廣西晶圓PAT

Mapping Over Ink是一套在晶圓測試（CP）后，對電性測試圖譜進行智能分析、處理，并直接驅(qū)動探針臺對特定芯片進行噴墨打點的自動化系統(tǒng)。它將各種分析算法（如ZPAT, GDBN）得出的“失效判定”轉(zhuǎn)化為物理世界中的行動——將不良品標記出來，使其在后續(xù)封裝中被剔除。其重點是預(yù)見性地剔除所有潛在缺陷芯片，而不僅是那些已經(jīng)明確失效的。也是提升芯片零缺陷的一種重要方式。

上海偉諾信息科技有限公司作為半導(dǎo)體測試領(lǐng)域的解決方案供應(yīng)商，致力于為國內(nèi)外半導(dǎo)體設(shè)計公司與晶圓測試廠提供一站式的 Mapping Over Ink 整體解決方案。我們的平臺集成了業(yè)界前沿、專業(yè)的數(shù)據(jù)分析與處理模塊，旨在通過多重維度的智能篩選，構(gòu)筑起一道安全的質(zhì)量防線，有效地提升用戶的晶圓測試質(zhì)量與產(chǎn)品可靠性。 GDBC算法利用聚類分析檢測空間聚類型失效模式，精確定位斑點劃痕類缺陷。廣西晶圓PAT

國產(chǎn)良率管理系統(tǒng)的價值在于將碎片化測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為可執(zhí)行的工藝洞察。YMS系統(tǒng)自動對接ASL1000、SineTest、MS7000、CTA8280、T861、Juno、AMIDA等主流設(shè)備，處理十余種格式原始數(shù)據(jù)，確保從晶圓到芯片級的數(shù)據(jù)鏈完整可靠。系統(tǒng)不僅清洗異常記錄，還通過圖表直觀展示良率在不同時間段或晶圓象限的差異。這有助于工程師判斷是否為光刻對準偏差或刻蝕不均所致。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)聯(lián)動分析，可區(qū)分設(shè)計缺陷與制造變異，縮短問題排查周期。這種從“看見異常”到“理解根因”的能力，推動質(zhì)量改進從被動響應(yīng)轉(zhuǎn)向主動預(yù)防。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導(dǎo)體制造流程的深入理解，推動YMS成為國產(chǎn)替代的關(guān)鍵支撐。中國臺灣半導(dǎo)體MappingOverInk處理Mapping Over Ink處理通過失效分布圖譜直觀暴露制造流程異常，指導(dǎo)工藝改進方向。

良率管理系統(tǒng)的價值不僅在于技術(shù)實現(xiàn)，更在于對半導(dǎo)體企業(yè)關(guān)鍵痛點的精確回應(yīng)。當設(shè)計公司或制造工廠面臨測試數(shù)據(jù)分散、格式混亂、分析滯后等問題時，YMS系統(tǒng)通過對接ETS364、SineTest、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設(shè)備，自動完成從數(shù)據(jù)采集到異常過濾的全流程治理。標準化數(shù)據(jù)庫為多維度分析奠定基礎(chǔ)，使時間趨勢、區(qū)域?qū)Ρ取?shù)關(guān)聯(lián)等洞察成為可能。例如，通過對比同一晶圓邊緣與中心區(qū)域的良率差異，可判斷光刻或刻蝕工藝的均勻性問題；結(jié)合FT與CP數(shù)據(jù)偏差，可追溯封裝環(huán)節(jié)的潛在風(fēng)險。SYL與SBL的自動計算功能，則為良率目標達成提供量化依據(jù)。報表系統(tǒng)支持靈活配置與多格式導(dǎo)出，明顯降低管理溝通成本。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質(zhì)取勝”為準則，推動YMS成為國產(chǎn)半導(dǎo)體提質(zhì)增效的可靠伙伴。

每日晨會前臨時整理良率報表，常因數(shù)據(jù)口徑不一引發(fā)爭議。YMS系統(tǒng)按預(yù)設(shè)模板自動生成日報、周報、月報，內(nèi)容涵蓋良率趨勢、區(qū)域缺陷分布、WAT/CP/FT關(guān)聯(lián)分析等關(guān)鍵指標，并支持一鍵導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF格式。生產(chǎn)主管可用PPT版直接匯報，質(zhì)量工程師調(diào)取Excel原始數(shù)據(jù)深入挖掘，客戶審計則接收標準化PDF文檔。自動化流程消除手工匯總誤差，確保全公司使用同一套可靠數(shù)據(jù)。報告生成時間從數(shù)小時壓縮至分鐘級，大幅提升跨部門協(xié)同效率。上海偉諾信息科技有限公司通過靈活報表工具，讓數(shù)據(jù)真正服務(wù)于決策閉環(huán)。Mapping Over Ink處理嚴格遵循AECQ標準進行風(fēng)險判定，確保車規(guī)級芯片可靠性。

在半導(dǎo)體設(shè)計與制造流程中，良率管理系統(tǒng)的價值體現(xiàn)在對復(fù)雜測試數(shù)據(jù)的高效整合與深度挖掘。系統(tǒng)自動對接多種測試設(shè)備輸出的異構(gòu)數(shù)據(jù)，完成清洗、去重與結(jié)構(gòu)化處理，構(gòu)建可靠的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。通過對WAT、CP、FT等關(guān)鍵工藝節(jié)點參數(shù)的聯(lián)動分析，系統(tǒng)能夠揭示潛在的工藝偏差或設(shè)計缺陷，為研發(fā)和制造團隊提供可執(zhí)行的優(yōu)化建議。多維度圖表直觀呈現(xiàn)良率波動與缺陷分布，支持從批次到晶圓級別的精細追溯。報表功能滿足不同管理層級對數(shù)據(jù)呈現(xiàn)的多樣化需求，實現(xiàn)從現(xiàn)場到?jīng)Q策層的信息貫通。上海偉諾信息科技有限公司立足“以信為本，以質(zhì)取勝”的理念，持續(xù)打磨YMS產(chǎn)品，推動國產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)建設(shè)。Mapping Over Ink處理技術(shù)適用于消費類至車規(guī)級全品類芯片，覆蓋廣泛應(yīng)用場景。陜西MappingOverInk處理軟件

上海偉諾信息科技Mapping Bin 轉(zhuǎn)換功能，可以將Wafer Map上指定坐標的芯片進行Ink。廣西晶圓PAT

半導(dǎo)體制造過程中，良率數(shù)據(jù)的時效性與準確性直接決定工藝優(yōu)化的效率。YMS系統(tǒng)通過自動采集ASL1000、SineTest、MS7000等測試平臺生成的多源數(shù)據(jù)，完成端到端的數(shù)據(jù)治理，消除因格式混亂或信息缺失導(dǎo)致的分析盲區(qū)。系統(tǒng)建立的標準化數(shù)據(jù)庫，使生產(chǎn)團隊能夠從時間軸觀察良率波動規(guī)律，或聚焦特定晶圓區(qū)域識別系統(tǒng)性缺陷，從而快速鎖定異常工序。SYL與SBL參數(shù)的自動計算與閾值卡控，為過程質(zhì)量提供前置預(yù)警。同時，系統(tǒng)內(nèi)置的報表引擎可一鍵生成周期性分析簡報，并以PPT、Excel或PDF形式輸出，便于管理層掌握產(chǎn)線健康狀態(tài)。這種數(shù)據(jù)驅(qū)動的管理模式，明顯提升了制造穩(wěn)定性與決策效率。上海偉諾信息科技有限公司專注半導(dǎo)體行業(yè)系統(tǒng)開發(fā)，其YMS產(chǎn)品正助力制造企業(yè)邁向精細化運營。廣西晶圓PAT

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進的發(fā)展理念，先進的管理經(jīng)驗，在發(fā)展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創(chuàng)新，時刻準備著迎接更多挑戰(zhàn)的活力公司，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業(yè)界也收獲了很多良好的評價，這些都源自于自身的努力和大家共同進步的結(jié)果，這些評價對我們而言是比較好的前進動力，也促使我們在以后的道路上保持奮發(fā)圖強、一往無前的進取創(chuàng)新精神，努力把公司發(fā)展戰(zhàn)略推向一個新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來，創(chuàng)造更有價值的產(chǎn)品，我們將以更好的狀態(tài)，更認真的態(tài)度，更飽滿的精力去創(chuàng)造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長！