寧夏半導(dǎo)體Mapping Inkless系統(tǒng)

在半導(dǎo)體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動(dòng)，都可能引起良率與可靠性的風(fēng)險(xiǎn)。其中，一個(gè)尤為典型的系統(tǒng)性失效模式，便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle（光罩）。當(dāng)Reticle本身存在污染、劃傷或設(shè)計(jì)瑕疵時(shí)，或當(dāng)光刻機(jī)在步進(jìn)重復(fù)曝光過(guò)程中出現(xiàn)參數(shù)漂移（如焦距不準(zhǔn)、曝光能量不均）時(shí)。這些因Reticle問(wèn)題而產(chǎn)生的特定區(qū)域內(nèi)的芯片，實(shí)質(zhì)上構(gòu)成了一個(gè)高風(fēng)險(xiǎn)的“潛伏失效群體”。若不能在測(cè)試階段被精確識(shí)別并剔除，將直接流向客戶(hù)端，對(duì)產(chǎn)品的長(zhǎng)期可靠性與品牌聲譽(yù)構(gòu)成嚴(yán)重威脅。識(shí)別并處理這類(lèi)與Reticle強(qiáng)相關(guān)的潛在缺陷，是現(xiàn)代高可靠性質(zhì)量管理中一項(xiàng)極具挑戰(zhàn)性的關(guān)鍵任務(wù)。

上海偉諾信息科技有限公司在Mapping Over Ink功能中提供了一個(gè)Shot Mapping Ink方案，可以將整個(gè)Mapping按Reticle大小或是自定義大小的方格，根據(jù)設(shè)定的算法將整個(gè)Shot進(jìn)行Ink, 從而去除掉因光刻環(huán)節(jié)的Reticle引起的潛在性失效芯片。通過(guò)Shot Mapping Ink方案，用戶(hù)能夠?qū)①|(zhì)量管控的關(guān)口從“篩查單個(gè)失效芯片”前移至“攔截整個(gè)失效風(fēng)險(xiǎn)區(qū)域”。這尤其適用于對(duì)可靠性要求極嚴(yán)苛的車(chē)規(guī)、工規(guī)等產(chǎn)品，它能極大程度地降低因光刻制程偶發(fā)問(wèn)題導(dǎo)致的批次性可靠性風(fēng)險(xiǎn)，為客戶(hù)構(gòu)建起一道應(yīng)對(duì)系統(tǒng)性缺陷的堅(jiān)固防線(xiàn)。 Mapping Over Ink處理通過(guò)空間分析有效識(shí)別外觀損傷引起的隱性失效，提升可靠性。寧夏半導(dǎo)體Mapping Inkless系統(tǒng)

當(dāng)封測(cè)廠同時(shí)運(yùn)行ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設(shè)備時(shí)，不同平臺(tái)輸出的stdf、csv、log、jdf、spd、txt等格式數(shù)據(jù)往往難以統(tǒng)一處理。YMS系統(tǒng)通過(guò)內(nèi)置的多協(xié)議解析引擎，自動(dòng)識(shí)別并適配各類(lèi)測(cè)試平臺(tái)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，將異構(gòu)原始數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為標(biāo)準(zhǔn)化內(nèi)部格式，消除因設(shè)備差異導(dǎo)致的信息割裂。模塊化接口設(shè)計(jì)確保新增設(shè)備可快速接入，無(wú)需重構(gòu)系統(tǒng)架構(gòu)。這種“即插即用”的兼容能力，使企業(yè)能集中管理全產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)，避免為不同平臺(tái)維護(hù)多套分析流程。數(shù)據(jù)采集的穩(wěn)定性與實(shí)時(shí)性由此得到保障，為后續(xù)良率分析奠定一致基礎(chǔ)。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來(lái)，持續(xù)優(yōu)化YMS的平臺(tái)兼容性，支撐客戶(hù)在復(fù)雜設(shè)備環(huán)境中實(shí)現(xiàn)高效數(shù)據(jù)治理。重慶晶圓PAT工具上海偉諾信息科技ZPAT功能，通過(guò)堆疊Mapping及不同算法幫助用戶(hù)剔除潛在質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)的芯片。

在智能制造轉(zhuǎn)型背景下，YMS已不僅是數(shù)據(jù)分析工具，更是連接測(cè)試與工藝優(yōu)化的中樞系統(tǒng)。系統(tǒng)實(shí)時(shí)匯聚來(lái)自ETS364、STS8107、93k等平臺(tái)的測(cè)試結(jié)果，自動(dòng)完成結(jié)構(gòu)化清洗與整合，消除信息孤島。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)支持動(dòng)態(tài)監(jiān)控良率變化，例如識(shí)別某機(jī)臺(tái)連續(xù)三批邊緣區(qū)域良率偏低，觸發(fā)設(shè)備校準(zhǔn)預(yù)警。SYL/SBL卡控功能則在指標(biāo)超限時(shí)自動(dòng)攔截異常批次，防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。報(bào)表引擎支持按產(chǎn)品線(xiàn)、客戶(hù)或班次生成定制化報(bào)告，適配不同管理層的信息需求。這種“采集—分析—干預(yù)—反饋”的閉環(huán)機(jī)制，明顯提升了生產(chǎn)過(guò)程的可控性與響應(yīng)速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國(guó)半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，持續(xù)完善YMS的集成能力。

晶圓級(jí)良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測(cè)試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動(dòng)對(duì)接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等設(shè)備，實(shí)時(shí)匯聚原始測(cè)試結(jié)果并完成結(jié)構(gòu)化清洗，消除人工干預(yù)帶來(lái)的延遲與誤差。系統(tǒng)以圖表形式直觀呈現(xiàn)晶圓熱力圖，清晰展示邊緣、中心或象限區(qū)域的良率差異，輔助工程師判斷光刻、刻蝕或沉積環(huán)節(jié)的均勻性問(wèn)題。當(dāng)某批次CP良率異常時(shí)，可聯(lián)動(dòng)WAT參數(shù)變化追溯前道工藝漂移，實(shí)現(xiàn)從前端到后端的全鏈路追溯。多周期報(bào)表自動(dòng)生成并支持多格式導(dǎo)出，滿(mǎn)足從產(chǎn)線(xiàn)到高管的信息消費(fèi)習(xí)慣。這種深度可視化與智能關(guān)聯(lián)分析能力，使良率管理從經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)向數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)。上海偉諾信息科技有限公司憑借對(duì)半導(dǎo)體制造流程的理解，將YMS打造為晶圓廠提質(zhì)增效的有效工具。DPAT模塊動(dòng)態(tài)調(diào)整閾值以適應(yīng)批次差異，分場(chǎng)景優(yōu)化測(cè)試限設(shè)定。

在半導(dǎo)體制造的后段工藝流程中，對(duì)晶圓測(cè)試（CP）階段生成的Mapping圖進(jìn)行PAT（Part Average Testing）處理，已成為一項(xiàng)常規(guī)且至關(guān)重要的質(zhì)量管控手段。該技術(shù)的價(jià)值在于運(yùn)用統(tǒng)計(jì)方法，識(shí)別并剔除那些雖未超出規(guī)格界限但表現(xiàn)異常的“潛在缺陷”芯片，從而在封裝前有效提升產(chǎn)品的良率與可靠性。上海偉諾信息科技有限公司的Mapping Over Ink處理方案，正是這一先進(jìn)質(zhì)量理念的踐行者。該方案嚴(yán)格遵循AEC-Q100等車(chē)規(guī)級(jí)認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，不僅提供標(biāo)準(zhǔn)PAT功能，更針對(duì)高可靠性應(yīng)用的嚴(yán)苛要求，內(nèi)置了SPAT與DPAT等處理模式。通過(guò)對(duì)測(cè)試參數(shù)進(jìn)行多維度、智能化的異常分析，偉諾方案能有效提升CP測(cè)試的缺陷檢出率，將早期失效風(fēng)險(xiǎn)遏制在封裝之前。這直接帶來(lái)了測(cè)試質(zhì)量的飛躍與測(cè)試成本的優(yōu)化，助力客戶(hù)輕松滿(mǎn)足車(chē)規(guī)、工規(guī)等產(chǎn)品對(duì)質(zhì)量與可靠性的不懈追求。Mapping Over Ink處理嚴(yán)格遵循AECQ標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)判定，確保車(chē)規(guī)級(jí)芯片可靠性。山西可視化Mapping Inkless系統(tǒng)

Mapping Over Ink處理算法組合可根據(jù)產(chǎn)品類(lèi)型靈活配置，適配消費(fèi)級(jí)至前沿芯片需求。寧夏半導(dǎo)體Mapping Inkless系統(tǒng)

在封測(cè)工廠的日常運(yùn)營(yíng)中，良率波動(dòng)往往源于測(cè)試數(shù)據(jù)分散、格式不一或異常信息未被及時(shí)識(shí)別。YMS系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)接ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺(tái)，高效采集stdf、csv、log、txt等多種格式的原始測(cè)試數(shù)據(jù)，并完成重復(fù)性檢測(cè)、缺失值識(shí)別與異常數(shù)據(jù)過(guò)濾，確保后續(xù)分析基于準(zhǔn)確、完整的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)對(duì)數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類(lèi)，系統(tǒng)支持從時(shí)間序列追蹤良率趨勢(shì)，或從晶圓區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植迹焖俣ㄎ还に嚻?。SYL與SBL參數(shù)的自動(dòng)計(jì)算與卡控機(jī)制，進(jìn)一步強(qiáng)化了質(zhì)量防線(xiàn)。靈活的報(bào)表工具可按模板生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào)，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，滿(mǎn)足從產(chǎn)線(xiàn)到管理層的信息需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來(lái)，持續(xù)深耕半導(dǎo)體軟件領(lǐng)域，其YMS系統(tǒng)已成為封測(cè)企業(yè)實(shí)現(xiàn)質(zhì)量閉環(huán)管理的重要支撐。寧夏半導(dǎo)體Mapping Inkless系統(tǒng)

上海偉諾信息科技有限公司在同行業(yè)領(lǐng)域中，一直處在一個(gè)不斷銳意進(jìn)取，不斷制造創(chuàng)新的市場(chǎng)高度，多年以來(lái)致力于發(fā)展富有創(chuàng)新價(jià)值理念的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的商業(yè)口碑，成績(jī)讓我們喜悅，但不會(huì)讓我們止步，殘酷的市場(chǎng)磨煉了我們堅(jiān)強(qiáng)不屈的意志，和諧溫馨的工作環(huán)境，富有營(yíng)養(yǎng)的公司土壤滋養(yǎng)著我們不斷開(kāi)拓創(chuàng)新，勇于進(jìn)取的無(wú)限潛力，攜手大家一起走向共同輝煌的未來(lái)，回首過(guò)去，我們不會(huì)因?yàn)槿〉昧艘稽c(diǎn)點(diǎn)成績(jī)而沾沾自喜，相反的是面對(duì)競(jìng)爭(zhēng)越來(lái)越激烈的市場(chǎng)氛圍，我們更要明確自己的不足，做好迎接新挑戰(zhàn)的準(zhǔn)備，要不畏困難，激流勇進(jìn)，以一個(gè)更嶄新的精神面貌迎接大家，共同走向輝煌回來(lái)！