四川可視化Mapping Inkless解決方案

當(dāng)測試工程師面對來自ETS88、J750、93k等多臺設(shè)備輸出的stdf、log、jdf等格式混雜的原始數(shù)據(jù)時，傳統(tǒng)人工清洗往往需耗費數(shù)小時核對字段、剔除重復(fù)記錄。YMS系統(tǒng)通過自動解析引擎識別各類數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，檢測重復(fù)性與缺失性，并過濾異常值，將清洗過程壓縮至分鐘級。清洗后的數(shù)據(jù)統(tǒng)一歸入標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，確保后續(xù)分析基于一致、干凈的數(shù)據(jù)源。工程師不再陷于繁瑣整理，而是聚焦于缺陷模式識別與工藝優(yōu)化建議。這種自動化處理不僅提升效率，更消除人為疏漏帶來的分析偏差。上海偉諾信息科技有限公司將數(shù)據(jù)清洗作為YMS的基礎(chǔ)能力，支撐客戶實現(xiàn)高效、可靠的良率管理?？蛻艨蓮?fù)用Mapping Over Ink處理結(jié)果進(jìn)行跨批次對比分析，優(yōu)化生產(chǎn)工藝。四川可視化Mapping Inkless解決方案

面對國產(chǎn)替代需求，選擇具備技術(shù)自主性和行業(yè)適配能力的良率管理系統(tǒng)廠商至關(guān)重要。上海偉諾信息科技有限公司的YMS系統(tǒng)兼容主流Tester平臺，覆蓋十余種測試數(shù)據(jù)格式，實現(xiàn)從采集、解析到異常過濾的全流程自動化。其分析引擎支持時間序列追蹤、晶圓區(qū)域?qū)Ρ燃癢AT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動，精確識別影響良率的關(guān)鍵因素。SYL/SBL卡控與靈活報表導(dǎo)出功能，進(jìn)一步強化過程管控與決策支持。更重要的是，系統(tǒng)背后有完整的實施與服務(wù)體系支撐，確保從部署到優(yōu)化的每個環(huán)節(jié)可靠落地。這種“軟硬協(xié)同”的能力，使YMS在國產(chǎn)軟件生態(tài)中具備強大競爭力。偉諾依托多年項目積累，持續(xù)驗證其作為本土良率管理解決方案提供者的專業(yè)價值。湖南可視化PATMapping Over Ink處理助力國產(chǎn)軟件生態(tài)建設(shè)，推動技術(shù)自主可控。

面對stdf、log、jdf等格式混雜的測試數(shù)據(jù)流，傳統(tǒng)手工轉(zhuǎn)換不僅耗時，還易引入人為錯誤。YMS系統(tǒng)采用智能解析與清洗技術(shù)，自動校驗字段一致性，對缺失或錯位字段進(jìn)行邏輯補全或標(biāo)記，確保每條記錄結(jié)構(gòu)完整。系統(tǒng)支持批量歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)入與實時測試流同步處理，無論數(shù)據(jù)來自ASL1000還是TR6850，均能統(tǒng)一轉(zhuǎn)化為可用于分析的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集。在此基礎(chǔ)上，異常值被自動過濾，重復(fù)記錄被精確剔除，明顯提升數(shù)據(jù)可信度。這種端到端的自動化處理機制，使工程師無需再耗費數(shù)小時整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實際數(shù)據(jù)特征，構(gòu)建了這一高效可靠的數(shù)據(jù)預(yù)處理體系。

為提升晶圓測試（CP測試）的質(zhì)量與可靠性，行業(yè)的關(guān)注點已從單一的電性性能測試，擴(kuò)展到電性與物理外觀并重的綜合質(zhì)量評估。因此，越來越多的公司在CP測試環(huán)節(jié)中，引入外觀檢測設(shè)備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對晶圓上每個Die的表面進(jìn)行高精度、自動化的掃描與檢測，以識別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價值在于，它彌補了傳統(tǒng)電性測試的盲區(qū)。一顆芯片可能電性參數(shù)測試“通過”，但其物理結(jié)構(gòu)已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續(xù)的封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用中有極高早期失效的風(fēng)險，是產(chǎn)品可靠性的重大隱患。通過AOI檢測，可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專業(yè)的AOI與Probe Mapping堆疊方案，解決兩大關(guān)鍵問題：一是通過數(shù)據(jù)融合，篩除外觀與電性的全部不良品，生成高可靠性的合一Mapping；二是具備優(yōu)異的兼容性，可將合并后的Mapping直接轉(zhuǎn)換為各類探針臺（如TSK、TEL、UF3000等）可識別的格式，實現(xiàn)從質(zhì)量判定到生產(chǎn)執(zhí)行的自動化，有效提升品質(zhì)與效率。GDBC聚類結(jié)果支持根因快速定位，加速工藝問題解決效率。

當(dāng)封測廠同時運行ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設(shè)備時，不同平臺輸出的stdf、csv、log、jdf、spd、txt等格式數(shù)據(jù)往往難以統(tǒng)一處理。YMS系統(tǒng)通過內(nèi)置的多協(xié)議解析引擎，自動識別并適配各類測試平臺的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，將異構(gòu)原始數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為標(biāo)準(zhǔn)化內(nèi)部格式，消除因設(shè)備差異導(dǎo)致的信息割裂。模塊化接口設(shè)計確保新增設(shè)備可快速接入，無需重構(gòu)系統(tǒng)架構(gòu)。這種“即插即用”的兼容能力，使企業(yè)能集中管理全產(chǎn)線測試數(shù)據(jù)，避免為不同平臺維護(hù)多套分析流程。數(shù)據(jù)采集的穩(wěn)定性與實時性由此得到保障，為后續(xù)良率分析奠定一致基礎(chǔ)。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續(xù)優(yōu)化YMS的平臺兼容性，支撐客戶在復(fù)雜設(shè)備環(huán)境中實現(xiàn)高效數(shù)據(jù)治理。上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，能有效地幫助用戶提升芯片制造零缺陷。湖南可視化PAT

參數(shù)漂移趨勢在PAT分析中清晰呈現(xiàn)，實現(xiàn)早期風(fēng)險預(yù)警。四川可視化Mapping Inkless解決方案

晶圓邊緣區(qū)域良率持續(xù)偏低卻難以定位原因，是工藝工程師常見的痛點。YMS系統(tǒng)在完成stdf、log等原始數(shù)據(jù)清洗后，依據(jù)晶圓空間坐標(biāo)對缺陷進(jìn)行分類，生成色彩漸變的熱力圖，直觀呈現(xiàn)中心、過渡區(qū)與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對比不同批次在同一區(qū)域的表現(xiàn)，識別是否為光刻對焦偏差或刻蝕均勻性問題所致。疊加時間維度后，還能判斷該現(xiàn)象是偶發(fā)異常還是系統(tǒng)性漂移。這種空間+時間的雙維分析，使優(yōu)化措施從“整體調(diào)整”轉(zhuǎn)向“精確干預(yù)”，明顯提升工藝調(diào)試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實際需求，將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。四川可視化Mapping Inkless解決方案

上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才，集企業(yè)奇思，創(chuàng)經(jīng)濟(jì)奇跡，一群有夢想有朝氣的團(tuán)隊不斷在前進(jìn)的道路上開創(chuàng)新天地，繪畫新藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的信譽，信奉著“爭取每一個客戶不容易，失去每一個用戶很簡單”的理念，市場是企業(yè)的方向，質(zhì)量是企業(yè)的生命，在公司有效方針的領(lǐng)導(dǎo)下，全體上下，團(tuán)結(jié)一致，共同進(jìn)退，**協(xié)力把各方面工作做得更好，努力開創(chuàng)工作的新局面，公司的新高度，未來和您一起奔向更美好的未來，即使現(xiàn)在有一點小小的成績，也不足以驕傲，過去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗，才能繼續(xù)上路，讓我們一起點燃新的希望，放飛新的夢想！