西藏GDBC解決方案

當多臺測試設(shè)備同時產(chǎn)出異構(gòu)數(shù)據(jù)時，傳統(tǒng)人工整合方式不僅耗時，還易引入誤差。YMS系統(tǒng)通過自動化流程，將來自ETS364、STS8200、TR6850等設(shè)備的spd、jdf、zip等格式數(shù)據(jù)統(tǒng)一解析、清洗并結(jié)構(gòu)化存儲，構(gòu)建一致的數(shù)據(jù)底座。在此基礎(chǔ)上，結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測試階段的參數(shù)變化，系統(tǒng)能夠揭示影響良率的深層關(guān)聯(lián)，輔助工程師精確調(diào)整工藝窗口。多維度可視化圖表讓晶圓級缺陷熱力圖、批次良率走勢一目了然，明顯縮短問題響應(yīng)周期。報表功能支持按需定制并導(dǎo)出多種辦公格式，提升跨部門協(xié)同效率。SYL/SBL的實時卡控能力，則有效預(yù)防批量性質(zhì)量風險。上海偉諾信息科技有限公司秉持“以信為本，以質(zhì)取勝”的宗旨，致力于打造適配國產(chǎn)半導(dǎo)體生態(tài)的智能良率管理工具。GDBC算法利用聚類分析檢測空間聚類型失效模式，精確定位斑點劃痕類缺陷。西藏GDBC解決方案

因測試數(shù)據(jù)錯誤導(dǎo)致誤判良率，可能引發(fā)不必要的重測或錯誤工藝調(diào)整，造成材料與時間雙重浪費。YMS在數(shù)據(jù)入庫前執(zhí)行多層校驗，自動剔除異常記錄，確保進入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)真實反映產(chǎn)品狀態(tài)。例如，當某晶圓因通信中斷產(chǎn)生部分缺失數(shù)據(jù)時，系統(tǒng)會標記該記錄而非直接納入統(tǒng)計，避免拉低整體良率。結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)的交叉驗證，進一步排除孤立異常點。高質(zhì)量數(shù)據(jù)輸入使質(zhì)量決策建立在可靠基礎(chǔ)上，明顯降低返工率和報廢風險。這種前置質(zhì)量控制機制，將成本節(jié)約從“事后補救”轉(zhuǎn)向“事前預(yù)防”。上海偉諾信息科技有限公司通過嚴謹?shù)臄?shù)據(jù)治理邏輯，保障YMS輸出結(jié)果的科學性與可執(zhí)行性。福建自動化PAT平臺PAT模塊通過統(tǒng)計方法識別電性參數(shù)異常但功能Pass的單元，剔除隱性風險芯片。

良率管理系統(tǒng)的價值不僅在于技術(shù)實現(xiàn)，更在于對半導(dǎo)體企業(yè)關(guān)鍵痛點的精確回應(yīng)。當設(shè)計公司或制造工廠面臨測試數(shù)據(jù)分散、格式混亂、分析滯后等問題時，YMS系統(tǒng)通過對接ETS364、SineTest、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備，自動完成從數(shù)據(jù)采集到異常過濾的全流程治理。標準化數(shù)據(jù)庫為多維度分析奠定基礎(chǔ)，使時間趨勢、區(qū)域?qū)Ρ取?shù)關(guān)聯(lián)等洞察成為可能。例如，通過對比同一晶圓邊緣與中心區(qū)域的良率差異，可判斷光刻或刻蝕工藝的均勻性問題；結(jié)合FT與CP數(shù)據(jù)偏差，可追溯封裝環(huán)節(jié)的潛在風險。SYL與SBL的自動計算功能，則為良率目標達成提供量化依據(jù)。報表系統(tǒng)支持靈活配置與多格式導(dǎo)出，明顯降低管理溝通成本。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質(zhì)取勝”為準則，推動YMS成為國產(chǎn)半導(dǎo)體提質(zhì)增效的可靠伙伴。

晶圓級良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動對接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等設(shè)備，實時匯聚原始測試結(jié)果并完成結(jié)構(gòu)化清洗，消除人工干預(yù)帶來的延遲與誤差。系統(tǒng)以圖表形式直觀呈現(xiàn)晶圓熱力圖，清晰展示邊緣、中心或象限區(qū)域的良率差異，輔助工程師判斷光刻、刻蝕或沉積環(huán)節(jié)的均勻性問題。當某批次CP良率異常時，可聯(lián)動WAT參數(shù)變化追溯前道工藝漂移，實現(xiàn)從前端到后端的全鏈路追溯。多周期報表自動生成并支持多格式導(dǎo)出，滿足從產(chǎn)線到高管的信息消費習慣。這種深度可視化與智能關(guān)聯(lián)分析能力，使良率管理從經(jīng)驗驅(qū)動轉(zhuǎn)向數(shù)據(jù)驅(qū)動。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導(dǎo)體制造流程的理解，將YMS打造為晶圓廠提質(zhì)增效的有效工具。上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，能有效地幫助用戶提升芯片制造零缺陷。

面對半導(dǎo)體生產(chǎn)現(xiàn)場，車間良率管理系統(tǒng)實現(xiàn)了對制造過程的實時洞察與動態(tài)調(diào)控。系統(tǒng)自動匯聚來自各類測試設(shè)備的原始數(shù)據(jù)，經(jīng)智能解析后形成結(jié)構(gòu)化數(shù)據(jù)庫，支撐對各工序、各時段良率表現(xiàn)的即時追蹤。管理者可通過可視化圖表快速識別產(chǎn)線瓶頸、異常波動或區(qū)域性缺陷，及時干預(yù)以減少損失。系統(tǒng)不僅支持按需生成標準化報告，還可導(dǎo)出多種格式，適配車間操作與高層管理的不同使用場景。這種數(shù)據(jù)透明化機制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應(yīng)速度。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導(dǎo)體制造流程的深刻理解，將YMS打造為連接設(shè)備數(shù)據(jù)與管理決策的高效橋梁。SPAT模塊用于靜態(tài)參數(shù)偏離的篩查，固定測試限保障CP/FT環(huán)節(jié)穩(wěn)定性。山東晶圓PAT服務(wù)商

上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，可以將測試后處理的芯片做降檔處理，降低測試Cost。西藏GDBC解決方案

面對海量測試數(shù)據(jù)，表格形式難以快速捕捉異常模式。YMS系統(tǒng)將良率與缺陷信息轉(zhuǎn)化為熱力圖、趨勢曲線、散點圖等多種可視化圖表：晶圓熱力圖一眼識別高缺陷區(qū)域，時間序列圖揭示良率波動周期，參數(shù)散點圖暴露非線性關(guān)聯(lián)關(guān)系。例如，通過CP漏電與FT功能失效的散點分布，可判斷是否存在特定電壓下的共性失效機制。圖形化表達降低數(shù)據(jù)分析門檻，使非數(shù)據(jù)專業(yè)人員也能參與質(zhì)量討論。這種“所見即所得”的洞察方式，加速了從數(shù)據(jù)到行動的轉(zhuǎn)化。上海偉諾信息科技有限公司以可視化為關(guān)鍵設(shè)計原則，提升YMS的信息傳達效率與決策支持價值。西藏GDBC解決方案

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進的發(fā)展理念，先進的管理經(jīng)驗，在發(fā)展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創(chuàng)新，時刻準備著迎接更多挑戰(zhàn)的活力公司，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業(yè)界也收獲了很多良好的評價，這些都源自于自身的努力和大家共同進步的結(jié)果，這些評價對我們而言是比較好的前進動力，也促使我們在以后的道路上保持奮發(fā)圖強、一往無前的進取創(chuàng)新精神，努力把公司發(fā)展戰(zhàn)略推向一個新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來，創(chuàng)造更有價值的產(chǎn)品，我們將以更好的狀態(tài)，更認真的態(tài)度，更飽滿的精力去創(chuàng)造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長！