新疆MappingOverInk處理平臺(tái)

為提升晶圓測(cè)試（CP測(cè)試）的質(zhì)量與可靠性，行業(yè)的關(guān)注點(diǎn)已從單一的電性性能測(cè)試，擴(kuò)展到電性與物理外觀并重的綜合質(zhì)量評(píng)估。因此，越來(lái)越多的公司在CP測(cè)試環(huán)節(jié)中，引入外觀檢測(cè)設(shè)備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對(duì)晶圓上每個(gè)Die的表面進(jìn)行高精度、自動(dòng)化的掃描與檢測(cè)，以識(shí)別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價(jià)值在于，它彌補(bǔ)了傳統(tǒng)電性測(cè)試的盲區(qū)。一顆芯片可能電性參數(shù)測(cè)試“通過(guò)”，但其物理結(jié)構(gòu)已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續(xù)的封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用中有極高早期失效的風(fēng)險(xiǎn)，是產(chǎn)品可靠性的重大隱患。通過(guò)AOI檢測(cè)，可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專業(yè)的AOI與Probe Mapping堆疊方案，解決兩大關(guān)鍵問(wèn)題：一是通過(guò)數(shù)據(jù)融合，篩除外觀與電性的全部不良品，生成高可靠性的合一Mapping；二是具備優(yōu)異的兼容性，可將合并后的Mapping直接轉(zhuǎn)換為各類探針臺(tái)（如TSK、TEL、UF3000等）可識(shí)別的格式，實(shí)現(xiàn)從質(zhì)量判定到生產(chǎn)執(zhí)行的自動(dòng)化，有效提升品質(zhì)與效率。Mapping Over Ink處理通過(guò)失效分布圖譜直觀暴露制造流程異常，指導(dǎo)工藝改進(jìn)方向。新疆MappingOverInk處理平臺(tái)

當(dāng)封測(cè)廠每日面對(duì)來(lái)自數(shù)十臺(tái)測(cè)試機(jī)臺(tái)的海量異構(gòu)數(shù)據(jù)時(shí)，傳統(tǒng)手工匯總方式已難以滿足實(shí)時(shí)質(zhì)量管控需求。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)化流程，即時(shí)采集并清洗ETS364、TR6850、ASL1000、MS7000等設(shè)備輸出的原始測(cè)試數(shù)據(jù)，剔除重復(fù)、缺失與異常記錄，構(gòu)建高可信度的數(shù)據(jù)底座。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)支持從時(shí)間軸追蹤良率波動(dòng)，或聚焦晶圓特定區(qū)域識(shí)別系統(tǒng)性缺陷，結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)變化，快速定位工藝偏差根源。例如，當(dāng)某批次FT良率驟降時(shí)，系統(tǒng)可聯(lián)動(dòng)CP數(shù)據(jù)判斷是否為封裝環(huán)節(jié)引入問(wèn)題，縮短排查周期達(dá)數(shù)小時(shí)。圖表化界面與日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào)自動(dòng)生成機(jī)制，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源高效決策。上海偉諾信息科技有限公司憑借對(duì)半導(dǎo)體制造流程的深入理解，將YMS打造為數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)質(zhì)量改進(jìn)的關(guān)鍵工具。甘肅可視化MappingOverInk處理系統(tǒng)定制Mapping Over Ink處理系統(tǒng)持續(xù)優(yōu)化以適配先進(jìn)制程需求，保持技術(shù)優(yōu)勢(shì)。

在晶圓制造過(guò)程中，制程偏差是導(dǎo)致良率損失的主要因素之一，其典型表現(xiàn)即為晶圓上Die的區(qū)域性集群失效。此類失效并非隨機(jī)分布，而是呈現(xiàn)出與特定制程弱點(diǎn)緊密相關(guān)的空間模式，例如由光刻熱點(diǎn)、CMP不均勻或熱應(yīng)力集中所導(dǎo)致的失效環(huán)、邊緣帶或局部區(qū)塊。然而，一個(gè)更為隱蔽且嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)在于，在這些完全失效的Die周圍，往往存在一個(gè)“受影響區(qū)”。該區(qū)域內(nèi)的Die雖然未發(fā)生catastrophicfailure，其內(nèi)部可能已產(chǎn)生參數(shù)漂移或輕微損傷，在常規(guī)的CP測(cè)試中，它們?nèi)阅軡M足規(guī)格下限而呈現(xiàn)出“Pass”的結(jié)果。這些潛在的“薄弱芯片”在初期測(cè)試中得以幸存，但其在后續(xù)封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用的嚴(yán)苛環(huán)境下，早期失效的風(fēng)險(xiǎn)將明細(xì)高于正常芯片。為了將這類“過(guò)測(cè)”的潛在失效品精確識(shí)別并剔除，避免其流出至客戶端成為可靠性隱患，常規(guī)的良率分析已不足以應(yīng)對(duì)。必須借助特定的空間識(shí)別算法，對(duì)晶圓測(cè)試圖譜進(jìn)行深度處理。

上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能提供精確的算法能夠通過(guò)分析失效集群的空間分布與形態(tài)，智能地推斷出工藝影響的波及范圍，并據(jù)此將失效區(qū)周圍一定范圍內(nèi)的“PassDie”也定義為高風(fēng)險(xiǎn)單元并予以剔除。這一操作是構(gòu)建高可靠性產(chǎn)品質(zhì)量防線中至關(guān)重要的一環(huán)。

面對(duì)stdf、log、jdf等格式混雜的測(cè)試數(shù)據(jù)流，傳統(tǒng)手工轉(zhuǎn)換不僅耗時(shí)，還易引入人為錯(cuò)誤。YMS系統(tǒng)采用智能解析與清洗技術(shù)，自動(dòng)校驗(yàn)字段一致性，對(duì)缺失或錯(cuò)位字段進(jìn)行邏輯補(bǔ)全或標(biāo)記，確保每條記錄結(jié)構(gòu)完整。系統(tǒng)支持批量歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)入與實(shí)時(shí)測(cè)試流同步處理，無(wú)論數(shù)據(jù)來(lái)自ASL1000還是TR6850，均能統(tǒng)一轉(zhuǎn)化為可用于分析的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集。在此基礎(chǔ)上，異常值被自動(dòng)過(guò)濾，重復(fù)記錄被精確剔除，明顯提升數(shù)據(jù)可信度。這種端到端的自動(dòng)化處理機(jī)制，使工程師無(wú)需再耗費(fèi)數(shù)小時(shí)整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際數(shù)據(jù)特征，構(gòu)建了這一高效可靠的數(shù)據(jù)預(yù)處理體系。Mapping Over Ink處理系統(tǒng)在質(zhì)量事件發(fā)生時(shí)自動(dòng)觸發(fā)設(shè)備維護(hù)工單，實(shí)現(xiàn)預(yù)防性維護(hù)。

半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司對(duì)良率分析的顆粒度要求極高，需兼顧芯片級(jí)精度與跨項(xiàng)目可比性。YMS系統(tǒng)支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺(tái)產(chǎn)生的多格式測(cè)試數(shù)據(jù)，完成統(tǒng)一解析與結(jié)構(gòu)化存儲(chǔ)，確保從晶圓到單顆芯片的數(shù)據(jù)鏈完整。系統(tǒng)不僅實(shí)現(xiàn)時(shí)間趨勢(shì)與區(qū)域?qū)Ρ确治?，還能通過(guò)WAT參數(shù)漂移預(yù)警潛在設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)，輔助早期迭代優(yōu)化。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算功能，為良率目標(biāo)達(dá)成提供量化依據(jù)；靈活報(bào)表引擎則支持按項(xiàng)目、產(chǎn)品線或客戶維度生成分析簡(jiǎn)報(bào)，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，適配不同匯報(bào)場(chǎng)景。這種深度集成的能力，使良率管理從被動(dòng)響應(yīng)轉(zhuǎn)向主動(dòng)預(yù)防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質(zhì)取勝”為準(zhǔn)則，持續(xù)打磨YMS的功能完整性與行業(yè)適配性。PAT模塊通過(guò)統(tǒng)計(jì)方法識(shí)別電性參數(shù)異常但功能Pass的單元，剔除隱性風(fēng)險(xiǎn)芯片。新疆MappingOverInk處理平臺(tái)

客戶可復(fù)用Mapping Over Ink處理結(jié)果進(jìn)行跨批次對(duì)比分析，優(yōu)化生產(chǎn)工藝。新疆MappingOverInk處理平臺(tái)

每日晨會(huì)前臨時(shí)整理良率報(bào)表，常因數(shù)據(jù)口徑不一引發(fā)爭(zhēng)議。YMS系統(tǒng)按預(yù)設(shè)模板自動(dòng)生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào)，內(nèi)容涵蓋良率趨勢(shì)、區(qū)域缺陷分布、WAT/CP/FT關(guān)聯(lián)分析等關(guān)鍵指標(biāo)，并支持一鍵導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF格式。生產(chǎn)主管可用PPT版直接匯報(bào)，質(zhì)量工程師調(diào)取Excel原始數(shù)據(jù)深入挖掘，客戶審計(jì)則接收標(biāo)準(zhǔn)化PDF文檔。自動(dòng)化流程消除手工匯總誤差，確保全公司使用同一套可靠數(shù)據(jù)。報(bào)告生成時(shí)間從數(shù)小時(shí)壓縮至分鐘級(jí)，大幅提升跨部門協(xié)同效率。上海偉諾信息科技有限公司通過(guò)靈活報(bào)表工具，讓數(shù)據(jù)真正服務(wù)于決策閉環(huán)。新疆MappingOverInk處理平臺(tái)

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實(shí)力背景、信譽(yù)可靠、勵(lì)精圖治、展望未來(lái)、有夢(mèng)想有目標(biāo)，有組織有體系的公司，堅(jiān)持于帶領(lǐng)員工在未來(lái)的道路上大放光明，攜手共畫藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠(chéng)的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ)，也希望未來(lái)公司能成為*****，努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻(xiàn)出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強(qiáng)不息，斗志昂揚(yáng)的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績(jī)，一直以來(lái)，公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠(chéng)實(shí)守信的方針，員工精誠(chéng)努力，協(xié)同奮取，以品質(zhì)、服務(wù)來(lái)贏得市場(chǎng)，我們一直在路上！