設(shè)備USB測(cè)試方案商

針對(duì)某特定訊號(hào)速度(低速、全速或高速)先選擇需進(jìn)行的量測(cè)項(xiàng)目，然后根據(jù)層(即DUT的連接層)、測(cè)試點(diǎn)(DUT的測(cè)試點(diǎn)-近端或遠(yuǎn)程)以及傳輸方向(上傳或下傳測(cè)試)設(shè)定應(yīng)用程序，如圖所示。在完成了這兩步之后，使用者即可執(zhí)行自動(dòng)量測(cè)了。接著就是設(shè)置DUT類型、速率、夾具和測(cè)試分析模式，由于DUT是device，所以在Device一欄選擇Device；USB2.0的速率為7G；測(cè)試的夾具分為了兩類，一類是USB-IF協(xié)會(huì)的，另一類就是Tektronix的，在這里選擇的是Tektronix的測(cè)試夾具；另外一個(gè)非常關(guān)鍵的點(diǎn)就是TestMethod，是否選用USB-IFSigTest的分析方法，通常，我們會(huì)選擇使用；選擇參考時(shí)鐘，一般高速串行信號(hào)都會(huì)選用SSC模式；還要根據(jù)產(chǎn)品使用。USB3.1和3.0有什么區(qū)別？設(shè)備USB測(cè)試方案商

測(cè)試系統(tǒng)搭建和介紹任何測(cè)試系統(tǒng)的搭建都是以測(cè)試目的為導(dǎo)向的，在測(cè)試之前一定要明確測(cè)試目的。對(duì)于完整的USB2.0信號(hào)完整性測(cè)試，需要對(duì)TX端和RX端都進(jìn)行完整的測(cè)試，但是對(duì)于大多數(shù)廠商來(lái)講，可能只能完成基本的TX端測(cè)試。我們這個(gè)測(cè)試也只對(duì)TX端進(jìn)行測(cè)試，所以測(cè)試的系統(tǒng)就是一臺(tái)示波器、DUT、測(cè)試夾具和測(cè)試線纜。

示波器：TektronixTDS7704B，帶寬為7GHz，采樣率為20GS/s；測(cè)試探針：TektronixP7330/P7240USB2.0testfixture；測(cè)試夾具：TDSUSBFUSB2.0ComplianceTestFixtureWithPowerAdapter；測(cè)試軟件：?USBHighSpeedElectricalTestToolRev:1.10；?TDSUSB2TestPackageApplicationV3.0.2；Tektronix的USB2.0發(fā)送端一致性測(cè)試軟件TDSUSB2可以支持嵌入（Embed)、去嵌入（De-embed）的功能，這對(duì)研發(fā)工程師的作用非常大。在軟件中還直接內(nèi)置提供Host和Device的一致性通道傳遞函數(shù)，可以嵌入一致性通道模型，完成對(duì)一致性測(cè)試的要求，這主要體現(xiàn)在包含了測(cè)試過(guò)程中加入了長(zhǎng)通道和短通道的S參數(shù)在其中，這時(shí)不管你是做的Host端的產(chǎn)品還是Device端的產(chǎn)品，只要在測(cè)試時(shí)選擇對(duì)應(yīng)參數(shù)即可真實(shí)的使用情況。這樣也符合一致性測(cè)試規(guī)范。 設(shè)備USB測(cè)試方案商USB眼圖測(cè)試接口測(cè)試；

每一代USB新的標(biāo)準(zhǔn)推出，都考慮到了對(duì)前一代的兼容能力，但是一些新的特性可能只能在新的技術(shù)下支持。比如USB3.2的X2模式、USB4.0的20Gbps速率、更強(qiáng)的供電能力及對(duì)多協(xié)議的支持等，都只能在新型的Type-C連接器上實(shí)現(xiàn)。由于USB總線的信號(hào)速率已經(jīng)很高，且鏈路損耗和鏈路組合的情況非常復(fù)雜，所以給設(shè)計(jì)和測(cè)試驗(yàn)證工作帶來(lái)了挑戰(zhàn)，對(duì)于測(cè)試儀器的功能和性能要求也與傳統(tǒng)的USB2.0差別很大。下面將詳細(xì)介紹其相關(guān)的電氣性能測(cè)試方法。由于涉及的標(biāo)準(zhǔn)眾多，為了避免混淆，我們將把USB3.0、USB3.1、USB3.2標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)稱為USB3.x,并與USB4.0標(biāo)準(zhǔn)分開介紹。

USB測(cè)試

由 于 U S B 4 . 0 的 發(fā) 送 端 和 接 收 端 非 常 復(fù) 雜 ， 且 要 根 據(jù) 實(shí) 際 鏈 路 質(zhì) 量 進(jìn) 行 協(xié) 商 和 調(diào) 整 。 為 了 方 便 進(jìn) 行 鏈 路 協(xié) 商 的 信 息 交 互 ， U S B 4 . 0 還 提 供 了 額 外 的 邊 帶 通 道 ( S i d e b a n d  C h a n n e l ) 。 邊 帶 通 道 借 助 于T y p e - C接 口 的S B U 1     和 S B U 2 信 號(hào) ， 并 重 新 定 義 成 S B T X 和  S B R X , 用 這 兩 個(gè) 引 腳 實(shí) 現(xiàn) 雙 向 的 信 息 交 互 。 邊 帶 通 道 上 傳 輸 的 是 1 M b p s 數(shù) 據(jù) 速 率 的 低 速  信 號(hào) ， 可 以 用 來(lái) 進(jìn) 行 鏈 路 上 設(shè) 備 和 R e t i m e r 的 管 理 ， 包 括 鏈 路 初 始 化 、 鏈 路 使 能 、 斷 開 連 接 、 休眠管理 、 鏈路均衡等 。

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

地址：深圳市南山區(qū)南頭街道中祥路8號(hào)君翔達(dá)大廈A棟2樓H區(qū) 克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室USB 3.2 & 2.0測(cè)試；

為了模擬傳輸通道對(duì)信號(hào)的影響，USB協(xié)會(huì)提供了相應(yīng)的測(cè)試夾具。每套測(cè)試夾具由 很多塊組成，可以模擬相應(yīng)的PCB走線并在中間插入測(cè)試電纜。這些測(cè)試夾具通過(guò)組合可 以進(jìn)行發(fā)送信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試，也可以進(jìn)行接收容限的測(cè)試，或者進(jìn)行接收容限測(cè)試前的校 準(zhǔn)。圖3 .4是USB協(xié)會(huì)提供的針對(duì)10Gbps的A型接口主機(jī)及Micro-B型接口外設(shè)的測(cè) 試夾具。

除了使用真實(shí)的測(cè)試夾具和電纜來(lái)模擬傳輸通道對(duì)信號(hào)的影響外，實(shí)際測(cè)試中還可以 用示波器的S參數(shù)嵌入功能來(lái)模擬加入傳輸通道影響，這樣可以簡(jiǎn)化測(cè)試連接，也避免了 夾具反復(fù)插拔造成的特性變化。圖3.5是使用夾具直接引出信號(hào)，并通過(guò)示波器中的S參 數(shù)嵌入功能進(jìn)行通道嵌入的典型的USB3.0的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試環(huán)境。 USB2.0信號(hào)質(zhì)量測(cè)試中的測(cè)試模式設(shè)置？設(shè)備USB測(cè)試方案商

USB3.0對(duì)于電纜傳輸損耗的要求；設(shè)備USB測(cè)試方案商

a)USB-IFUSB4ETT軟件下圖是USB-IF新推出的USB4ETT(USB4.0ElectricalTestTool)工具的實(shí)際界面，它可以通過(guò)USB4ElectricalTestT；手動(dòng)控制)或者USB4ElectricalTestToolCLI.exe(commandlineinterface；自動(dòng)化編程控制)兩種方式，使被測(cè)設(shè)備產(chǎn)生必須的測(cè)試碼型。

b)TransmitterPresetCalibrationUSB4.0信號(hào)為了補(bǔ)償有損鏈路帶來(lái)的損耗，定義了16種發(fā)送端均衡(Preset0~Preset15)，測(cè)試規(guī)范規(guī)定在做發(fā)送端測(cè)試前，需要對(duì)每一個(gè)接口的每一對(duì)高速信號(hào)支持的每一種速率分別做Preset的校準(zhǔn)，選擇能夠提供值小DDJ值的Preset值，把它設(shè)定到被測(cè)體的固件里，作為后續(xù)驗(yàn)證的基礎(chǔ)。 設(shè)備USB測(cè)試方案商