黑龍江測量PCI-E測試

PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時(shí)鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時(shí)鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時(shí)鐘(Independent Refclk,IR)模式，以提供更多的連接靈 活性。在CC時(shí)鐘模式下，主板會(huì)給插卡提供一個(gè)100MHz的參考時(shí)鐘(Refclk),插卡用這 個(gè)時(shí)鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個(gè)參考時(shí)鐘可以在主機(jī)打開擴(kuò)頻時(shí)鐘 (SSC)時(shí)控制收發(fā)端的時(shí)鐘偏差，同時(shí)由于有一部分?jǐn)?shù)據(jù)線相對于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)可以互 相抵消，所以對于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)要求可以稍寬松一些在PCI-E的信號質(zhì)量測試中需要捕獲多少的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析？黑龍江測量PCI-E測試

這個(gè)軟件以圖形化的界面指導(dǎo)用戶完 成設(shè)置、連接和測試過程，除了可以自動(dòng)進(jìn)行示波器測量參數(shù)設(shè)置以及生成報(bào)告外，還提供 了Swing、Common Mode等更多測試項(xiàng)目，提高了測試的效率和覆蓋率。自動(dòng)測試軟件使 用的是與SigTest軟件完全一樣的分析算法，從而可以保證分析結(jié)果的一致性。圖4.15是 PCIe4.0自動(dòng)測試軟件的設(shè)置界面。

主板和插卡的測試項(xiàng)目針對的是系統(tǒng)設(shè)備廠商，需要使用PCI-SIG的測試夾具測 試，遵循的是CEM的規(guī)范。而對于設(shè)計(jì)PCIe芯片的廠商來說，其芯片本身的性能首先要 滿足的是Base的規(guī)范，并且需要自己設(shè)計(jì)針對芯片的測試板。16是一個(gè)典型的PCIe 芯片的測試板，測試板上需要通過扇出通道(Breakout Channel)把被測信號引出并轉(zhuǎn)換成 同軸接口直接連接測試儀器。扇出通道的典型長度小于6英寸，對于16Gbps信號的插損 控制在4dB以內(nèi)。為了測試中可以對扇出通道的影響進(jìn)行評估或者去嵌入，測試板上還應(yīng) 設(shè)計(jì)和扇出通道疊層設(shè)計(jì)、布線方式盡量一致的復(fù)制通道(Replica Channel),復(fù)制通道和扇 出通道的區(qū)別是兩端都設(shè)計(jì)成同軸連接方式，這樣可以通過對復(fù)制通道直接進(jìn)行測試 推測扇出通道的特性。 黑龍江測量PCI-E測試PCI-E測試信號質(zhì)量測試；

簡單總結(jié)一下，PCIe4.0和PCIe3.0在物理層技術(shù)上的相同點(diǎn)和不同點(diǎn)有：(1)PCIe4.0的數(shù)據(jù)速率提高到了16Gbps,并向下兼容前代速率；(2)都采用128b/130b數(shù)據(jù)編碼方式；(3)發(fā)送端都采用3階預(yù)加重和11種Preset;(4)接收端都有CTLE和DFE的均衡；(5)PCIe3.0是1抽頭DFE,PCIe4.0是2抽頭DFE;(6)PCIe4.0接收芯片的LaneMargin功能為強(qiáng)制要求(7)PCIe4.0的鏈路長度縮減到12英寸，多1個(gè)連接器，更長鏈路需要Retimer;(8)為了支持應(yīng)對鏈路損耗以及不同鏈路的情況，新開發(fā)的PCle3.0芯片和全部PCIe4.0芯片都需要支持動(dòng)態(tài)鏈路協(xié)商功能；

關(guān)于各測試項(xiàng)目的具體描述如下：·項(xiàng)目2.1Add-inCardTransmitterSignalQuality:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號質(zhì)量，針對2.5Gbps、5Gbps、8Gbps、16Gbps速率。·項(xiàng)目2.2Add-inCardTransmitterPulseWidthJitterTestat16GT/s:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號中的脈沖寬度抖動(dòng)，針對16Gbps速率?！ろ?xiàng)目2.3Add-inCardTransmitterPresetTest:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號的Preset值是否正確，針對8Gbps和16Gbps速率。·項(xiàng)目2.4AddinCardTransmitterInitialTXEQTest:驗(yàn)證插卡能根據(jù)鏈路命令設(shè)置成正確的初始Prest值，針對8Gbps和16Gbps速率?！ろ?xiàng)目2.5Add-inCardTransmitterLinkEqualizationResponseTest:驗(yàn)證插卡對于鏈路協(xié)商的響應(yīng)時(shí)間，針對8Gbps和16Gbps速率。PCI-E4.0的發(fā)射機(jī)質(zhì)量測試？

相應(yīng)地，在CC模式下參考時(shí)鐘的 抖動(dòng)測試中，也會(huì)要求測試軟件能夠很好地模擬發(fā)送端和接收端抖動(dòng)傳遞函數(shù)的影響。而 在IR模式下，主板和插卡可以采用不同的參考時(shí)鐘，可以為一些特殊的不太方便進(jìn)行參考 時(shí)鐘傳遞的應(yīng)用場景(比如通過Cable連接時(shí))提供便利，但由于收發(fā)端參考時(shí)鐘不同源，所 以對于收發(fā)端的設(shè)計(jì)難度要大一些(比如Buffer深度以及時(shí)鐘頻差調(diào)整機(jī)制)。IR模式下 用戶可以根據(jù)需要在參考時(shí)鐘以及PLL的抖動(dòng)之間做一些折中和平衡，保證*終的發(fā)射機(jī) 抖動(dòng)指標(biāo)即可。圖4.9是PCIe4.0規(guī)范參考時(shí)鐘時(shí)的時(shí)鐘架構(gòu)，以及不同速率下對于 芯片Refclk抖動(dòng)的要求。PCI-E PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么？黑龍江測量PCI-E測試

網(wǎng)絡(luò)分析儀測試PCIe gen4和gen5，sdd21怎么去除夾具的值?黑龍江測量PCI-E測試

在測試通道數(shù)方面，傳統(tǒng)上PCIe的主板測試采用了雙口(Dual-Port)測試方法，即需要 把被測的一條通道和參考時(shí)鐘RefClk同時(shí)接入示波器測試。由于測試通道和RefClk都是 差分通道，所以在用電纜直接連接測試時(shí)需要用到4個(gè)示波器通道(雖然理論上也可以用2個(gè) 差分探頭實(shí)現(xiàn)連接，但是由于會(huì)引入額外的噪聲，所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優(yōu)點(diǎn)是可以比較方便地計(jì)算數(shù)據(jù)通道相對于RefClk的抖動(dòng)。但在PCIe5.0中，對于 主板的測試也采用了類似于插卡測試的單口(Single-Port)方法，即只把被測數(shù)據(jù)通道接入 示波器測試，這樣信號質(zhì)量測試中只需要占用2個(gè)示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號質(zhì)量測試組網(wǎng)圖，芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過PCI-SIG黑龍江測量PCI-E測試