣品、寶石、鉆石、木材、有機(jī)原料等§合成材料:聚合物、生物材料、建筑材料、紙張/面料/紡織品、粉末/顆粒、陶瓷/玻璃、醫(yī)藥片劑、藝術(shù)品/歷史文物等§工業(yè)制成品:電子元器件、工業(yè)制造品:金屬/非金屬、燃料電池/電池等§其他。電池質(zhì)量檢驗(yàn)軟件使用修正的Feldkamp 多層體積(錐束)重建算法。單層或選定/全體積在一個(gè)掃描后也能重建。

特點(diǎn)介紹SkyScan1272是一臺(tái)具有革新意義的高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng)統(tǒng)。單次掃描比較高可獲得2000張,每張大小為146M(12069x12069像素)的超清無損切片,用于之后高分辨三維重建。通過先進(jìn)的相襯增強(qiáng)技術(shù),SkyScan1272對(duì)樣品的細(xì)節(jié)檢測能力(分辨率)高達(dá)450納米。SkyScan1272采用了布魯克所有的自動(dòng)可變掃描幾何系統(tǒng),不但樣品到光源的距離可調(diào),探測器到光源的距離也可調(diào)。因此,可變幾何系統(tǒng)能在空間分辨率、可掃描樣品尺寸、掃描速度、圖像質(zhì)量之間找到完美的平衡。相比于傳統(tǒng)的探測器-光源固定距離模式,在分辨率不變的情況下,掃描速度可提高2-5倍,同時(shí)保證得到相同的甚至更好的圖像質(zhì)量。而且這種掃描幾何的改變,無需人工干預(yù),軟件會(huì)自動(dòng)根據(jù)用戶選定的圖像放大倍數(shù),自動(dòng)優(yōu)化掃描幾何,以期在比較好分辨率、短時(shí)間內(nèi)得到高質(zhì)量數(shù)據(jù)。SkyScan1272配備了的分層重構(gòu)軟件InstaRecon®,得益于其獨(dú)特的算法,重建速度比常規(guī)Feldkamp算法快10-100倍,適用于更大規(guī)模數(shù)據(jù)的成像處理。
Mμm):5mm–limitedbygeometryLargestrepresentativesamplediameterforvarioussamplesat130kVGeomaterials:1inch–4cm(thiscorrespondsto‘fullcore’formanyoilandgasapplications).Metals:1–2cm?primarilyAl,Ti,(Fe)Electronics:severalcmifsamplesare‘plate-like’:–250mminoffsetmodus.Voxelsizeinthiscaseis54μm汽車和電子:檢測金屬部件瑕疵、對(duì)連接進(jìn)行無損評(píng)估、自動(dòng)分析制造組件、在線運(yùn)行系統(tǒng)。

SKYSCAN1272CMOS憑借Genius模式可自動(dòng)選擇參數(shù)。只需單擊一下,即可自動(dòng)優(yōu)化放大率、能量、過濾、曝光時(shí)間和背景校正。而且,由于能讓樣品和大尺寸CMOS探測器盡可能地靠近光源,它能大幅地增加實(shí)測的信號(hào)強(qiáng)度。正是因?yàn)檫@個(gè)原因,SKYSCAN1272CMOS的掃描速度比探測器位置固定的常規(guī)系統(tǒng)較為多可快5倍。SKYSCAN1272CMOS纖維和復(fù)合材料FFP2口罩的三維渲染,根據(jù)局部取向?qū)w維進(jìn)行彩色編碼通過將材料組合成復(fù)合材料,獲得的組件可以擁有更高的強(qiáng)度,同時(shí)大為減輕重量。而要想進(jìn)一步優(yōu)化組件性能,就必須確保組成成分的方向能被優(yōu)化。較為常用的組分之一是纖維,有混凝土中的鋼筋,電子元件中的玻璃纖維,還有航空材料中的碳納米管。XRM可用于檢測纖維和復(fù)合材料,而無需進(jìn)行橫切,從而確保樣品狀態(tài)不會(huì)在制備樣品的過程中受到影響。1.嵌入對(duì)象的方向2.層厚、纖維尺寸和間隔的定量分析3.采用原位樣品臺(tái)檢測溫度和物理性質(zhì)。系統(tǒng)控制軟件用于控制設(shè)備、設(shè)定參數(shù)并獲得X-射線圖像以進(jìn)行后續(xù)的三維重建。水泥孔隙率裂紋檢測
先進(jìn)的 16 兆像素 CMOS X 射線探測器可提供具有 分辨率的高對(duì)比度圖像。江西質(zhì)量顯微CT配件
SkyScan2214為油氣勘探,復(fù)合材料,鋰電池,燃料電池,電子組件等材料的三維成像和精確建模提供了獨(dú)特的解決方案。該儀器可接受300mm大小的物體,并為小尺寸和中等尺寸(10cm范圍左右)樣品掃描提供亞微米級(jí)的分辨率。該系統(tǒng)可選擇圓形和螺旋掃描軌跡進(jìn)行樣品掃描,并提供世界上快的分層重建(InstaRecon®)軟件,和獲得(許可)的精確的螺旋重建算法,為準(zhǔn)確測量提供高精度信息?!ら_放式納米焦點(diǎn)金剛石光源,降低使用成本··多探測器自動(dòng)切換(多可選4個(gè)),可選擇適用于中小尺寸樣品成像的高靈敏度CCD探測器和適用于大尺寸樣品、快速掃描的高分辨率CMOS平板探測器··11軸高精度定位系統(tǒng),精度優(yōu)于50nm··三維空間分辨率優(yōu)于500nm,小像素尺寸優(yōu)于60nm·江西質(zhì)量顯微CT配件