長沙CAF測試系統(tǒng)參考價(jià)

低溫CMOS芯片的常溫預(yù)篩與參數(shù)表征。許多用于量子計(jì)算的控制芯片需在毫開爾文溫度下工作，但其制造仍基于標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝。在封裝并送入稀釋制冷機(jī)前，必須通過常溫下的嚴(yán)格電性測試進(jìn)行預(yù)篩選。國磊（Guolei）GT600支持每引腳PPMU（參數(shù)測量單元）和可編程浮動(dòng)電源（-2.5V~7V），能精確測量微弱電流、漏電及閾值電壓漂移等關(guān)鍵參數(shù)，有效剔除早期失效器件，避免昂貴的低溫測試資源浪費(fèi)。量子測控SoC的量產(chǎn)驗(yàn)證平臺(tái) 隨著量子計(jì)算機(jī)向百比特以上規(guī)模演進(jìn)，集成化“量子測控SoC”成為趨勢（如Intel的Horse Ridge芯片）。這類芯片集成了多通道微波信號(hào)調(diào)制、頻率合成、反饋控制等功能，結(jié)構(gòu)復(fù)雜度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行測試能力、128M向量深度及400MHz測試速率，完全可滿足此類**SoC在工程驗(yàn)證與小批量量產(chǎn)階段的功能覆蓋與性能分bin需求。電源門控模塊在喚醒時(shí)快速供電進(jìn)入狀態(tài)。GT600利用GT-TMUHA04測量從門控信號(hào)到模塊輸出有效信號(hào)的時(shí)間。長沙CAF測試系統(tǒng)參考價(jià)

 PPMU功能實(shí)現(xiàn)每引腳**電源管理測試 智能駕駛SoC通常包含多個(gè)電源域，以實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)功耗管理。杭州國磊GT600每通道集成PPMU（每引腳參數(shù)測量單元），支持FIMV/FIMI/FVMI/FVMV四種工作模式，可**控制每個(gè)引腳的電壓施加與電流測量。這一能力對(duì)于驗(yàn)證芯片在低功耗休眠、喚醒切換、電壓驟降等場景下的行為至關(guān)重要。例如，在模擬車輛啟動(dòng)瞬間電源波動(dòng)時(shí)，GT600可精確監(jiān)測各電源域的電流響應(yīng)，確保SoC不會(huì)因電源異常導(dǎo)致功能失效或安全風(fēng)險(xiǎn)。國產(chǎn)替代絕緣電阻測試系統(tǒng)現(xiàn)貨直發(fā)精密的電流檢測能力，實(shí)時(shí)捕捉微小電流變化。

    MEMS麥克風(fēng)消費(fèi)電子中***采用的數(shù)字/模擬MEMS麥克風(fēng)，內(nèi)部包含聲學(xué)傳感MEMS結(jié)構(gòu)與低噪聲前置放大器ASIC。關(guān)鍵指標(biāo)包括靈敏度、信噪比（SNR）、總諧波失真（THD）和AOP（聲學(xué)過載點(diǎn)）。杭州國磊（Guolei）支持點(diǎn)：GT-AWGLP02AWG板卡生成純凈1kHz正弦激勵(lì)（THD<-122dB）；高分辨率Digitizer采集輸出信號(hào)，計(jì)算SNR與THD；支持I2S/PDM等數(shù)字音頻接口協(xié)議測試；可進(jìn)行多顆麥克風(fēng)并行測試（512Sites），滿足手機(jī)廠商大批量需求。壓力傳感器（氣壓/差壓/***壓力）用于可穿戴健康監(jiān)測（如血氧估算）、汽車胎壓監(jiān)測（TPMS）、工業(yè)過程控制等。其ASIC需處理pF級(jí)電容變化，并具備溫度補(bǔ)償與校準(zhǔn)功能。杭州國磊（Guolei）支持點(diǎn)：PPMU施加精確偏置電壓并測量微安級(jí)工作電流；AWG模擬不同壓力對(duì)應(yīng)的電容激勵(lì)信號(hào)；Digitizer采集校準(zhǔn)后數(shù)字輸出（如I2C讀數(shù)），驗(yàn)證線性度與零點(diǎn)漂移；支持高低溫環(huán)境下的參數(shù)漂移測試（配合溫控分選機(jī)）。

支持復(fù)雜測試向量導(dǎo)入，加速算法驗(yàn)證閉環(huán) 智能駕駛芯片的**價(jià)值在于其內(nèi)置的AI推理引擎能否準(zhǔn)確執(zhí)行感知與決策算法。杭州國磊GT600支持從其他測試平臺(tái)導(dǎo)入測試程序與向量，并兼容STDF、CSV、Excel等多種數(shù)據(jù)格式，便于將仿真環(huán)境中的算法測試用例直接轉(zhuǎn)化為ATE（自動(dòng)測試設(shè)備）可執(zhí)行的測試向量。例如，可在GT600上加載真實(shí)道路場景下的圖像識(shí)別或目標(biāo)檢測激勵(lì)序列，驗(yàn)證NPU在極限負(fù)載下的響應(yīng)正確性與時(shí)延表現(xiàn)，從而構(gòu)建“算法—芯片—測試”一體化驗(yàn)證閉環(huán)。國磊GT600多通道浮動(dòng)SMU設(shè)計(jì)，支持多電源域模擬芯片（如多路電源管理IC）的單一電壓施加與電流監(jiān)測。

    GT600SoC測試機(jī)在測試高可靠性產(chǎn)品（如車規(guī)芯片、工業(yè)級(jí)MCU、航天電子、醫(yī)療設(shè)備芯片）時(shí)，展現(xiàn)出精度、***性、穩(wěn)定性與可追溯性四大**優(yōu)勢，確保產(chǎn)品在極端環(huán)境下長期穩(wěn)定運(yùn)行。首先，高精度參數(shù)測量是可靠性的基石。GT600配備每通道PPMU（參數(shù)測量單元），可精確測量nA級(jí)靜態(tài)漏電流（Iddq），識(shí)別因制造缺陷導(dǎo)致的微小漏電或潛在短路。這種“亞健康”芯片在常溫下可能功能正常，但在高溫或長期使用后極易失效。GT600通過精密篩查，提前剔除隱患，大幅提升產(chǎn)品早期失效率（InfantMortality）的控制能力。其次，支持***的可靠性測試項(xiàng)目。GT600可配合溫控系統(tǒng)進(jìn)行高溫老化測試（Burn-in），在高溫高壓下運(yùn)行芯片數(shù)百小時(shí)，加速暴露早期缺陷。其浮動(dòng)SMU電源板卡能模擬車載12V/24V或工業(yè)設(shè)備的復(fù)雜電源環(huán)境，驗(yàn)證芯片在電壓波動(dòng)、負(fù)載突變下的穩(wěn)定性。對(duì)于通信類高可靠產(chǎn)品，高精度TMU（10ps分辨率）可檢測信號(hào)時(shí)序漂移，確保長期通信無誤碼。再次，高穩(wěn)定性與長周期測試能力。GT600硬件設(shè)計(jì)冗余，散熱優(yōu)良，支持7x24小時(shí)連續(xù)運(yùn)行，可執(zhí)行長達(dá)數(shù)周的耐久性測試，模擬產(chǎn)品十年生命周期。128M向量深度確保長周期測試程序不中斷，數(shù)據(jù)完整。***，數(shù)據(jù)可追溯性強(qiáng)。 國磊GT600GPIB/TTL接口支持與外部源表、LCR表、溫控臺(tái)聯(lián)動(dòng)，構(gòu)建高精度模擬參數(shù)測試系統(tǒng)。廣東CAF測試系統(tǒng)研發(fā)

國磊GT600SoC測試機(jī)作為一款通用型高jiATE，其設(shè)計(jì)目標(biāo)是支持廣類型的復(fù)雜SoC芯片的測試驗(yàn)證。長沙CAF測試系統(tǒng)參考價(jià)

    杭州國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)（以GT600為**）雖主要面向高性能系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）的數(shù)字與混合信號(hào)測試，但憑借其高精度模擬測量、靈活電源管理、高速數(shù)字接口驗(yàn)證及并行測試能力，能夠有效支持多種MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）。以下是其具體支持的典型MEMS應(yīng)用場景：1.慣性測量單元（IMU）IMU廣泛應(yīng)用于智能手機(jī)、無人機(jī)、AR/VR設(shè)備及智能駕駛系統(tǒng)，通常集成3軸加速度計(jì)+3軸陀螺儀（6DoF）甚至磁力計(jì)（9DoF）。其配套ASIC需完成微弱電容信號(hào)調(diào)理、Σ-ΔADC轉(zhuǎn)換、溫度補(bǔ)償和SPI/I2C通信。杭州國磊（Guolei）支持點(diǎn)：利用24位高精度Digitizer板卡捕獲nV~μV級(jí)模擬輸出；通過TMU（時(shí)間測量單元）驗(yàn)證陀螺儀響應(yīng)延遲與帶寬；使用400MHz數(shù)字通道測試高速SPI接口時(shí)序（眼圖、抖動(dòng)）；PPMU每引腳**供電，精確測量各工作模式功耗。 長沙CAF測試系統(tǒng)參考價(jià)