多端口矩陣測試PCI-E測試參考價(jià)格

在之前的PCIe規(guī)范中，都是假定PCIe芯片需要外部提供一個(gè)參考時(shí)鐘(RefClk),在這 種芯片的測試中也是需要使用一個(gè)低抖動的時(shí)鐘源給被測件提供參考時(shí)鐘，并且只需要對 數(shù)據(jù)線進(jìn)行測試。而在PCIe4.0的規(guī)范中，新增了允許芯片使用內(nèi)部提供的RefClk(被稱 為Embeded RefClk)模式，這種情況下被測芯片有自己內(nèi)部生成的參考時(shí)鐘，但參考時(shí)鐘的 質(zhì)量不一定非常好，測試時(shí)需要把參考時(shí)鐘也引出，采用類似于主板測試中的Dual-port測 試方法。如果被測芯片使用內(nèi)嵌參考時(shí)鐘且參考時(shí)鐘也無法引出，則意味著被測件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式，需要另外的算法進(jìn)行特殊處理。PCI-E測試信號完整性測試解決方案；多端口矩陣測試PCI-E測試參考價(jià)格

在物理層方面，PCIe總線采用多對高速串行的差分信號進(jìn)行雙向高速傳輸，每對差分  線上的信號速率可以是第1代的2 . 5Gbps、第2代的5Gbps、第3代的8Gbps、第4代的  16Gbps、第5代的32Gbps,其典型連接方式有金手指連接、背板連接、芯片直接互連以及電  纜連接等。根據(jù)不同的總線帶寬需求，其常用的連接位寬可以選擇x1、x4、x8、x16等。如  果采用×16連接以及第5代的32Gbps速率，理論上可以支持約128GBps的雙向總線帶寬。 另外，2019年P(guān)CI-SIG宣布采用PAM-4技術(shù)，單Lane數(shù)據(jù)速率達(dá)到64Gbps的第6代標(biāo)  準(zhǔn)規(guī)范也在討論過程中。列出了PCIe每一代技術(shù)發(fā)展在物理層方面的主要變化。廣西通信PCI-E測試PCIE 系統(tǒng)架構(gòu)及物理層一致性測試；

這個(gè)軟件以圖形化的界面指導(dǎo)用戶完 成設(shè)置、連接和測試過程，除了可以自動進(jìn)行示波器測量參數(shù)設(shè)置以及生成報(bào)告外，還提供 了Swing、Common Mode等更多測試項(xiàng)目，提高了測試的效率和覆蓋率。自動測試軟件使 用的是與SigTest軟件完全一樣的分析算法，從而可以保證分析結(jié)果的一致性。圖4.15是 PCIe4.0自動測試軟件的設(shè)置界面。

主板和插卡的測試項(xiàng)目針對的是系統(tǒng)設(shè)備廠商，需要使用PCI-SIG的測試夾具測 試，遵循的是CEM的規(guī)范。而對于設(shè)計(jì)PCIe芯片的廠商來說，其芯片本身的性能首先要 滿足的是Base的規(guī)范，并且需要自己設(shè)計(jì)針對芯片的測試板。16是一個(gè)典型的PCIe 芯片的測試板，測試板上需要通過扇出通道(Breakout Channel)把被測信號引出并轉(zhuǎn)換成 同軸接口直接連接測試儀器。扇出通道的典型長度小于6英寸，對于16Gbps信號的插損 控制在4dB以內(nèi)。為了測試中可以對扇出通道的影響進(jìn)行評估或者去嵌入，測試板上還應(yīng) 設(shè)計(jì)和扇出通道疊層設(shè)計(jì)、布線方式盡量一致的復(fù)制通道(Replica Channel),復(fù)制通道和扇 出通道的區(qū)別是兩端都設(shè)計(jì)成同軸連接方式，這樣可以通過對復(fù)制通道直接進(jìn)行測試 推測扇出通道的特性。

要精確產(chǎn)生PCle要求的壓力眼圖需要調(diào)整很多參數(shù)，比如輸出信號的幅度、預(yù)加重、 差模噪聲、隨機(jī)抖動、周期抖動等，以滿足眼高、眼寬和抖動的要求。而且各個(gè)調(diào)整參數(shù)之間 也會相互制約，比如調(diào)整信號的幅度時(shí)除了會影響眼高也會影響到眼寬，因此各個(gè)參數(shù)的調(diào) 整需要反復(fù)進(jìn)行以得到 一個(gè)比較好化的組合。校準(zhǔn)中會調(diào)用PCI-SIG的SigTest軟件對信號 進(jìn)行通道模型嵌入和均衡，并計(jì)算的眼高和眼寬。如果沒有達(dá)到要求，會在誤碼儀中進(jìn) 一步調(diào)整注入的隨機(jī)抖動和差模噪聲的大小，直到眼高和眼寬達(dá)到參數(shù)要求。PCI-E 3.0測試接收端的變化；

首先來看一下惡劣信號的定義，不是隨便一個(gè)信號就可以，且惡劣程度要有精確定義才 能保證測量的重復(fù)性。通常把用于接收端容限測試的這個(gè)惡劣信號叫作Stress Eye,即壓 力眼圖，實(shí)際上是借鑒了光通信的叫法。這個(gè)信號是用高性能的誤碼儀先產(chǎn)生一個(gè)純凈的 帶特定預(yù)加重的信號，然后在這個(gè)信號上疊加精確控制的隨機(jī)抖動(RJ)、周期抖動(SJ)、差 模和共模噪聲以及碼間干擾(ISI)。為了確定每個(gè)成分的大小都符合規(guī)范的要求，測試之前需要先用示波器對誤碼儀輸出的信號進(jìn)行校準(zhǔn)。其中，ISI抖動是由PCIe協(xié)會提供的測試 夾具產(chǎn)生，其夾具上會模擬典型的主板或者插卡的PCB走線對信號的影響。在PCIe3.0的 CBB夾具上，增加了專門的Riser板以模擬服務(wù)器等應(yīng)用場合的走線對信號的影響；而在 PCIe4.0和PCIe5.0的夾具上，更是增加了專門的可變ISI的測試板用于模擬和調(diào)整ISI的 影響。pcie 有幾種類型,哪個(gè)速度快?多端口矩陣測試PCI-E測試參考價(jià)格

PCI-E測試信號質(zhì)量測試；多端口矩陣測試PCI-E測試參考價(jià)格

CTLE均衡器可以比較好地補(bǔ)償傳輸通道的線性損耗，但是對于一些非線性因素(比如 由于阻抗不匹配造成的信號反射)的補(bǔ)償還需要借助于DFE的均衡器，而且隨著信號速率的提升，接收端的眼圖裕量越來越小，采用的DFE技術(shù)也相應(yīng)要更加復(fù)雜。在PCle3.0的 規(guī)范中，針對8Gbps的信號，定義了1階的DFE配合CTLE完成信號的均衡；而在PCle4.0 的規(guī)范中，針對16Gbps的信號，定義了更復(fù)雜的2階DFE配合CTLE進(jìn)行信號的均衡。 圖 4 .5 分別是規(guī)范中針對8Gbps和16Gbps信號接收端定義的DFE均衡器(參考資料： PCI   Express@   Base   Specification   4.0)。多端口矩陣測試PCI-E測試參考價(jià)格