北京自動化Mapping Inkless平臺

當封測廠同時部署ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設備時，每臺設備輸出的stdf、log、jdf、spd、csv等格式差異常導致數(shù)據(jù)接入困難。YMS內(nèi)置多協(xié)議解析引擎，可自動識別各類測試平臺的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)與接口協(xié)議，無需定制開發(fā)即可完成數(shù)據(jù)采集與格式轉(zhuǎn)換。系統(tǒng)同步執(zhí)行重復性檢測、缺失字段識別和異常值過濾，確保入庫數(shù)據(jù)準確完整。標準化數(shù)據(jù)庫對所有來源數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類存儲，為后續(xù)良率分析提供一致基礎。這種“即插即用”的兼容能力，明顯降低多設備環(huán)境下的集成復雜度與維護成本。上海偉諾信息科技有限公司基于半導體制造的實際設備生態(tài)，持續(xù)優(yōu)化YMS的適配廣度與穩(wěn)定性。SPAT模塊用于靜態(tài)參數(shù)偏離的篩查，固定測試限保障CP/FT環(huán)節(jié)穩(wěn)定性。北京自動化Mapping Inkless平臺

在晶圓制造過程中，制程偏差是導致良率損失的主要因素之一，其典型表現(xiàn)即為晶圓上Die的區(qū)域性集群失效。此類失效并非隨機分布，而是呈現(xiàn)出與特定制程弱點緊密相關(guān)的空間模式，例如由光刻熱點、CMP不均勻或熱應力集中所導致的失效環(huán)、邊緣帶或局部區(qū)塊。然而，一個更為隱蔽且嚴峻的挑戰(zhàn)在于，在這些完全失效的Die周圍，往往存在一個“受影響區(qū)”。該區(qū)域內(nèi)的Die雖然未發(fā)生catastrophicfailure，其內(nèi)部可能已產(chǎn)生參數(shù)漂移或輕微損傷，在常規(guī)的CP測試中，它們?nèi)阅軡M足規(guī)格下限而呈現(xiàn)出“Pass”的結(jié)果。這些潛在的“薄弱芯片”在初期測試中得以幸存，但其在后續(xù)封裝應力或終端應用的嚴苛環(huán)境下，早期失效的風險將明細高于正常芯片。為了將這類“過測”的潛在失效品精確識別并剔除，避免其流出至客戶端成為可靠性隱患，常規(guī)的良率分析已不足以應對。必須借助特定的空間識別算法，對晶圓測試圖譜進行深度處理。

上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能提供精確的算法能夠通過分析失效集群的空間分布與形態(tài)，智能地推斷出工藝影響的波及范圍，并據(jù)此將失效區(qū)周圍一定范圍內(nèi)的“PassDie”也定義為高風險單元并予以剔除。這一操作是構(gòu)建高可靠性產(chǎn)品質(zhì)量防線中至關(guān)重要的一環(huán)。 云南晶圓GDBC軟件客戶可復用Mapping Over Ink處理結(jié)果進行跨批次對比分析，優(yōu)化生產(chǎn)工藝。

半導體測試是半導體制造過程中質(zhì)量的一道關(guān)鍵防線，扮演著日益關(guān)鍵角色，單純依賴傳統(tǒng)電性測試的“通過/失敗”界限，已無法滿足對產(chǎn)品“零缺陷”的追求。為了大力提升測試覆蓋度，構(gòu)筑更為堅固的質(zhì)量防線，采用GDBN技術(shù)來識別并剔除那些位于“不良環(huán)境”中的高風險芯片，已成為車規(guī)、工規(guī)等類產(chǎn)品不可或缺的必要手段。

細化需求。

為此，上海偉諾信息科技有限公司為客戶提供了一套包含多重GDBN算法的綜合解決方案，該方案具備高度的靈活性與強大的適應性，能夠精確滿足半導體設計公司與CP測試廠對提升產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵訴求，成為客戶應對高質(zhì)量挑戰(zhàn)的可靠伙伴，共同構(gòu)筑面向未來的半導體質(zhì)量防線。

晶圓制造環(huán)節(jié)的良率波動直接影響整體產(chǎn)出效率，YMS系統(tǒng)通過全流程數(shù)據(jù)治理提供有力支撐。系統(tǒng)自動采集并解析來自主流測試設備的多源異構(gòu)數(shù)據(jù)，建立標準化數(shù)據(jù)庫，實現(xiàn)對晶圓批次、區(qū)域乃至單點良率的精細化監(jiān)控。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測試數(shù)據(jù)的變化趨勢，系統(tǒng)可快速鎖定影響良率的關(guān)鍵因素，指導工藝參數(shù)調(diào)優(yōu)。圖表化界面直觀展示良率熱力圖、趨勢曲線等關(guān)鍵指標，輔助工程師高效決策。同時，系統(tǒng)支持按模板生成周期性報告，并導出為常用辦公格式，滿足生產(chǎn)與管理雙重需求。上海偉諾信息科技有限公司以打造國產(chǎn)半導體軟件生態(tài)為使命，其YMS產(chǎn)品正持續(xù)助力制造企業(yè)邁向高質(zhì)量、高效率的發(fā)展新階段。Mapping Over Ink處理后的數(shù)據(jù)完整支持回溯為原始Probe格式，滿足客戶審計需求。

測試數(shù)據(jù)長期累積導致存儲空間迅速膨脹，而大量重復或無效記錄加劇資源浪費。YMS在數(shù)據(jù)入庫前自動清洗，剔除重復提交、通信錯誤產(chǎn)生的冗余信息，并將stdf、csv、txt等異構(gòu)格式統(tǒng)一壓縮存儲于標準化數(shù)據(jù)庫。集中式管理不僅提升磁盤利用率，還簡化備份與維護流程。企業(yè)無需為無效數(shù)據(jù)支付額外硬件成本，也降低了IT運維復雜度。這種“精簡有效”的存儲策略，在保障數(shù)據(jù)完整性的前提下實現(xiàn)資源優(yōu)化。上海偉諾信息科技有限公司將高效數(shù)據(jù)治理融入YMS設計，助力客戶在控制成本的同時構(gòu)建可持續(xù)的數(shù)據(jù)資產(chǎn)體系。Mapping Over Ink處理推動封測環(huán)節(jié)向預測性質(zhì)量演進，實現(xiàn)主動風險管理。上海自動化PAT

上海偉諾信息科技Mapping Bin 轉(zhuǎn)換功能，可以將Wafer Map上指定坐標的芯片進行Ink。北京自動化Mapping Inkless平臺

在高頻測試場景下，重復提交或設備通信中斷常導致數(shù)據(jù)冗余或缺失，直接影響良率計算準確性。YMS系統(tǒng)通過時間戳、測試編號、晶圓ID等關(guān)鍵字段自動掃描數(shù)據(jù)集，識別完全重復或部分重疊的記錄，并予以合并或剔除；同時檢測關(guān)鍵參數(shù)字段是否為空，快速定位缺失節(jié)點并提示修正。該機制嵌入數(shù)據(jù)清洗流程，與異常值過濾協(xié)同工作，確保進入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)集完整、干凈、無偏。例如，當某批次CP測試因機臺故障中斷后重跑，系統(tǒng)可自動識別并保留有效片段，避免重復計數(shù)拉低整體良率。這種自動化質(zhì)量控制大幅降低人工核查負擔，提升決策可靠性。上海偉諾信息科技有限公司將數(shù)據(jù)完整性視為YMS的關(guān)鍵能力之一，持續(xù)強化其在復雜生產(chǎn)環(huán)境中的魯棒性。北京自動化Mapping Inkless平臺

上海偉諾信息科技有限公司在同行業(yè)領(lǐng)域中，一直處在一個不斷銳意進取，不斷制造創(chuàng)新的市場高度，多年以來致力于發(fā)展富有創(chuàng)新價值理念的產(chǎn)品標準，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的商業(yè)口碑，成績讓我們喜悅，但不會讓我們止步，殘酷的市場磨煉了我們堅強不屈的意志，和諧溫馨的工作環(huán)境，富有營養(yǎng)的公司土壤滋養(yǎng)著我們不斷開拓創(chuàng)新，勇于進取的無限潛力，攜手大家一起走向共同輝煌的未來，回首過去，我們不會因為取得了一點點成績而沾沾自喜，相反的是面對競爭越來越激烈的市場氛圍，我們更要明確自己的不足，做好迎接新挑戰(zhàn)的準備，要不畏困難，激流勇進，以一個更嶄新的精神面貌迎接大家，共同走向輝煌回來！