珠海PCB測試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家

數(shù)據(jù)中心芯片的“能效裁判” 在“雙碳”目標(biāo)下，數(shù)據(jù)中心能耗成為焦點，芯片能效比（Performance per Watt）成為**指標(biāo)。杭州國磊GT600通過PPMU精確測量AI加速芯片、服務(wù)器CPU的靜態(tài)與動態(tài)功耗，結(jié)合FVMI（強(qiáng)制電壓測電流）模式，繪制完整的功耗-性能曲線，幫助設(shè)計團(tuán)隊優(yōu)化電壓頻率調(diào)節(jié)（DVFS）策略。其FIMV模式還可檢測芯片在高負(fù)載下的電壓跌落，防止因供電不穩(wěn)導(dǎo)致死機(jī)。杭州國磊GT600支持長時間穩(wěn)定性測試，模擬數(shù)據(jù)中心7x24小時運行場景，篩選出“耐力型”芯片。512站點并行測試大幅降低單顆芯片測試時間與成本，適配萬片級量產(chǎn)需求。杭州國磊GT600不僅是性能的驗證者，更是能效的“精算師”，助力國產(chǎn)芯片在綠色計算時代贏得市場。國磊GT600SoC測試機(jī)向量響應(yīng)存儲深度達(dá)128M，可完整捕獲HBM高速數(shù)據(jù)傳輸過程中的誤碼行為。珠海PCB測試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家

    杭州國磊（Guolei）的GT600SoC測試系統(tǒng)本質(zhì)上是一款面向高性能系統(tǒng)級芯片（SoC）量產(chǎn)與工程驗證的自動測試設(shè)備（ATE），其**能力聚焦于高精度數(shù)字、模擬及混合信號測試。雖然該設(shè)備本身并非為量子計算設(shè)計，但在當(dāng)前科技融合加速發(fā)展的背景下，杭州國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)確實可以在特定環(huán)節(jié)與量子科技產(chǎn)生間接但重要的聯(lián)系。量子芯片控制與讀出電路的測試需求目前實用化的量子處理器（如超導(dǎo)量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經(jīng)典控制電子學(xué)模塊——包括高速任意波形發(fā)生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數(shù)模/模數(shù)轉(zhuǎn)換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進(jìn)行功能與參數(shù)驗證。GT600配備的高精度AWG板卡（THD達(dá)-122dB）、24位混合信號測試能力及GT-TMUHA04時間測量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗證這類量子控制芯片的信號保真度、時序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統(tǒng)的穩(wěn)定運行。 常州導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)按需定制國磊GT600的SMU覆蓋從高壓IO（3.3V）到低電壓he心（0.6V~1.2V）的多種電源域，適配不同節(jié)點供電要求。

    高通道密度（512~2048數(shù)字通道）——適配復(fù)雜AISoC引腳規(guī)模，現(xiàn)代AI芯片引腳數(shù)常超2000（如集成HBM堆棧、多核NPU、多電源域），傳統(tǒng)測試設(shè)備通道不足。支持**多2048個數(shù)字通道，可一次性完成全引腳并行測試，避免分時復(fù)用導(dǎo)致的測試盲區(qū)。滿足寒武紀(jì)、壁仞、華為昇騰等國產(chǎn)AI芯片的高集成度測試需求，助力其快速進(jìn)入數(shù)據(jù)中心與邊緣計算市場。超大向量深度（**高128M/通道）——實現(xiàn)真實AI負(fù)載場景回放，AI推理/訓(xùn)練涉及復(fù)雜算法流（如Transformer、CNN），需長時間、高覆蓋率的功能驗證。128M向量存儲深度支持完整運行真實AI工作負(fù)載測試向量，捕獲邊界條件下的功能異?；蚬姆逯?。不僅驗證邏輯功能，更能模擬實際應(yīng)用場景，提升芯片可靠性，加速客戶產(chǎn)品上市周期。

杭州國磊GT600 SoC測試機(jī)憑借其面向AI芯片特性的高性能參數(shù)和靈活架構(gòu)，精細(xì)契合當(dāng)前人工智能產(chǎn)業(yè)爆發(fā)式發(fā)展的**需求。高測試速率（100/400 MHz）——支撐AI芯片高速接口驗證，AI芯片（如GPU、NPU、AI加速器）普遍集成HBM3/HBM3E、PCIe Gen5、SerDes等高速接口，數(shù)據(jù)傳輸速率高達(dá)數(shù)Gbps。400 MHz測試速率可完整覆蓋AI SoC中高速I/O的功能與時序驗證，確保在真實工作頻率下穩(wěn)定運行。隨著大模型訓(xùn)練對帶寬需求激增，國產(chǎn)AI芯片亟需高效驗證平臺，GT600成為打通“設(shè)計—驗證—量產(chǎn)”閉環(huán)的關(guān)鍵工具。實時電流監(jiān)測與快速數(shù)據(jù)采集，完整掌握電化學(xué)反應(yīng)過程。

    兼容探針臺與分選機(jī)，打通晶圓到封裝測試鏈路。智能駕駛芯片需經(jīng)歷晶圓測試（CP）與封裝測試（FT）雙重驗證。杭州國磊GT600支持GPIB、TTL等標(biāo)準(zhǔn)接口，可無縫對接主流探針臺與分選機(jī)設(shè)備，實現(xiàn)從裸片到成品的全流程自動化測試。尤其在高溫、低溫等車規(guī)級應(yīng)力測試條件下，杭州國磊GT600的小型化、低功耗設(shè)計有助于在溫控腔體內(nèi)穩(wěn)定運行，確保測試數(shù)據(jù)的一致性與可重復(fù)性，為芯片通過AEC-Q100認(rèn)證提供可靠數(shù)據(jù)支撐。國產(chǎn)**測試設(shè)備助力智能駕駛產(chǎn)業(yè)鏈自主可控在全球半導(dǎo)體供應(yīng)鏈緊張與技術(shù)封鎖背景下，國產(chǎn)高性能測試設(shè)備的戰(zhàn)略意義凸顯。杭州國磊GT600作為國內(nèi)少有的支持2048通道、400MHz速率的SoC測試機(jī)，已獲得行業(yè)專業(yè)客戶認(rèn)可，標(biāo)志著我國在**ATE領(lǐng)域取得突破。對于智能駕駛這一關(guān)乎國家交通安全與科技**的關(guān)鍵賽道，采用國磊GT600不僅可降低對國外測試設(shè)備的依賴，更能通過本地化技術(shù)支持快速響應(yīng)芯片廠商的定制需求，加速中國智能駕駛芯片生態(tài)的自主化與全球化進(jìn)程。 國磊GT600提供測試向量轉(zhuǎn)換工具，支持從傳統(tǒng)模擬測試平臺遷移測試程序，降低工程師學(xué)習(xí)成本與導(dǎo)入周期。珠海導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)按需定制

國磊GT600SoC測試機(jī)支持GT-AWGLP02任意波形發(fā)生器板卡，THD達(dá)-122dB，適用于HBMSerDes接收端靈敏度測試。珠海PCB測試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家

智能駕駛對高性能SoC芯片的依賴日益加深。隨著L2+至L4級自動駕駛技術(shù)的快速演進(jìn)，車載計算平臺對SoC（系統(tǒng)級芯片）的性能、可靠性與實時性提出了前所未有的高要求。這些SoC通常集成了CPU、GPU、NPU、ISP及**AI加速單元，用于處理多傳感器融合、路徑規(guī)劃與決策控制等復(fù)雜任務(wù)。然而，如此復(fù)雜的芯片架構(gòu)對測試環(huán)節(jié)構(gòu)成了巨大挑戰(zhàn)。杭州國磊GT600 SoC測試機(jī)憑借高達(dá)400 MHz的測試速率、512至2048個數(shù)字通道以及每通道高達(dá)128M的向量存儲深度，能夠高效覆蓋智能駕駛SoC在功能驗證階段所需的高并發(fā)、高精度測試場景，為芯片從設(shè)計到量產(chǎn)提供堅實保障。珠海PCB測試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家