云南半導(dǎo)體MappingOverInk處理系統(tǒng)定制

來源: 發(fā)布時(shí)間:2025-11-19

在半導(dǎo)體制造中,由于Fab制程的物理與化學(xué)特性,晶圓邊緣的芯片(Edge Die)其失效率明顯高于中心區(qū)域。這一現(xiàn)象主要源于幾個(gè)關(guān)鍵因素:首先,在光刻、刻蝕、薄膜沉積等工藝中,晶圓邊緣的反應(yīng)氣體流場、溫度場及壓力場分布不均,導(dǎo)致工藝一致性變差;其次,邊緣區(qū)域更容易出現(xiàn)厚度不均、殘留應(yīng)力集中等問題;此外,光刻膠在邊緣的涂覆均勻性也通常較差。這些因素共同導(dǎo)致邊緣芯片的電氣參數(shù)漂移、性能不穩(wěn)定乃至早期失效風(fēng)險(xiǎn)急劇升高。因此,在晶圓測試(CP)的制造流程中,對電性測試圖譜(Wafer Mapping)執(zhí)行“去邊”操作,便成為一項(xiàng)提升產(chǎn)品整體良率與可靠性的關(guān)鍵步驟。
上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能中的Margin Map功能提供多種算法與自定義圈數(shù),滿足客戶快速高效低剔除邊緣芯片,可以從根本上避免后續(xù)對這些潛在不良品進(jìn)行不必要的封裝和測試,從而直接節(jié)約成本,并確保出廠產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性要求。高價(jià)值芯片生產(chǎn)依賴Mapping Over Ink處理的精確剔除,保障關(guān)鍵器件可靠性。云南半導(dǎo)體MappingOverInk處理系統(tǒng)定制

云南半導(dǎo)體MappingOverInk處理系統(tǒng)定制,MappingOverInk處理

面對工廠級良率管理的復(fù)雜性,單一數(shù)據(jù)源或手工報(bào)表已難以支撐全局質(zhì)量洞察。YMS系統(tǒng)整合來自Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備的stdf、xls、log等測試數(shù)據(jù),通過自動(dòng)化清洗與異常過濾,構(gòu)建全廠統(tǒng)一的良率數(shù)據(jù)視圖。管理者可基于該視圖,從時(shí)間維度追蹤長期趨勢,或從空間維度比對不同機(jī)臺(tái)、批次間的性能差異,精確識別瓶頸環(huán)節(jié)。系統(tǒng)對WAT、CP、FT參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析,進(jìn)一步打通從前道到后道的質(zhì)量鏈路。SYL與SBL的自動(dòng)卡控機(jī)制,確保關(guān)鍵指標(biāo)始終處于受控狀態(tài)。靈活的報(bào)表導(dǎo)出功能,則滿足從車間班組長到高管的多層次信息需求。上海偉諾信息科技有限公司立足本土半導(dǎo)體發(fā)展需求,持續(xù)完善YMS系統(tǒng),推動(dòng)工廠實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的質(zhì)量躍升。廣西晶圓Mapping Inkless系統(tǒng)Mapping Over Ink處理通過空間分析有效識別外觀損傷引起的隱性失效,提升可靠性。

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在封測工廠的日常運(yùn)營中,良率波動(dòng)往往源于測試數(shù)據(jù)分散、格式不一或異常信息未被及時(shí)識別。YMS系統(tǒng)自動(dòng)對接ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺(tái),高效采集stdf、csv、log、txt等多種格式的原始測試數(shù)據(jù),并完成重復(fù)性檢測、缺失值識別與異常數(shù)據(jù)過濾,確保后續(xù)分析基于準(zhǔn)確、完整的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。通過標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫對數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類,系統(tǒng)支持從時(shí)間序列追蹤良率趨勢,或從晶圓區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?,快速定位工藝偏差。SYL與SBL參數(shù)的自動(dòng)計(jì)算與卡控機(jī)制,進(jìn)一步強(qiáng)化了質(zhì)量防線。靈活的報(bào)表工具可按模板生成日報(bào)、周報(bào)、月報(bào),并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF,滿足從產(chǎn)線到管理層的信息需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來,持續(xù)深耕半導(dǎo)體軟件領(lǐng)域,其YMS系統(tǒng)已成為封測企業(yè)實(shí)現(xiàn)質(zhì)量閉環(huán)管理的重要支撐。

晶圓級良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動(dòng)對接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等設(shè)備,實(shí)時(shí)匯聚原始測試結(jié)果并完成結(jié)構(gòu)化清洗,消除人工干預(yù)帶來的延遲與誤差。系統(tǒng)以圖表形式直觀呈現(xiàn)晶圓熱力圖,清晰展示邊緣、中心或象限區(qū)域的良率差異,輔助工程師判斷光刻、刻蝕或沉積環(huán)節(jié)的均勻性問題。當(dāng)某批次CP良率異常時(shí),可聯(lián)動(dòng)WAT參數(shù)變化追溯前道工藝漂移,實(shí)現(xiàn)從前端到后端的全鏈路追溯。多周期報(bào)表自動(dòng)生成并支持多格式導(dǎo)出,滿足從產(chǎn)線到高管的信息消費(fèi)習(xí)慣。這種深度可視化與智能關(guān)聯(lián)分析能力,使良率管理從經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)向數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導(dǎo)體制造流程的理解,將YMS打造為晶圓廠提質(zhì)增效的有效工具。UPLY處理針對特定層間關(guān)聯(lián)缺陷,通過垂直面算法判定單顆Die失效概率。

面對stdf、log、jdf等格式混雜的測試數(shù)據(jù)流,傳統(tǒng)手工轉(zhuǎn)換不僅耗時(shí),還易引入人為錯(cuò)誤。YMS系統(tǒng)采用智能解析與清洗技術(shù),自動(dòng)校驗(yàn)字段一致性,對缺失或錯(cuò)位字段進(jìn)行邏輯補(bǔ)全或標(biāo)記,確保每條記錄結(jié)構(gòu)完整。系統(tǒng)支持批量歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)入與實(shí)時(shí)測試流同步處理,無論數(shù)據(jù)來自ASL1000還是TR6850,均能統(tǒng)一轉(zhuǎn)化為可用于分析的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集。在此基礎(chǔ)上,異常值被自動(dòng)過濾,重復(fù)記錄被精確剔除,明顯提升數(shù)據(jù)可信度。這種端到端的自動(dòng)化處理機(jī)制,使工程師無需再耗費(fèi)數(shù)小時(shí)整理原始文件,而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際數(shù)據(jù)特征,構(gòu)建了這一高效可靠的數(shù)據(jù)預(yù)處理體系。Mapping Over Ink處理系統(tǒng)與MES、SPC平臺(tái)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)聯(lián)動(dòng),構(gòu)建智能化質(zhì)量管理閉環(huán)。北京自動(dòng)化GDBC

Mapping數(shù)據(jù)經(jīng)解析后與Bin信息精確對齊,確保測試結(jié)果可追溯。云南半導(dǎo)體MappingOverInk處理系統(tǒng)定制

測試數(shù)據(jù)長期累積導(dǎo)致存儲(chǔ)空間迅速膨脹,而大量重復(fù)或無效記錄加劇資源浪費(fèi)。YMS在數(shù)據(jù)入庫前自動(dòng)清洗,剔除重復(fù)提交、通信錯(cuò)誤產(chǎn)生的冗余信息,并將stdf、csv、txt等異構(gòu)格式統(tǒng)一壓縮存儲(chǔ)于標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫。集中式管理不僅提升磁盤利用率,還簡化備份與維護(hù)流程。企業(yè)無需為無效數(shù)據(jù)支付額外硬件成本,也降低了IT運(yùn)維復(fù)雜度。這種“精簡有效”的存儲(chǔ)策略,在保障數(shù)據(jù)完整性的前提下實(shí)現(xiàn)資源優(yōu)化。上海偉諾信息科技有限公司將高效數(shù)據(jù)治理融入YMS設(shè)計(jì),助力客戶在控制成本的同時(shí)構(gòu)建可持續(xù)的數(shù)據(jù)資產(chǎn)體系。云南半導(dǎo)體MappingOverInk處理系統(tǒng)定制

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