DDR測(cè)試MIPI測(cè)試服務(wù)熱線

移動(dòng)產(chǎn)/處理器接口MIPI(mobileindustryprocessorinter-face)是為移動(dòng)應(yīng)用處理器制定開放標(biāo)準(zhǔn)，旨在為移動(dòng)設(shè)備內(nèi)部的攝像頭、顯示屏、射頻，基帶等提供標(biāo)準(zhǔn)化接口。它使這些設(shè)備的接口既能增加帶寬，提高性能，同時(shí)又能降低成本、復(fù)雜度、功耗以及電磁干擾。MIPI并不是一個(gè)單一的接口或協(xié)議，而是包含了一套協(xié)議和標(biāo)準(zhǔn)，以滿足各種子系統(tǒng)獨(dú)特的需求。D-PHY提供了主機(jī)和從機(jī)之間的同步物理連接。一個(gè)典型的DPHY配置包含一個(gè)時(shí)鐘通道模塊和一至四個(gè)數(shù)據(jù)通道模塊。D-PHY采用差分信號(hào)與另一端的D-PHY連通以高速傳輸圖像數(shù)據(jù)，低速傳輸控制與狀態(tài)信息則采用單端信號(hào)進(jìn)行。MIPI測(cè)試接口引腳定義；DDR測(cè)試MIPI測(cè)試服務(wù)熱線

(3)HS信號(hào)電平判決和建立/保持時(shí)間容限(GROUP3:HS-RXVOLTAGEANDSETUP/HOLDREQUIREMENTS):其中包含了被測(cè)件對(duì)于HS信號(hào)共模電壓、差分電壓、單端電壓、共模噪聲、建立/保持時(shí)間的容限測(cè)試等。(TestIDs:2.3.1，2.3.2,2.3.3,2.3.4，2.3.5，2.3.6，2.3.7.2.3.8)

(4)HS信號(hào)時(shí)序容限測(cè)試(GROUP4:HS-RXTIMERREQUIREMENTS):其中包含了對(duì)于HS和LP間狀態(tài)切換時(shí)的一系列時(shí)序參數(shù)的容限測(cè)試。(TestIDs;2.4.1，2.4.22.4.3，2.4.4，2.4.5，2.4.6,2.4.7,2.4.8,2.4.9,2.4.10,2.4.11)

D-PHY的接收端測(cè)試中，需要用到多通道的碼型發(fā)生以產(chǎn)生多通道的D-PHY的信號(hào)，碼型發(fā)生器需要在軟件的控制下改變HS/LP信號(hào)的電平、偏置、注入噪聲、改變時(shí)序關(guān)系等。圖13.13是以Agilent公司的81250并行誤碼儀平臺(tái)構(gòu)建的一套D-PHY信號(hào)的接收容限測(cè)試系統(tǒng)。 北京MIPI測(cè)試聯(lián)系人MIPI-DSI接口電路構(gòu)架;

對(duì)于MIPI模組或芯片的測(cè)試可以根據(jù)MIPI協(xié)會(huì)推薦的方法設(shè)計(jì)評(píng)估板TVB(TesVehicleBoard)并結(jié)合協(xié)會(huì)提供的RTB(RefererTerminationBoard)進(jìn)行信號(hào)測(cè)試，TVB板的設(shè)計(jì)可以參考MIPI協(xié)會(huì)提供的PCB文件，根據(jù)用戶要測(cè)試的模組或芯片的具體布線要求稍作修改,目的是把被測(cè)的MIPI信號(hào)轉(zhuǎn)成標(biāo)準(zhǔn)SMA接口的輸出，并通過SMA電纜連接到RTB板上。RTB板可以從MIPI協(xié)會(huì)購(gòu)買，上面除了可以引出信號(hào)到插針上方便測(cè)試以外，還可以根據(jù)HS和LP模式的不同切換負(fù)載的匹配,并根據(jù)需要模擬不同的容性負(fù)載，以方便進(jìn)行不同情況下的信號(hào)測(cè)試。而對(duì)于系統(tǒng)廠商(如手機(jī)廠商等)來說,由于系統(tǒng)設(shè)計(jì)已經(jīng)完成,要進(jìn)行MIPI的信號(hào)測(cè)試只能使用焊接或點(diǎn)測(cè)探頭連接PCB上的實(shí)際信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，進(jìn)行系統(tǒng)間MIPD-PHY信號(hào)測(cè)試的典型連接圖。

數(shù)字示波器使用及MIPI-DSI信號(hào)測(cè)量

數(shù)字示波器主要用于時(shí)域波形測(cè)試，測(cè)量電壓/電流隨時(shí)間的變化情況，MIPI-DSI是MIPI聯(lián)盟針對(duì)顯示設(shè)備開發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)接口協(xié)議，這里記錄下本人學(xué)習(xí)數(shù)字示波器的使用和MIPI-DSI信號(hào)測(cè)試的一些總結(jié)。

一、示波器的主要指標(biāo)數(shù)字示波器的工作可以分為以下幾個(gè)部分，對(duì)表筆采集的信號(hào)做放大和衰減，ADC對(duì)信號(hào)進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在高速緩存中，對(duì)信號(hào)進(jìn)行重建和顯示。前端的放大衰減電路決定了示波器的帶寬，模數(shù)轉(zhuǎn)換電路決定了示波器的采樣率，而高速緩存則決定了示波器的存儲(chǔ)深度，以下對(duì)這三個(gè)指標(biāo)分別說明。 MIPI測(cè)試 D-PHY物理層自動(dòng)一致性；

為了適應(yīng)兩種不同的運(yùn)行模式，接收機(jī)端的端接必須是動(dòng)態(tài)的。在HS模式下，接收機(jī)端必須以差分方式端接100Ω；在LP模式下，接收機(jī)開路(未端接)。HS模式下的上升時(shí)間與LP模式下是不同的。

接收機(jī)端動(dòng)態(tài)端接加大了D-PHY信號(hào)測(cè)試的復(fù)雜度，這給探測(cè)帶來極大挑戰(zhàn)。探頭必須能夠在HS信號(hào)和LP信號(hào)之間無縫切換，而不會(huì)給DUT帶來負(fù)載。必須在HS進(jìn)入模式下測(cè)量大多數(shù)全局定時(shí)參數(shù)，其需要作為時(shí)鐘測(cè)試、數(shù)據(jù)測(cè)試和時(shí)鐘到數(shù)據(jù)測(cè)試來執(zhí)行。還要在示波器的不同通道上同時(shí)采集Clock+(Cp)、Clock-(Cn)、Data+(Dp)、Data-(Dn)。 MIPI LCD 的CLK時(shí)鐘頻率與顯示分辨率及幀率的關(guān)系;DDR測(cè)試MIPI測(cè)試服務(wù)熱線

數(shù)據(jù)線的LP信號(hào)質(zhì)量測(cè)試；DDR測(cè)試MIPI測(cè)試服務(wù)熱線

一般來說，比較器的失調(diào)電壓主要是由于輸入管不完全對(duì)稱引起的。當(dāng)比較器存在輸入失調(diào)時(shí)，流經(jīng)DPAIR2模塊中輸人對(duì)管的電流會(huì)不一致，從而造成流入NLOAD2模塊的電流大小也不一致。此時(shí)通過改變控制字，使itrimm電流與iconst電流大小不同，在NLOAD2模塊中通過電流鏡補(bǔ)償輸入對(duì)管引起的電流差異，使得vpp和vpn端口剩下的電流一致，從而實(shí)現(xiàn)offset補(bǔ)償。校準(zhǔn)時(shí)，將比較器差分輸入端連接到地，通過對(duì)五位控制字從00000到11111掃描，再?gòu)?1111到00000掃描，觀察比較器的輸出，從而得到合適的控制字，實(shí)現(xiàn)offset校準(zhǔn)。經(jīng)仿真表明，該電路可實(shí)現(xiàn)+/-30mV的失調(diào)電壓校準(zhǔn)。DDR測(cè)試MIPI測(cè)試服務(wù)熱線