天津MappingOverInk處理平臺

良率波動若只憑單點數(shù)據(jù)判斷，容易誤判趨勢。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測試結果按時間序列歸檔，生成連續(xù)良率曲線，并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現(xiàn)變化規(guī)律。當某產(chǎn)品線周良率從98%驟降至95%時，系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間，還可聯(lián)動同期WAT參數(shù)漂移或設備維護記錄，輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關鍵產(chǎn)品，工程師則可深入分析小時級波動以優(yōu)化機臺參數(shù)。這種動態(tài)追蹤能力，使質量干預從事后追溯轉向事中預警。結合靈活報表工具，時間維度分析結果可一鍵導出為PPT或PDF，用于晨會或客戶匯報。上海偉諾信息科技有限公司通過YMS的時間序列分析功能，助力客戶實現(xiàn)精細化過程管控。Mapping Over Ink處理推動封測環(huán)節(jié)向預測性質量演進，實現(xiàn)主動風險管理。天津MappingOverInk處理平臺

在半導體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動，都可能引起良率與可靠性的風險。其中，一個尤為典型的系統(tǒng)性失效模式，便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle（光罩）。當Reticle本身存在污染、劃傷或設計瑕疵時，或當光刻機在步進重復曝光過程中出現(xiàn)參數(shù)漂移（如焦距不準、曝光能量不均）時。這些因Reticle問題而產(chǎn)生的特定區(qū)域內的芯片，實質上構成了一個高風險的“潛伏失效群體”。若不能在測試階段被精確識別并剔除，將直接流向客戶端，對產(chǎn)品的長期可靠性與品牌聲譽構成嚴重威脅。識別并處理這類與Reticle強相關的潛在缺陷，是現(xiàn)代高可靠性質量管理中一項極具挑戰(zhàn)性的關鍵任務。

上海偉諾信息科技有限公司在Mapping Over Ink功能中提供了一個Shot Mapping Ink方案，可以將整個Mapping按Reticle大小或是自定義大小的方格，根據(jù)設定的算法將整個Shot進行Ink, 從而去除掉因光刻環(huán)節(jié)的Reticle引起的潛在性失效芯片。通過Shot Mapping Ink方案，用戶能夠將質量管控的關口從“篩查單個失效芯片”前移至“攔截整個失效風險區(qū)域”。這尤其適用于對可靠性要求極嚴苛的車規(guī)、工規(guī)等產(chǎn)品，它能極大程度地降低因光刻制程偶發(fā)問題導致的批次性可靠性風險，為客戶構建起一道應對系統(tǒng)性缺陷的堅固防線。 重慶PATAECQ合規(guī)性內嵌于Mapping Over Ink處理的算法判定邏輯中，確保車規(guī)級標準嚴格執(zhí)行。

每周一上午趕制良率周報曾是質量團隊的固定負擔：手動匯總Excel、調整圖表、統(tǒng)一格式，耗時且易出錯。YMS內置報表模板可按日、周、月自動生成結構化報告，內容涵蓋SYL/SBL卡控狀態(tài)、區(qū)域缺陷對比、時間趨勢等關鍵指標，并支持一鍵導出為PPT、Excel或PDF。管理層用PPT版直接用于經(jīng)營會議，客戶審計接收標準化PDF文檔，工程師則調取Excel原始數(shù)據(jù)深入挖掘。自動化流程確保全公司使用同一數(shù)據(jù)口徑，避免信息互相影響。報表制作時間從數(shù)小時降至幾分鐘，釋放人力資源投入更高價值工作。上海偉諾信息科技有限公司通過靈活報表功能，推動企業(yè)決策從“經(jīng)驗驅動”向“數(shù)據(jù)驅動”轉型。

面對國產(chǎn)替代需求，選擇具備技術自主性和行業(yè)適配能力的良率管理系統(tǒng)廠商至關重要。上海偉諾信息科技有限公司的YMS系統(tǒng)兼容主流Tester平臺，覆蓋十余種測試數(shù)據(jù)格式，實現(xiàn)從采集、解析到異常過濾的全流程自動化。其分析引擎支持時間序列追蹤、晶圓區(qū)域對比及WAT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動，精確識別影響良率的關鍵因素。SYL/SBL卡控與靈活報表導出功能，進一步強化過程管控與決策支持。更重要的是，系統(tǒng)背后有完整的實施與服務體系支撐，確保從部署到優(yōu)化的每個環(huán)節(jié)可靠落地。這種“軟硬協(xié)同”的能力，使YMS在國產(chǎn)軟件生態(tài)中具備強大競爭力。偉諾依托多年項目積累，持續(xù)驗證其作為本土良率管理解決方案提供者的專業(yè)價值。GDBC聚類結果支持根因快速定位，加速工藝問題解決效率。

分散在不同Excel表格或本地數(shù)據(jù)庫中的測試數(shù)據(jù)，往往難以跨項目調用和對比。YMS通過構建標準化數(shù)據(jù)庫，將來自ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等設備的異構數(shù)據(jù)，按產(chǎn)品型號、測試階段、時間、區(qū)域等維度統(tǒng)一歸檔，形成結構清晰、索引完備的數(shù)據(jù)資產(chǎn)池。用戶可通過多條件組合快速檢索特定批次的歷史良率記錄，或橫向比較不同封裝線的表現(xiàn)。標準化存儲不僅提升查詢效率，更為WAT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動分析、SYL/SBL卡控等高級功能提供一致數(shù)據(jù)源?？绮块T協(xié)作時，設計、工藝與質量團隊可基于同一套數(shù)據(jù)開展討論，減少信息偏差。上海偉諾信息科技有限公司依托行業(yè)經(jīng)驗，使YMS成為企業(yè)構建數(shù)據(jù)驅動文化的基礎設施。Mapping Over Ink處理支持結果回溯，確保數(shù)據(jù)在供應鏈中無縫傳遞。天津MappingOverInk處理平臺

Mapping Over Ink處理因數(shù)據(jù)分析自動化大幅提升效率，縮短封測周期時間。天津MappingOverInk處理平臺

ZPAT 是一種基于統(tǒng)計學的芯片篩選技術，通過在晶圓測試階段識別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產(chǎn)品的可靠性。在實際的應用過程中需要通過疊加多片Wafer找出在同一坐標下失效的Die的比例，通過特定的算法從而評估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質量零缺陷的一種手段。

為助力客戶應對日益嚴苛的“零缺陷”質量挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司將其先進的ZPAT技術深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創(chuàng)新集成賦予用戶高度的靈活性與強大的分析能力，使其能夠通過一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數(shù)超出統(tǒng)計控制界限的異常芯片，從而構筑起一道基于動態(tài)統(tǒng)計過程控制的智能質量防線。 天津MappingOverInk處理平臺

上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才，集企業(yè)奇思，創(chuàng)經(jīng)濟奇跡，一群有夢想有朝氣的團隊不斷在前進的道路上開創(chuàng)新天地，繪畫新藍圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的信譽，信奉著“爭取每一個客戶不容易，失去每一個用戶很簡單”的理念，市場是企業(yè)的方向，質量是企業(yè)的生命，在公司有效方針的領導下，全體上下，團結一致，共同進退，**協(xié)力把各方面工作做得更好，努力開創(chuàng)工作的新局面，公司的新高度，未來和您一起奔向更美好的未來，即使現(xiàn)在有一點小小的成績，也不足以驕傲，過去的種種都已成為昨日我們只有總結經(jīng)驗，才能繼續(xù)上路，讓我們一起點燃新的希望，放飛新的夢想！