青海半導(dǎo)體Mapping Inkless系統(tǒng)

為滿足日益嚴(yán)苛的車(chē)規(guī)與工規(guī)質(zhì)量要求，在晶圓測(cè)試階段引入三溫乃至多溫測(cè)試，已成為篩選高可靠性芯片的標(biāo)準(zhǔn)流程。這一測(cè)試旨在模擬芯片在極端環(huán)境下的工作狀態(tài)，通過(guò)高溫、常溫、低溫下的全面性能評(píng)估，有效剔除對(duì)環(huán)境敏感、性能不穩(wěn)定的潛在缺陷品，從而大幅提升產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。因此，如何在海量的多溫測(cè)試數(shù)據(jù)中識(shí)別并剔除這些因溫度敏感性過(guò)高而存在潛在風(fēng)險(xiǎn)的芯片，已成為業(yè)內(nèi)高度關(guān)注并致力解決的關(guān)鍵課題。

為應(yīng)對(duì)車(chē)規(guī)、工規(guī)產(chǎn)品在多溫測(cè)試中面臨的參數(shù)漂移挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司憑借其深厚的技術(shù)積累，開(kāi)發(fā)了一套專(zhuān)門(mén)用于多溫Drift分析的智能化處理方案。該方案的關(guān)鍵在于，超越傳統(tǒng)的、在各個(gè)溫度點(diǎn)進(jìn)行孤立判定的測(cè)試模式，轉(zhuǎn)而通過(guò)對(duì)同一芯片在不同溫度下的參數(shù)表現(xiàn)進(jìn)行動(dòng)態(tài)追蹤與關(guān)聯(lián)性分析，從而精確識(shí)別并剔除那些對(duì)環(huán)境過(guò)度敏感、性能不穩(wěn)定的潛在缺陷品。 上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，可以將測(cè)試后處理的芯片做降檔處理，降低測(cè)試Cost。青海半導(dǎo)體Mapping Inkless系統(tǒng)

為提升晶圓測(cè)試（CP測(cè)試）的質(zhì)量與可靠性，行業(yè)的關(guān)注點(diǎn)已從單一的電性性能測(cè)試，擴(kuò)展到電性與物理外觀并重的綜合質(zhì)量評(píng)估。因此，越來(lái)越多的公司在CP測(cè)試環(huán)節(jié)中，引入外觀檢測(cè)設(shè)備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對(duì)晶圓上每個(gè)Die的表面進(jìn)行高精度、自動(dòng)化的掃描與檢測(cè)，以識(shí)別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價(jià)值在于，它彌補(bǔ)了傳統(tǒng)電性測(cè)試的盲區(qū)。一顆芯片可能電性參數(shù)測(cè)試“通過(guò)”，但其物理結(jié)構(gòu)已存在潛在損傷。這類(lèi)“帶傷”的芯片在后續(xù)的封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用中有極高早期失效的風(fēng)險(xiǎn)，是產(chǎn)品可靠性的重大隱患。通過(guò)AOI檢測(cè)，可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專(zhuān)業(yè)的AOI與Probe Mapping堆疊方案，解決兩大關(guān)鍵問(wèn)題：一是通過(guò)數(shù)據(jù)融合，篩除外觀與電性的全部不良品，生成高可靠性的合一Mapping；二是具備優(yōu)異的兼容性，可將合并后的Mapping直接轉(zhuǎn)換為各類(lèi)探針臺(tái)（如TSK、TEL、UF3000等）可識(shí)別的格式，實(shí)現(xiàn)從質(zhì)量判定到生產(chǎn)執(zhí)行的自動(dòng)化，有效提升品質(zhì)與效率。青海半導(dǎo)體Mapping Inkless系統(tǒng)AECQ合規(guī)性?xún)?nèi)嵌于Mapping Over Ink處理的算法判定邏輯中，確保車(chē)規(guī)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格執(zhí)行。

測(cè)試數(shù)據(jù)長(zhǎng)期累積導(dǎo)致存儲(chǔ)空間迅速膨脹，而大量重復(fù)或無(wú)效記錄加劇資源浪費(fèi)。YMS在數(shù)據(jù)入庫(kù)前自動(dòng)清洗，剔除重復(fù)提交、通信錯(cuò)誤產(chǎn)生的冗余信息，并將stdf、csv、txt等異構(gòu)格式統(tǒng)一壓縮存儲(chǔ)于標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)。集中式管理不僅提升磁盤(pán)利用率，還簡(jiǎn)化備份與維護(hù)流程。企業(yè)無(wú)需為無(wú)效數(shù)據(jù)支付額外硬件成本，也降低了IT運(yùn)維復(fù)雜度。這種“精簡(jiǎn)有效”的存儲(chǔ)策略，在保障數(shù)據(jù)完整性的前提下實(shí)現(xiàn)資源優(yōu)化。上海偉諾信息科技有限公司將高效數(shù)據(jù)治理融入YMS設(shè)計(jì)，助力客戶(hù)在控制成本的同時(shí)構(gòu)建可持續(xù)的數(shù)據(jù)資產(chǎn)體系。

在半導(dǎo)體設(shè)計(jì)與制造流程中，良率管理系統(tǒng)的價(jià)值體現(xiàn)在對(duì)復(fù)雜測(cè)試數(shù)據(jù)的高效整合與深度挖掘。系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)接多種測(cè)試設(shè)備輸出的異構(gòu)數(shù)據(jù)，完成清洗、去重與結(jié)構(gòu)化處理，構(gòu)建可靠的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。通過(guò)對(duì)WAT、CP、FT等關(guān)鍵工藝節(jié)點(diǎn)參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析，系統(tǒng)能夠揭示潛在的工藝偏差或設(shè)計(jì)缺陷，為研發(fā)和制造團(tuán)隊(duì)提供可執(zhí)行的優(yōu)化建議。多維度圖表直觀呈現(xiàn)良率波動(dòng)與缺陷分布，支持從批次到晶圓級(jí)別的精細(xì)追溯。報(bào)表功能滿足不同管理層級(jí)對(duì)數(shù)據(jù)呈現(xiàn)的多樣化需求，實(shí)現(xiàn)從現(xiàn)場(chǎng)到?jīng)Q策層的信息貫通。上海偉諾信息科技有限公司立足“以信為本，以質(zhì)取勝”的理念，持續(xù)打磨YMS產(chǎn)品，推動(dòng)國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)建設(shè)。Mapping Over Ink處理強(qiáng)化封測(cè)環(huán)節(jié)質(zhì)量防線，攔截潛在失效風(fēng)險(xiǎn)Die。

晶圓制造環(huán)節(jié)的良率波動(dòng)直接影響整體產(chǎn)出效率，YMS系統(tǒng)通過(guò)全流程數(shù)據(jù)治理提供有力支撐。系統(tǒng)自動(dòng)采集并解析來(lái)自主流測(cè)試設(shè)備的多源異構(gòu)數(shù)據(jù)，建立標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)晶圓批次、區(qū)域乃至單點(diǎn)良率的精細(xì)化監(jiān)控。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測(cè)試數(shù)據(jù)的變化趨勢(shì)，系統(tǒng)可快速鎖定影響良率的關(guān)鍵因素，指導(dǎo)工藝參數(shù)調(diào)優(yōu)。圖表化界面直觀展示良率熱力圖、趨勢(shì)曲線等關(guān)鍵指標(biāo)，輔助工程師高效決策。同時(shí)，系統(tǒng)支持按模板生成周期性報(bào)告，并導(dǎo)出為常用辦公格式，滿足生產(chǎn)與管理雙重需求。上海偉諾信息科技有限公司以打造國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，其YMS產(chǎn)品正持續(xù)助力制造企業(yè)邁向高質(zhì)量、高效率的發(fā)展新階段。PAT模塊與GDBC算法協(xié)同區(qū)分隨機(jī)噪聲與系統(tǒng)性缺陷，提升篩選精確度。北京自動(dòng)化PAT

Cluster方法有效定位區(qū)域性異常Die，通過(guò)相鄰關(guān)聯(lián)性分析識(shí)別連續(xù)性失效。青海半導(dǎo)體Mapping Inkless系統(tǒng)

在晶圓制造過(guò)程中，制程偏差是導(dǎo)致良率損失的主要因素之一，其典型表現(xiàn)即為晶圓上Die的區(qū)域性集群失效。此類(lèi)失效并非隨機(jī)分布，而是呈現(xiàn)出與特定制程弱點(diǎn)緊密相關(guān)的空間模式，例如由光刻熱點(diǎn)、CMP不均勻或熱應(yīng)力集中所導(dǎo)致的失效環(huán)、邊緣帶或局部區(qū)塊。然而，一個(gè)更為隱蔽且嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)在于，在這些完全失效的Die周?chē)嬖谝粋€(gè)“受影響區(qū)”。該區(qū)域內(nèi)的Die雖然未發(fā)生catastrophicfailure，其內(nèi)部可能已產(chǎn)生參數(shù)漂移或輕微損傷，在常規(guī)的CP測(cè)試中，它們?nèi)阅軡M足規(guī)格下限而呈現(xiàn)出“Pass”的結(jié)果。這些潛在的“薄弱芯片”在初期測(cè)試中得以幸存，但其在后續(xù)封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用的嚴(yán)苛環(huán)境下，早期失效的風(fēng)險(xiǎn)將明細(xì)高于正常芯片。為了將這類(lèi)“過(guò)測(cè)”的潛在失效品精確識(shí)別并剔除，避免其流出至客戶(hù)端成為可靠性隱患，常規(guī)的良率分析已不足以應(yīng)對(duì)。必須借助特定的空間識(shí)別算法，對(duì)晶圓測(cè)試圖譜進(jìn)行深度處理。

上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能提供精確的算法能夠通過(guò)分析失效集群的空間分布與形態(tài)，智能地推斷出工藝影響的波及范圍，并據(jù)此將失效區(qū)周?chē)欢ǚ秶鷥?nèi)的“PassDie”也定義為高風(fēng)險(xiǎn)單元并予以剔除。這一操作是構(gòu)建高可靠性產(chǎn)品質(zhì)量防線中至關(guān)重要的一環(huán)。 青海半導(dǎo)體Mapping Inkless系統(tǒng)

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實(shí)力背景、信譽(yù)可靠、勵(lì)精圖治、展望未來(lái)、有夢(mèng)想有目標(biāo)，有組織有體系的公司，堅(jiān)持于帶領(lǐng)員工在未來(lái)的道路上大放光明，攜手共畫(huà)藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠(chéng)的客戶(hù)粉絲源，也收獲了良好的用戶(hù)口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ)，也希望未來(lái)公司能成為*****，努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻(xiàn)出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強(qiáng)不息，斗志昂揚(yáng)的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績(jī)，一直以來(lái)，公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠(chéng)實(shí)守信的方針，員工精誠(chéng)努力，協(xié)同奮取，以品質(zhì)、服務(wù)來(lái)贏得市場(chǎng)，我們一直在路上！