YuanStem 20多能干細胞培養(yǎng)基使用說明書
YuanStem 20多能干細胞培養(yǎng)基
YuanStem 8多能干細胞培養(yǎng)基
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DDR測試
DDRDIMM內(nèi)存條測試處理內(nèi)存條測試儀重要的部分是自動處理機。處理機一般采用鍍金連接器以保證與內(nèi)存條良好的電接觸。在頻率為266MHz時,2英寸長的連接器將會造成測試信號極大衰減。為解決上述難題,一種新型處理機面市了。它采用普通手動測試儀的插槽。測試儀可以模擬手動插入,平穩(wěn)地插入待測內(nèi)存條的插槽;一旦測試完成,內(nèi)存條又可以平穩(wěn)地從插槽中拔出。
克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室
地址:深圳市南山區(qū)南頭街道中祥路8號君翔達大廈A棟2樓H區(qū) DDR信號質(zhì)量的測試方法、測試裝置與測試設備與流程;多端口矩陣測試DDR測試推薦貨源

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由于DDR4的數(shù)據(jù)速率會達到3.2GT/s以上,DDR5的數(shù)據(jù)速率更高,所以對邏輯分析儀的要求也很高,需要狀態(tài)采樣時鐘支持1.6GHz以上且在雙采樣模式下支持3.2Gbps以上的數(shù)據(jù)速率。圖5.22是基于高速邏輯分析儀的DDR4/5協(xié)議測試系統(tǒng)。圖中是通過DIMM條的適配器夾具把上百路信號引到邏輯分析儀,相應的適配器要經(jīng)過嚴格測試,確保在其標稱的速率下不會因為信號質(zhì)量問題對協(xié)議測試結(jié)果造成影響。目前的邏輯分析儀可以支持4Gbps以上信號的采集和分析。 多端口矩陣測試DDR測試規(guī)格尺寸DDR內(nèi)存條電路原理圖;

DDR測試
DDR內(nèi)存的典型使用方式有兩種:一種是在嵌入式系統(tǒng)中直接使用DDR顆粒,另一種是做成DIMM條(DualIn-lineMemoryModule,雙列直插內(nèi)存模塊,主要用于服務器和PC)或SO-DIMM(SmallOutlineDIMM,小尺寸雙列直插內(nèi)存,主要用于筆記本)的形式插在主板上使用。在服務器領域,使用的內(nèi)存條主要有UDIMM、RDIMM、LRDIMM等。UDIMM(UnbufferedDIMM,非緩沖雙列直插內(nèi)存)沒有額外驅(qū)動電路,延時較小,但數(shù)據(jù)從CPU傳到每個內(nèi)存顆粒時,UDIMM需要保證CPU到每個內(nèi)存顆粒之間的傳輸距離相等,設計難度較大,因此UDIMM在容量和頻率上都較低,通常應用在性能/容量要求不高的場合。
8.PCBLayout在實際的PCB設計時,考慮到SI的要求,往往有很多的折中方案。通常,需要優(yōu)先考慮對于那些對信號的完整性要求比較高的。畫PCB時,當考慮以下的一些相關因素,那么對于設計PCB來說可靠性就會更高。1)首先,要在相關的EDA工具里設置好拓撲結(jié)構(gòu)和相關約束。2)將BGA引腳突圍,將ADDR/CMD/CNTRL引腳布置在DQ/DQS/DM字節(jié)組的中間,由于所有這些分組操作,為了盡可能少的信號交叉,一些的管腳也許會被交換到其它區(qū)域布線。3)由串擾仿真的結(jié)果可知,盡量減少短線(stubs)長度。通常,短線(stubs)是可以被削減的,但不是所有的管腳都做得到的。在BGA焊盤和存儲器焊盤之間也許只需要兩段的走線就可以實現(xiàn)了,但是此走線必須要很細,那么就提高了PCB的制作成本,而且,不是所有的走線都只需要兩段的,除非使用微小的過孔和盤中孔的技術。終,考慮到信號完整性的容差和成本,可能選擇折中的方案。DDR3的DIMM接口協(xié)議測試探頭;

DDR測試
DDR5的接收端容限測試
前面我們在介紹USB3.0、PCIe等高速串行總線的測試時提到過很多高速的串行總線由于接收端放置有均衡器,因此需要進行接收容限的測試以驗證接收均衡器和CDR在惡劣信號下的表現(xiàn)。對于DDR來說,DDR4及之前的總線接收端還相對比較簡單,只是做一些匹配、時延、閾值的調(diào)整。但到了DDR5時代(圖5.19),由于信號速率更高,因此接收端也開始采用很多高速串行總線中使用的可變增益調(diào)整以及均衡器技術,這也使得DDR5測試中必須關注接收均衡器的影響,這是之前的DDR測試中不曾涉及的。 DDR4信號質(zhì)量自動測試軟件報告;信息化DDR測試眼圖測試
解決DDR內(nèi)存系統(tǒng)測試難題?多端口矩陣測試DDR測試推薦貨源
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測試軟件運行后,示波器會自動設置時基、垂直增益、觸發(fā)等參數(shù)進行測量并匯總成一個測試報告,測試報告中列出了測試的項目、是否通過、spec的要求、實測值、margin等。圖5.17是自動測試軟件進行DDR4眼圖睜開度測量的一個例子。信號質(zhì)量的測試還可以輔助用戶進行內(nèi)存參數(shù)的配置,比如高速的DDR芯片都提供有ODT(OnDieTermination)的功能,用戶可以通過軟件配置改變內(nèi)存芯片中的匹配電阻,并分析對信號質(zhì)量的影響。除了一致性測試以外,DDR測試軟件還可以支持調(diào)試功能。比如在某個關鍵參數(shù)測試失敗后,可以針對這個參數(shù)進行Debug。此時,測試軟件會捕獲、存儲一段時間的波形并進行參數(shù)統(tǒng)計,根據(jù)統(tǒng)計結(jié)果可以查找到參數(shù)違規(guī)時對應的波形位置, 多端口矩陣測試DDR測試推薦貨源