陜西自動化PAT平臺

作為國產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)的重要建設(shè)者，YMS系統(tǒng)的開發(fā)始終圍繞真實生產(chǎn)痛點展開。系統(tǒng)兼容主流Tester平臺，自動處理stdf、csv、log等十余種數(shù)據(jù)格式，完成從采集、清洗到整合的全流程自動化，消除信息孤島。其分析引擎支持多維度交叉比對，例如將晶圓邊緣良率偏低現(xiàn)象與刻蝕設(shè)備參數(shù)日志關(guān)聯(lián)，輔助工程師精確歸因。SYL/SBL卡控機制嵌入關(guān)鍵控制點，實現(xiàn)過程質(zhì)量前置管理。配套的報表工具可按模板一鍵生成周期報告，大幅提升跨部門協(xié)同效率。更重要的是，系統(tǒng)背后有完整的售前咨詢、售中方案優(yōu)化與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù)體系支撐，確保價值落地。上海偉諾信息科技有限公司依托多年行業(yè)積累，使YMS成為兼具技術(shù)深度與實施可靠性的國產(chǎn)替代選擇。Mapping Over Ink處理支持結(jié)果回溯，確保數(shù)據(jù)在供應(yīng)鏈中無縫傳遞。陜西自動化PAT平臺

半導(dǎo)體制造過程中，良率數(shù)據(jù)的時效性與準(zhǔn)確性直接決定工藝優(yōu)化的效率。YMS系統(tǒng)通過自動采集ASL1000、SineTest、MS7000等測試平臺生成的多源數(shù)據(jù)，完成端到端的數(shù)據(jù)治理，消除因格式混亂或信息缺失導(dǎo)致的分析盲區(qū)。系統(tǒng)建立的標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，使生產(chǎn)團隊能夠從時間軸觀察良率波動規(guī)律，或聚焦特定晶圓區(qū)域識別系統(tǒng)性缺陷，從而快速鎖定異常工序。SYL與SBL參數(shù)的自動計算與閾值卡控，為過程質(zhì)量提供前置預(yù)警。同時，系統(tǒng)內(nèi)置的報表引擎可一鍵生成周期性分析簡報，并以PPT、Excel或PDF形式輸出，便于管理層掌握產(chǎn)線健康狀態(tài)。這種數(shù)據(jù)驅(qū)動的管理模式，明顯提升了制造穩(wěn)定性與決策效率。上海偉諾信息科技有限公司專注半導(dǎo)體行業(yè)系統(tǒng)開發(fā)，其YMS產(chǎn)品正助力制造企業(yè)邁向精細(xì)化運營。中國臺灣晶圓GDBC平臺GDBC聚類結(jié)果支持根因快速定位，加速工藝問題解決效率。

在晶圓測試（CP）過程中，ProbeMapping（探針測試圖譜）作為記錄每一顆芯片測試結(jié)果的重要載體，其數(shù)據(jù)完整性直接決定了良率分析的準(zhǔn)確性與生產(chǎn)流程的可追溯性。然而在實際量產(chǎn)環(huán)境中，因硬件通信異常、軟件系統(tǒng)故障、產(chǎn)線突然斷電或人為操作失誤等多種意外情況，Mapping數(shù)據(jù)丟失、損壞或格式不兼容的問題時有發(fā)生。這類數(shù)據(jù)異常不僅會導(dǎo)致當(dāng)批晶圓的測試結(jié)果無法被正確解析，更會中斷生產(chǎn)信息鏈，使后續(xù)的封裝揀選、質(zhì)量追溯與制程優(yōu)化喪失依據(jù)，對整體產(chǎn)品良率與制程管控構(gòu)成嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。

針對這一行業(yè)共性難題，上海偉諾信息科技有限公司從實際測試場景出發(fā)，開發(fā)出一套高效、可靠的Mapping格式轉(zhuǎn)換解決方案，致力于從根本上保障數(shù)據(jù)流的無縫銜接。該功能支持將CP測試系統(tǒng)生成的原始Mapping數(shù)據(jù)，智能、精確地轉(zhuǎn)換為各類主流探針臺可直接識別并加載的格式，兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在內(nèi)的多種設(shè)備類型。通過這一轉(zhuǎn)換流程，用戶不僅能夠有效恢復(fù)因格式問題而“失效”的測試數(shù)據(jù)，避免晶圓重復(fù)測試帶來的成本與時間損失，更能構(gòu)建起一條從測試到封裝的高可靠性數(shù)據(jù)通道，從而提升整體生產(chǎn)流程的連貫性與自動化水平，為良率提升與工藝優(yōu)化提供堅實的數(shù)據(jù)基石。

晶圓制造環(huán)節(jié)的良率波動直接影響整體產(chǎn)出效率，YMS系統(tǒng)通過全流程數(shù)據(jù)治理提供有力支撐。系統(tǒng)自動采集并解析來自主流測試設(shè)備的多源異構(gòu)數(shù)據(jù)，建立標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，實現(xiàn)對晶圓批次、區(qū)域乃至單點良率的精細(xì)化監(jiān)控。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測試數(shù)據(jù)的變化趨勢，系統(tǒng)可快速鎖定影響良率的關(guān)鍵因素，指導(dǎo)工藝參數(shù)調(diào)優(yōu)。圖表化界面直觀展示良率熱力圖、趨勢曲線等關(guān)鍵指標(biāo)，輔助工程師高效決策。同時，系統(tǒng)支持按模板生成周期性報告，并導(dǎo)出為常用辦公格式，滿足生產(chǎn)與管理雙重需求。上海偉諾信息科技有限公司以打造國產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，其YMS產(chǎn)品正持續(xù)助力制造企業(yè)邁向高質(zhì)量、高效率的發(fā)展新階段。高價值芯片生產(chǎn)依賴Mapping Over Ink處理的精確剔除，保障關(guān)鍵器件可靠性。

分散在不同Excel表格或本地數(shù)據(jù)庫中的測試數(shù)據(jù)，往往難以跨項目調(diào)用和對比。YMS通過構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，將來自ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等設(shè)備的異構(gòu)數(shù)據(jù)，按產(chǎn)品型號、測試階段、時間、區(qū)域等維度統(tǒng)一歸檔，形成結(jié)構(gòu)清晰、索引完備的數(shù)據(jù)資產(chǎn)池。用戶可通過多條件組合快速檢索特定批次的歷史良率記錄，或橫向比較不同封裝線的表現(xiàn)。標(biāo)準(zhǔn)化存儲不僅提升查詢效率，更為WAT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動分析、SYL/SBL卡控等高級功能提供一致數(shù)據(jù)源?？绮块T協(xié)作時，設(shè)計、工藝與質(zhì)量團隊可基于同一套數(shù)據(jù)開展討論，減少信息偏差。上海偉諾信息科技有限公司依托行業(yè)經(jīng)驗，使YMS成為企業(yè)構(gòu)建數(shù)據(jù)驅(qū)動文化的基礎(chǔ)設(shè)施。參數(shù)漂移趨勢在PAT分析中清晰呈現(xiàn)，實現(xiàn)早期風(fēng)險預(yù)警。山西可視化Mapping Inkless服務(wù)商

Mapping Over Ink處理提升產(chǎn)品市場競爭力，降低客戶投訴率。陜西自動化PAT平臺

芯片制造過程中，良率波動若不能及時識別，可能導(dǎo)致整批產(chǎn)品報廢。YMS系統(tǒng)通過自動采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多格式測試數(shù)據(jù)，完成重復(fù)性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎(chǔ)可靠。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫支持從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?，快速定位工藝異常點。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動分析，可區(qū)分是設(shè)計問題還是制程偏差，大幅縮短根因排查周期。SYL與SBL的自動計算與卡控機制嵌入關(guān)鍵控制節(jié)點，實現(xiàn)預(yù)防性質(zhì)量干預(yù)。靈活報表工具按模板生成日報、周報、月報，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，提升跨部門決策效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續(xù)優(yōu)化YMS系統(tǒng)，助力芯片制造企業(yè)構(gòu)建自主可控的質(zhì)量管理能力。陜西自動化PAT平臺

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