在智能制造轉(zhuǎn)型背景下,YMS已不僅是數(shù)據(jù)分析工具,更是連接測試與工藝優(yōu)化的中樞系統(tǒng)。系統(tǒng)實(shí)時(shí)匯聚來自ETS364、STS8107、93k等平臺(tái)的測試結(jié)果,自動(dòng)完成結(jié)構(gòu)化清洗與整合,消除信息孤島。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫支持動(dòng)態(tài)監(jiān)控良率變化,例如識別某機(jī)臺(tái)連續(xù)三批邊緣區(qū)域良率偏低,觸發(fā)設(shè)備校準(zhǔn)預(yù)警。SYL/SBL卡控功能則在指標(biāo)超限時(shí)自動(dòng)攔截異常批次,防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。報(bào)表引擎支持按產(chǎn)品線、客戶或班次生成定制化報(bào)告,適配不同管理層的信息需求。這種“采集—分析—干預(yù)—反饋”的閉環(huán)機(jī)制,明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應(yīng)速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命,持續(xù)完善YMS的集成能力。GDBC算法識別的聚類區(qū)域常指向設(shè)備或掩模問題,反饋工藝優(yōu)化方向。安徽自動(dòng)化PAT系統(tǒng)定制

在晶圓制造過程中,制程偏差是導(dǎo)致良率損失的主要因素之一,其典型表現(xiàn)即為晶圓上Die的區(qū)域性集群失效。此類失效并非隨機(jī)分布,而是呈現(xiàn)出與特定制程弱點(diǎn)緊密相關(guān)的空間模式,例如由光刻熱點(diǎn)、CMP不均勻或熱應(yīng)力集中所導(dǎo)致的失效環(huán)、邊緣帶或局部區(qū)塊。然而,一個(gè)更為隱蔽且嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)在于,在這些完全失效的Die周圍,往往存在一個(gè)“受影響區(qū)”。該區(qū)域內(nèi)的Die雖然未發(fā)生catastrophicfailure,其內(nèi)部可能已產(chǎn)生參數(shù)漂移或輕微損傷,在常規(guī)的CP測試中,它們?nèi)阅軡M足規(guī)格下限而呈現(xiàn)出“Pass”的結(jié)果。這些潛在的“薄弱芯片”在初期測試中得以幸存,但其在后續(xù)封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用的嚴(yán)苛環(huán)境下,早期失效的風(fēng)險(xiǎn)將明細(xì)高于正常芯片。為了將這類“過測”的潛在失效品精確識別并剔除,避免其流出至客戶端成為可靠性隱患,常規(guī)的良率分析已不足以應(yīng)對。必須借助特定的空間識別算法,對晶圓測試圖譜進(jìn)行深度處理。
上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能提供精確的算法能夠通過分析失效集群的空間分布與形態(tài),智能地推斷出工藝影響的波及范圍,并據(jù)此將失效區(qū)周圍一定范圍內(nèi)的“PassDie”也定義為高風(fēng)險(xiǎn)單元并予以剔除。這一操作是構(gòu)建高可靠性產(chǎn)品質(zhì)量防線中至關(guān)重要的一環(huán)。 江蘇GDBC系統(tǒng)價(jià)格上海偉諾信息科技DPAT功能,通過結(jié)合測試數(shù)據(jù)去除超出規(guī)范的芯片并生成新的Mapping。

晶圓級良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動(dòng)對接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等設(shè)備,實(shí)時(shí)匯聚原始測試結(jié)果并完成結(jié)構(gòu)化清洗,消除人工干預(yù)帶來的延遲與誤差。系統(tǒng)以圖表形式直觀呈現(xiàn)晶圓熱力圖,清晰展示邊緣、中心或象限區(qū)域的良率差異,輔助工程師判斷光刻、刻蝕或沉積環(huán)節(jié)的均勻性問題。當(dāng)某批次CP良率異常時(shí),可聯(lián)動(dòng)WAT參數(shù)變化追溯前道工藝漂移,實(shí)現(xiàn)從前端到后端的全鏈路追溯。多周期報(bào)表自動(dòng)生成并支持多格式導(dǎo)出,滿足從產(chǎn)線到高管的信息消費(fèi)習(xí)慣。這種深度可視化與智能關(guān)聯(lián)分析能力,使良率管理從經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)向數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導(dǎo)體制造流程的理解,將YMS打造為晶圓廠提質(zhì)增效的有效工具。
因測試數(shù)據(jù)錯(cuò)誤導(dǎo)致誤判良率,可能引發(fā)不必要的重測或錯(cuò)誤工藝調(diào)整,造成材料與時(shí)間雙重浪費(fèi)。YMS在數(shù)據(jù)入庫前執(zhí)行多層校驗(yàn),自動(dòng)剔除異常記錄,確保進(jìn)入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)真實(shí)反映產(chǎn)品狀態(tài)。例如,當(dāng)某晶圓因通信中斷產(chǎn)生部分缺失數(shù)據(jù)時(shí),系統(tǒng)會(huì)標(biāo)記該記錄而非直接納入統(tǒng)計(jì),避免拉低整體良率。結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)的交叉驗(yàn)證,進(jìn)一步排除孤立異常點(diǎn)。高質(zhì)量數(shù)據(jù)輸入使質(zhì)量決策建立在可靠基礎(chǔ)上,明顯降低返工率和報(bào)廢風(fēng)險(xiǎn)。這種前置質(zhì)量控制機(jī)制,將成本節(jié)約從“事后補(bǔ)救”轉(zhuǎn)向“事前預(yù)防”。上海偉諾信息科技有限公司通過嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臄?shù)據(jù)治理邏輯,保障YMS輸出結(jié)果的科學(xué)性與可執(zhí)行性。Mapping Over Ink處理支持txt與原始Probe格式雙向轉(zhuǎn)換,滿足多樣化數(shù)據(jù)需求。
良率管理系統(tǒng)的價(jià)值不僅在于技術(shù)實(shí)現(xiàn),更在于對半導(dǎo)體企業(yè)關(guān)鍵痛點(diǎn)的精確回應(yīng)。當(dāng)設(shè)計(jì)公司或制造工廠面臨測試數(shù)據(jù)分散、格式混亂、分析滯后等問題時(shí),YMS系統(tǒng)通過對接ETS364、SineTest、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備,自動(dòng)完成從數(shù)據(jù)采集到異常過濾的全流程治理。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫為多維度分析奠定基礎(chǔ),使時(shí)間趨勢、區(qū)域?qū)Ρ?、參?shù)關(guān)聯(lián)等洞察成為可能。例如,通過對比同一晶圓邊緣與中心區(qū)域的良率差異,可判斷光刻或刻蝕工藝的均勻性問題;結(jié)合FT與CP數(shù)據(jù)偏差,可追溯封裝環(huán)節(jié)的潛在風(fēng)險(xiǎn)。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算功能,則為良率目標(biāo)達(dá)成提供量化依據(jù)。報(bào)表系統(tǒng)支持靈活配置與多格式導(dǎo)出,明顯降低管理溝通成本。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本,以質(zhì)取勝”為準(zhǔn)則,推動(dòng)YMS成為國產(chǎn)半導(dǎo)體提質(zhì)增效的可靠伙伴。Mapping Over Ink處理的異常Die剔除決策具備完整數(shù)據(jù)留痕,確保處理過程透明可審計(jì)。四川晶圓MappingOverInk處理軟件
Mapping數(shù)據(jù)經(jīng)解析后與Bin信息精確對齊,確保測試結(jié)果可追溯。安徽自動(dòng)化PAT系統(tǒng)定制
測試數(shù)據(jù)長期累積導(dǎo)致存儲(chǔ)空間迅速膨脹,而大量重復(fù)或無效記錄加劇資源浪費(fèi)。YMS在數(shù)據(jù)入庫前自動(dòng)清洗,剔除重復(fù)提交、通信錯(cuò)誤產(chǎn)生的冗余信息,并將stdf、csv、txt等異構(gòu)格式統(tǒng)一壓縮存儲(chǔ)于標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫。集中式管理不僅提升磁盤利用率,還簡化備份與維護(hù)流程。企業(yè)無需為無效數(shù)據(jù)支付額外硬件成本,也降低了IT運(yùn)維復(fù)雜度。這種“精簡有效”的存儲(chǔ)策略,在保障數(shù)據(jù)完整性的前提下實(shí)現(xiàn)資源優(yōu)化。上海偉諾信息科技有限公司將高效數(shù)據(jù)治理融入YMS設(shè)計(jì),助力客戶在控制成本的同時(shí)構(gòu)建可持續(xù)的數(shù)據(jù)資產(chǎn)體系。安徽自動(dòng)化PAT系統(tǒng)定制
上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進(jìn)的發(fā)展理念,先進(jìn)的管理經(jīng)驗(yàn),在發(fā)展過程中不斷完善自己,要求自己,不斷創(chuàng)新,時(shí)刻準(zhǔn)備著迎接更多挑戰(zhàn)的活力公司,在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**,在業(yè)界也收獲了很多良好的評價(jià),這些都源自于自身的努力和大家共同進(jìn)步的結(jié)果,這些評價(jià)對我們而言是比較好的前進(jìn)動(dòng)力,也促使我們在以后的道路上保持奮發(fā)圖強(qiáng)、一往無前的進(jìn)取創(chuàng)新精神,努力把公司發(fā)展戰(zhàn)略推向一個(gè)新高度,在全體員工共同努力之下,全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來,創(chuàng)造更有價(jià)值的產(chǎn)品,我們將以更好的狀態(tài),更認(rèn)真的態(tài)度,更飽滿的精力去創(chuàng)造,去拼搏,去努力,讓我們一起更好更快的成長!