遼寧可視化Mapping Inkless平臺(tái)

晶圓級(jí)良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動(dòng)對(duì)接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等設(shè)備，實(shí)時(shí)匯聚原始測試結(jié)果并完成結(jié)構(gòu)化清洗，消除人工干預(yù)帶來的延遲與誤差。系統(tǒng)以圖表形式直觀呈現(xiàn)晶圓熱力圖，清晰展示邊緣、中心或象限區(qū)域的良率差異，輔助工程師判斷光刻、刻蝕或沉積環(huán)節(jié)的均勻性問題。當(dāng)某批次CP良率異常時(shí)，可聯(lián)動(dòng)WAT參數(shù)變化追溯前道工藝漂移，實(shí)現(xiàn)從前端到后端的全鏈路追溯。多周期報(bào)表自動(dòng)生成并支持多格式導(dǎo)出，滿足從產(chǎn)線到高管的信息消費(fèi)習(xí)慣。這種深度可視化與智能關(guān)聯(lián)分析能力，使良率管理從經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)向數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)。上海偉諾信息科技有限公司憑借對(duì)半導(dǎo)體制造流程的理解，將YMS打造為晶圓廠提質(zhì)增效的有效工具。上海偉諾信息科技mapping去邊功能，采用靈活配置的方式幫助用戶剔除Mapping邊緣潛在質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)芯片。遼寧可視化Mapping Inkless平臺(tái)

當(dāng)測試工程師面對(duì)來自ETS88、J750、93k等多臺(tái)設(shè)備輸出的stdf、log、jdf等格式混雜的原始數(shù)據(jù)時(shí)，傳統(tǒng)人工清洗往往需耗費(fèi)數(shù)小時(shí)核對(duì)字段、剔除重復(fù)記錄。YMS系統(tǒng)通過自動(dòng)解析引擎識(shí)別各類數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，檢測重復(fù)性與缺失性，并過濾異常值，將清洗過程壓縮至分鐘級(jí)。清洗后的數(shù)據(jù)統(tǒng)一歸入標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，確保后續(xù)分析基于一致、干凈的數(shù)據(jù)源。工程師不再陷于繁瑣整理，而是聚焦于缺陷模式識(shí)別與工藝優(yōu)化建議。這種自動(dòng)化處理不僅提升效率，更消除人為疏漏帶來的分析偏差。上海偉諾信息科技有限公司將數(shù)據(jù)清洗作為YMS的基礎(chǔ)能力，支撐客戶實(shí)現(xiàn)高效、可靠的良率管理。四川晶圓Mapping Inkless平臺(tái)Mapping Over Ink處理技術(shù)適用于消費(fèi)類至車規(guī)級(jí)全品類芯片，覆蓋廣泛應(yīng)用場景。

標(biāo)準(zhǔn)化良率管理系統(tǒng)難以覆蓋不同企業(yè)的工藝路徑與管理重點(diǎn)，定制化成為提升系統(tǒng)價(jià)值的關(guān)鍵路徑。YMS支持根據(jù)客戶實(shí)際使用的測試平臺(tái)組合、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)及分析維度進(jìn)行功能適配，例如針對(duì)特定封裝流程優(yōu)化缺陷分類邏輯，或?yàn)楦哳l監(jiān)控場景開發(fā)專屬看板。系統(tǒng)底層架構(gòu)保持統(tǒng)一，上層應(yīng)用則靈活可調(diào)，既保障數(shù)據(jù)治理規(guī)范性，又滿足業(yè)務(wù)個(gè)性化需求。定制內(nèi)容包括但不限于報(bào)表模板、卡控閾值、導(dǎo)出格式及用戶權(quán)限體系，確保系統(tǒng)與現(xiàn)有工作流無縫融合。通過前期深度調(diào)研與迭代式交付，定制方案能精確匹配客戶在良率提升、異常預(yù)警或合規(guī)追溯等方面的目標(biāo)。上海偉諾信息科技有限公司將定制服務(wù)視為價(jià)值共創(chuàng)過程，以技術(shù)靈活性支撐客戶業(yè)務(wù)獨(dú)特性。

國產(chǎn)良率管理系統(tǒng)的價(jià)值在于將碎片化測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為可執(zhí)行的工藝洞察。YMS系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)接ASL1000、SineTest、MS7000、CTA8280、T861、Juno、AMIDA等主流設(shè)備，處理十余種格式原始數(shù)據(jù)，確保從晶圓到芯片級(jí)的數(shù)據(jù)鏈完整可靠。系統(tǒng)不僅清洗異常記錄，還通過圖表直觀展示良率在不同時(shí)間段或晶圓象限的差異。這有助于工程師判斷是否為光刻對(duì)準(zhǔn)偏差或刻蝕不均所致。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)聯(lián)動(dòng)分析，可區(qū)分設(shè)計(jì)缺陷與制造變異，縮短問題排查周期。這種從“看見異?！钡健袄斫飧颉钡哪芰?，推動(dòng)質(zhì)量改進(jìn)從被動(dòng)響應(yīng)轉(zhuǎn)向主動(dòng)預(yù)防。上海偉諾信息科技有限公司憑借對(duì)半導(dǎo)體制造流程的深入理解，推動(dòng)YMS成為國產(chǎn)替代的關(guān)鍵支撐。UPLY處理針對(duì)特定層間關(guān)聯(lián)缺陷，通過垂直面算法判定單顆Die失效概率。

晶圓邊緣區(qū)域良率持續(xù)偏低卻難以定位原因，是工藝工程師常見的痛點(diǎn)。YMS系統(tǒng)在完成stdf、log等原始數(shù)據(jù)清洗后，依據(jù)晶圓空間坐標(biāo)對(duì)缺陷進(jìn)行分類，生成色彩漸變的熱力圖，直觀呈現(xiàn)中心、過渡區(qū)與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對(duì)比不同批次在同一區(qū)域的表現(xiàn)，識(shí)別是否為光刻對(duì)焦偏差或刻蝕均勻性問題所致。疊加時(shí)間維度后，還能判斷該現(xiàn)象是偶發(fā)異常還是系統(tǒng)性漂移。這種空間+時(shí)間的雙維分析，使優(yōu)化措施從“整體調(diào)整”轉(zhuǎn)向“精確干預(yù)”，明顯提升工藝調(diào)試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際需求，將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。Mapping Over Ink處理算法模型覆蓋連續(xù)性、孤立型等多種失效模式，提升識(shí)別全面性。青海晶圓Mapping Inkless解決方案

Mapping Over Ink處理通過失效分布圖譜直觀暴露制造流程異常，指導(dǎo)工藝改進(jìn)方向。遼寧可視化Mapping Inkless平臺(tái)

測試數(shù)據(jù)長期累積導(dǎo)致存儲(chǔ)空間迅速膨脹，而大量重復(fù)或無效記錄加劇資源浪費(fèi)。YMS在數(shù)據(jù)入庫前自動(dòng)清洗，剔除重復(fù)提交、通信錯(cuò)誤產(chǎn)生的冗余信息，并將stdf、csv、txt等異構(gòu)格式統(tǒng)一壓縮存儲(chǔ)于標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫。集中式管理不僅提升磁盤利用率，還簡化備份與維護(hù)流程。企業(yè)無需為無效數(shù)據(jù)支付額外硬件成本，也降低了IT運(yùn)維復(fù)雜度。這種“精簡有效”的存儲(chǔ)策略，在保障數(shù)據(jù)完整性的前提下實(shí)現(xiàn)資源優(yōu)化。上海偉諾信息科技有限公司將高效數(shù)據(jù)治理融入YMS設(shè)計(jì)，助力客戶在控制成本的同時(shí)構(gòu)建可持續(xù)的數(shù)據(jù)資產(chǎn)體系。遼寧可視化Mapping Inkless平臺(tái)

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實(shí)力背景、信譽(yù)可靠、勵(lì)精圖治、展望未來、有夢想有目標(biāo)，有組織有體系的公司，堅(jiān)持于帶領(lǐng)員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ)，也希望未來公司能成為*****，努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻(xiàn)出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強(qiáng)不息，斗志昂揚(yáng)的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績，一直以來，公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠實(shí)守信的方針，員工精誠努力，協(xié)同奮取，以品質(zhì)、服務(wù)來贏得市場，我們一直在路上！