廣州CAF測(cè)試系統(tǒng)廠家直銷

    杭州國(guó)磊（Guolei）SoC測(cè)試系統(tǒng)（以GT600為**）雖主要面向高性能系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）的數(shù)字與混合信號(hào)測(cè)試，但憑借其高精度模擬測(cè)量、靈活電源管理、高速數(shù)字接口驗(yàn)證及并行測(cè)試能力，能夠有效支持多種MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）。以下是其具體支持的典型MEMS應(yīng)用場(chǎng)景：1.慣性測(cè)量單元（IMU）IMU廣泛應(yīng)用于智能手機(jī)、無人機(jī)、AR/VR設(shè)備及智能駕駛系統(tǒng)，通常集成3軸加速度計(jì)+3軸陀螺儀（6DoF）甚至磁力計(jì)（9DoF）。其配套ASIC需完成微弱電容信號(hào)調(diào)理、Σ-ΔADC轉(zhuǎn)換、溫度補(bǔ)償和SPI/I2C通信。杭州國(guó)磊（Guolei）支持點(diǎn)：利用24位高精度Digitizer板卡捕獲nV~μV級(jí)模擬輸出；通過TMU（時(shí)間測(cè)量單元）驗(yàn)證陀螺儀響應(yīng)延遲與帶寬；使用400MHz數(shù)字通道測(cè)試高速SPI接口時(shí)序（眼圖、抖動(dòng)）；PPMU每引腳**供電，精確測(cè)量各工作模式功耗。 國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)ALPG功能可生成地址/數(shù)據(jù)模式，用于HBM存儲(chǔ)控制器的功能驗(yàn)證。廣州CAF測(cè)試系統(tǒng)廠家直銷

國(guó)產(chǎn)替代的“自主基石” 在美國(guó)對(duì)華**半導(dǎo)體設(shè)備禁運(yùn)的背景下，國(guó)產(chǎn)測(cè)試機(jī)成為“卡脖子”環(huán)節(jié)的突圍重點(diǎn)。杭州國(guó)磊GT600作為國(guó)產(chǎn)**SoC測(cè)試平臺(tái)，支持C++編程、Visual Studio開發(fā)環(huán)境，軟件系統(tǒng)開放可控，避免依賴國(guó)外“黑盒子”軟件。其硬件架構(gòu)靈活，16個(gè)通用插槽可適配國(guó)產(chǎn)探針臺(tái)、分選機(jī)，實(shí)現(xiàn)全鏈路本土化集成。交期短、響應(yīng)快、可定制，滿足華為、比亞迪等企業(yè)對(duì)供應(yīng)鏈安全與數(shù)據(jù)保密的嚴(yán)苛要求。杭州國(guó)磊GT600的出現(xiàn)，標(biāo)志著中國(guó)在**測(cè)試設(shè)備領(lǐng)域從“跟跑”向“并跑”邁進(jìn)。它不僅是工具，更是中國(guó)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈自主可控戰(zhàn)略的“隱形支柱”，為國(guó)產(chǎn)芯片的持續(xù)創(chuàng)新提供堅(jiān)實(shí)底座。國(guó)磊CAF測(cè)試系統(tǒng)現(xiàn)貨直發(fā)強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析功能，助您快速定位問題。

集成PPMU與動(dòng)態(tài)電流監(jiān)測(cè)——賦能“每瓦特算力”優(yōu)化 背景：AI芯片能效比（Performance per Watt）成為核心競(jìng)爭(zhēng)力，尤其在數(shù)據(jù)中心“雙碳”目標(biāo)下。每通道集成PPMU，支持nA級(jí)靜態(tài)電流與A級(jí)動(dòng)態(tài)電流測(cè)量； 可捕獲微秒級(jí)浪涌電流（Inrush Current）與電壓塌陷（Voltage Droop）； 支持FVMI/FIMV等模式，繪制功耗-性能曲線。幫助芯片設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)優(yōu)化電源完整性（PI）與低功耗策略（如電源門控），打造高能效國(guó)產(chǎn)AI芯片。512 Sites并行測(cè)試架構(gòu)——降低量產(chǎn)成本，搶占市場(chǎng)先機(jī)。AI芯片年出貨量動(dòng)輒百萬級(jí)，測(cè)試成本直接影響產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力。512站點(diǎn)并行測(cè)試能力，使單顆芯片測(cè)試成本降低70%以上，測(cè)試效率呈指數(shù)級(jí)提升。為國(guó)產(chǎn)AI芯片大規(guī)模量產(chǎn)提供“超級(jí)測(cè)試流水線”，實(shí)現(xiàn)“測(cè)得快、賣得起、用得穩(wěn)”。開放軟件生態(tài)（GTFY + C++ + Visual Studio）——加速AI芯片創(chuàng)新迭代 背景：AI架構(gòu)快速演進(jìn)（如存算一體、類腦計(jì)算），需高度靈活的測(cè)試平臺(tái)。開放編程環(huán)境支持自定義測(cè)試邏輯，高校與企業(yè)可快速開發(fā)新型測(cè)試方案。不僅是量產(chǎn)工具，更是科研創(chuàng)新的“開放實(shí)驗(yàn)臺(tái)”，推動(dòng)中國(guó)AI芯片從“跟隨”走向“**”。

智能駕駛對(duì)高性能SoC芯片的依賴日益加深。隨著L2+至L4級(jí)自動(dòng)駕駛技術(shù)的快速演進(jìn)，車載計(jì)算平臺(tái)對(duì)SoC（系統(tǒng)級(jí)芯片）的性能、可靠性與實(shí)時(shí)性提出了前所未有的高要求。這些SoC通常集成了CPU、GPU、NPU、ISP及**AI加速單元，用于處理多傳感器融合、路徑規(guī)劃與決策控制等復(fù)雜任務(wù)。然而，如此復(fù)雜的芯片架構(gòu)對(duì)測(cè)試環(huán)節(jié)構(gòu)成了巨大挑戰(zhàn)。杭州國(guó)磊GT600 SoC測(cè)試機(jī)憑借高達(dá)400 MHz的測(cè)試速率、512至2048個(gè)數(shù)字通道以及每通道高達(dá)128M的向量存儲(chǔ)深度，能夠高效覆蓋智能駕駛SoC在功能驗(yàn)證階段所需的高并發(fā)、高精度測(cè)試場(chǎng)景，為芯片從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)提供堅(jiān)實(shí)保障。每通道測(cè)試時(shí)間＜15ms，256通道全測(cè)不超過60秒，高效節(jié)能。

工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)的“量產(chǎn)引擎” 工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)（IIoT）設(shè)備對(duì)芯片的可靠性與成本極為敏感，且需求量大。杭州國(guó)磊GT600的512站點(diǎn)并行測(cè)試能力，可一次測(cè)試512顆MCU或傳感器芯片，極大提升測(cè)試吞吐量，***降低單顆測(cè)試成本。據(jù)行業(yè)測(cè)算，同測(cè)數(shù)每翻一倍，測(cè)試成本可下降30%以上。杭州國(guó)磊GT600支持長(zhǎng)時(shí)間老化測(cè)試，篩選出能在高溫、高濕、強(qiáng)電磁干擾環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行的“工業(yè)級(jí)”芯片。其GTFY系統(tǒng)支持STDF數(shù)據(jù)導(dǎo)出，可無縫對(duì)接工廠MES系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)良率分析與智能制造。杭州國(guó)磊GT600以“高效率、高可靠、低成本”的優(yōu)勢(shì)，為國(guó)產(chǎn)IIoT芯片的大規(guī)模量產(chǎn)提供強(qiáng)大引擎，助力中國(guó)智造走向全球。國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)邊沿精度（EPA）達(dá)100ps，確保HBM高速信號(hào)建立/保持時(shí)間（Setup/Hold）的精確測(cè)量。國(guó)磊CAF測(cè)試系統(tǒng)現(xiàn)貨直發(fā)

國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)高密度集成設(shè)計(jì)降低系統(tǒng)體積與功耗，適配高通道數(shù)HBM測(cè)試的緊湊型測(cè)試臺(tái)架部署。廣州CAF測(cè)試系統(tǒng)廠家直銷

    MEMS射頻開關(guān)與濾波器（RFMEMS）用于5G通信前端模塊，具有低插損、高隔離度優(yōu)勢(shì)。雖MEMS本體為無源器件，但常集成驅(qū)動(dòng)/控制CMOS電路。杭州國(guó)磊（Guolei）支持點(diǎn)：測(cè)試驅(qū)動(dòng)IC的開關(guān)時(shí)序（TMU精度達(dá)10ps）；驗(yàn)證控制邏輯與使能信號(hào)的數(shù)字功能；測(cè)量驅(qū)動(dòng)電壓（可達(dá)7V）與靜態(tài)/動(dòng)態(tài)功耗；雖不直接測(cè)S參數(shù)，但可確?？刂齐娐房煽啃?，間接保障RF性能。光學(xué)MEMS（如微鏡、光開關(guān)）應(yīng)用于激光雷達(dá)（LiDAR）、投影顯示（DLP替代）、光通信。其驅(qū)動(dòng)ASIC需提供高精度PWM或模擬電壓控制微鏡偏轉(zhuǎn)角度。杭州國(guó)磊（Guolei）支持點(diǎn)：AWG輸出多通道模擬控制波形，驗(yàn)證微鏡響應(yīng)一致性；TMU測(cè)量開關(guān)建立時(shí)間與穩(wěn)定時(shí)間；數(shù)字通道驗(yàn)證SPI配置寄存器功能；支持多通道同步測(cè)試，適配陣列式MEMS微鏡模組。 廣州CAF測(cè)試系統(tǒng)廠家直銷