GEN測(cè)試系統(tǒng)批發(fā)

高精度模擬測(cè)試能力匹配MEMS信號(hào)鏈要求，MEMS傳感器輸出信號(hào)微弱（如微伏級(jí)電容變化或納安級(jí)電流），對(duì)測(cè)試系統(tǒng)的本底噪聲和分辨率要求極高。國磊（Guolei）GT600可選配的GT-AWGLP02 AWG板卡具備**-122dB THD**（總諧波失真）和110dB SNR（信噪比），能生成超純凈激勵(lì)信號(hào)；同時(shí)其Digitizer支持20~24位采樣，可精確捕獲微弱響應(yīng)。這種能力對(duì)于測(cè)試MEMS麥克風(fēng)的靈敏度、壓力傳感器的滿量程輸出或磁力計(jì)的偏置穩(wěn)定性至關(guān)重要。支持低功耗與寬電壓范圍測(cè)試 許多MEMS器件用于可穿戴設(shè)備、物聯(lián)網(wǎng)節(jié)點(diǎn)等電池供電場景，對(duì)功耗極為敏感。國磊（Guolei）GT600的GT-DPSMV08電源板卡支持**-2.5V ~ +7V、1A**輸出，并具備每引腳**電源控制（PPMU），可精確測(cè)量待機(jī)/工作/休眠各模式下的電流（nA~mA級(jí)），驗(yàn)證MEMS-SoC是否滿足ULP（**功耗）設(shè)計(jì)目標(biāo)，這對(duì)通過終端產(chǎn)品能效認(rèn)證（如Energy Star）具有直接價(jià)值。國磊GT600為采用先進(jìn)工藝、集成多電源域、支持復(fù)雜低功耗策略的SoC提供了從研發(fā)驗(yàn)證到量產(chǎn)測(cè)試的全程支持。GEN測(cè)試系統(tǒng)批發(fā)

 PPMU功能實(shí)現(xiàn)每引腳**電源管理測(cè)試 智能駕駛SoC通常包含多個(gè)電源域，以實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)功耗管理。杭州國磊GT600每通道集成PPMU（每引腳參數(shù)測(cè)量單元），支持FIMV/FIMI/FVMI/FVMV四種工作模式，可**控制每個(gè)引腳的電壓施加與電流測(cè)量。這一能力對(duì)于驗(yàn)證芯片在低功耗休眠、喚醒切換、電壓驟降等場景下的行為至關(guān)重要。例如，在模擬車輛啟動(dòng)瞬間電源波動(dòng)時(shí)，GT600可精確監(jiān)測(cè)各電源域的電流響應(yīng)，確保SoC不會(huì)因電源異常導(dǎo)致功能失效或安全風(fēng)險(xiǎn)。杭州PCB測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)電壓設(shè)置靈活，測(cè)試電壓1–3000V可調(diào)，適應(yīng)多種實(shí)驗(yàn)條件。

推動(dòng)測(cè)試設(shè)備產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同發(fā)展，國磊（Guolei）GT600的研發(fā)帶動(dòng)了國內(nèi)精密儀器、高速PCB、FPGA邏輯、高精度ADC/DAC等上游元器件的需求，促進(jìn)本土供應(yīng)鏈成長。例如，其高精度TMU板卡依賴低抖動(dòng)時(shí)鐘源和皮秒級(jí)時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換器（TDC），這類**部件的國產(chǎn)化也在同步推進(jìn)。這種“以用促研、以研帶產(chǎn)”的良性循環(huán)，有助于構(gòu)建完整的國產(chǎn)半導(dǎo)體測(cè)試裝備產(chǎn)業(yè)鏈，從根本上提升供應(yīng)鏈的自主性和可持續(xù)性。國磊（Guolei）SoC測(cè)試系統(tǒng)不僅是技術(shù)工具，更是國家半導(dǎo)體供應(yīng)鏈安全體系中的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施。它通過實(shí)現(xiàn)**測(cè)試設(shè)備的國產(chǎn)替代、支撐國產(chǎn)芯片自主創(chuàng)新、保障敏感數(shù)據(jù)安全、促進(jìn)上下游協(xié)同，構(gòu)筑起一道抵御外部風(fēng)險(xiǎn)的“技術(shù)護(hù)城河”。在中美科技博弈長期化的趨勢(shì)下，像GT600這樣的國產(chǎn)**ATE，將成為中國打造安全、可靠、高效半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈不可或缺的戰(zhàn)略支點(diǎn)。

    杭州國磊（Guolei）的GT600SoC測(cè)試系統(tǒng)本質(zhì)上是一款面向高性能系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）量產(chǎn)與工程驗(yàn)證的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE），其**能力聚焦于高精度數(shù)字、模擬及混合信號(hào)測(cè)試。雖然該設(shè)備本身并非為量子計(jì)算設(shè)計(jì)，但在當(dāng)前科技融合加速發(fā)展的背景下，國磊SoC測(cè)試系統(tǒng)確實(shí)可以在特定環(huán)節(jié)與量子科技產(chǎn)生間接但重要的聯(lián)系。量子芯片控制與讀出電路的測(cè)試需求，目前實(shí)用化的量子處理器（如超導(dǎo)量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經(jīng)典控制電子學(xué)模塊——包括高速任意波形發(fā)生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數(shù)模/模數(shù)轉(zhuǎn)換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進(jìn)行功能與參數(shù)驗(yàn)證。國磊（Guolei）GT600配備的高精度AWG板卡（THD達(dá)-122dB）、24位混合信號(hào)測(cè)試能力及GT-TMUHA04時(shí)間測(cè)量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗(yàn)證這類量子控制芯片的信號(hào)保真度、時(shí)序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行。 多通道分組測(cè)試，支持64/128/256可選配置，大幅提升檢測(cè)效率。

現(xiàn)代AI芯片集成度極高，動(dòng)輒擁有上千引腳，傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備因通道數(shù)量不足，往往需分時(shí)復(fù)用或多輪測(cè)試，不僅效率低下，還可能遺漏關(guān)鍵時(shí)序問題。杭州國磊GT600比較高支持2048個(gè)數(shù)字通道，可一次性完成全引腳并行測(cè)試，確保高速數(shù)據(jù)總線、多核NPU互連、HBM內(nèi)存接口等復(fù)雜結(jié)構(gòu)的功能完整性與時(shí)序一致性。這一能力對(duì)寒武紀(jì)、壁仞、燧原等國產(chǎn)AI芯片企業(yè)尤為重要。在大模型訓(xùn)練芯片追求***帶寬與低延遲的***，GT600的高通道密度成為驗(yàn)證真實(shí)工作負(fù)載下系統(tǒng)穩(wěn)定性的關(guān)鍵工具，大幅縮短芯片從流片到量產(chǎn)的周期，助力國產(chǎn)AI算力快速落地?cái)?shù)據(jù)中心與邊緣場景。國磊GT600SoC測(cè)試機(jī)廣適用于AI、移動(dòng)、物聯(lián)網(wǎng)、汽車、工業(yè)等領(lǐng)域的SoC研發(fā)與量產(chǎn)驗(yàn)證。廣東PCB測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)公司

國磊GT600SoC測(cè)試機(jī)支持C++編程與VisualStudio開發(fā)環(huán)境，便于實(shí)現(xiàn)HBM協(xié)議定制化測(cè)試算法。GEN測(cè)試系統(tǒng)批發(fā)

    杭州國磊GT600SoC測(cè)試機(jī)之所以特別適用于高?？蒲袌鼍?，**在于其開放性、靈活性、多功能性與高性價(jià)比，完美契合高校在芯片教學(xué)、科研探索與原型驗(yàn)證中的獨(dú)特需求。首先，高度開放的軟件生態(tài)是科研創(chuàng)新的基礎(chǔ)。GT600搭載GTFY軟件系統(tǒng)，支持C++編程語言，并兼容VisualStudio等主流開發(fā)環(huán)境。這意味著高校師生無需依賴封閉的“黑盒子”軟件，可自主編寫、調(diào)試和優(yōu)化測(cè)試程序，靈活實(shí)現(xiàn)各類新型芯片架構(gòu)（如RISC-V、存算一體、類腦計(jì)算）的功能驗(yàn)證。這種開放性極大激發(fā)了學(xué)生的工程實(shí)踐能力與教師的科研創(chuàng)造力。其次，模塊化硬件架構(gòu)支持多樣化實(shí)驗(yàn)需求。GT600提供16個(gè)通用插槽，可自由混插數(shù)字、模擬（AWG/TMU）、電源（SMU/DPS）等板卡，構(gòu)建從純數(shù)字邏輯到混合信號(hào)的完整測(cè)試平臺(tái)。無論是驗(yàn)證一顆自研MCU的GPIO功能，還是測(cè)試新型傳感器接口的模擬性能，亦或是表征先進(jìn)工藝下的漏電特性，GT600都能“一機(jī)多用”，避免高校重復(fù)采購多臺(tái)**設(shè)備，***提升設(shè)備利用率。第三，高精度測(cè)量能力支撐前沿研究。GT600的PPMU可測(cè)nA級(jí)電流，TMU時(shí)間分辨率達(dá)10ps，適用于FinFET、GAA等先進(jìn)工藝下低功耗器件的特性表征。 GEN測(cè)試系統(tǒng)批發(fā)