機(jī)械MIPI測試PCI-E測試

來源: 發(fā)布時(shí)間:2025-11-04

MIPI M-PHY的協(xié)議解碼

使用M-PHY總線的MIPI接口(如DigRFV4、LLIUniPro等)目前還是比較新的標(biāo)準(zhǔn),很多功能還在開發(fā)過程中,用戶在實(shí)際的應(yīng)用過程中除了會遇到信號質(zhì)量的問題外,還可能會遇到各種各樣協(xié)議方面的問題。如果要對相應(yīng)的協(xié)議做具體的分析和調(diào)試,需要使用的協(xié)議分析儀(如Agilent公司的DigRF協(xié)議分析儀和訓(xùn)練器),的協(xié)議分析儀可以有很深的內(nèi)存深度,可以針對相應(yīng)的協(xié)議設(shè)置多級的復(fù)雜觸發(fā),可以對不關(guān)心的數(shù)據(jù)包進(jìn)行相應(yīng)的過濾,因此很多芯片廠家會選擇的協(xié)議分析進(jìn)行協(xié)議測試。而對于很多具體的使用者來說,可能只需要簡單地了解一下總線上當(dāng)前的狀態(tài),能夠分析示波器上當(dāng)前捕獲的這段波形中傳輸?shù)氖鞘裁磾?shù)據(jù)包以及包里的具體內(nèi)容,這時(shí)候就可以考慮選擇示波器里的協(xié)議解碼功能。

例如基于示波器的N8807ADigRFV4協(xié)議解碼軟件、N8808AUniPro協(xié)議解碼軟件、N8809ALLI協(xié)議解碼軟件、N8818AUFS協(xié)議解碼軟件等。圖14.8~圖14.10是幾個(gè)在示波器里進(jìn)行M-PHY總線解碼的例子。 MIPI測試有什么作用?機(jī)械MIPI測試PCI-E測試

機(jī)械MIPI測試PCI-E測試,MIPI測試

為了適應(yīng)兩種不同的運(yùn)行模式,接收機(jī)端的端接必須是動態(tài)的。在HS模式下,接收機(jī)端必須以差分方式端接100Ω;在LP模式下,接收機(jī)開路(未端接)。HS模式下的上升時(shí)間與LP模式下是不同的。

接收機(jī)端動態(tài)端接加大了D-PHY信號測試的復(fù)雜度,這給探測帶來極大挑戰(zhàn)。探頭必須能夠在HS信號和LP信號之間無縫切換,而不會給DUT帶來負(fù)載。必須在HS進(jìn)入模式下測量大多數(shù)全局定時(shí)參數(shù),其需要作為時(shí)鐘測試、數(shù)據(jù)測試和時(shí)鐘到數(shù)據(jù)測試來執(zhí)行。還要在示波器的不同通道上同時(shí)采集Clock+(Cp)、Clock-(Cn)、Data+(Dp)、Data-(Dn)。 機(jī)械MIPI測試PCI-E測試MIPI接口傳視頻速率;

機(jī)械MIPI測試PCI-E測試,MIPI測試

對于MIPI模組或芯片的測試可以根據(jù)MIPI協(xié)會推薦的方法設(shè)計(jì)評估板TVB(TesVehicleBoard)并結(jié)合協(xié)會提供的RTB(RefererTerminationBoard)進(jìn)行信號測試,TVB板的設(shè)計(jì)可以參考MIPI協(xié)會提供的PCB文件,根據(jù)用戶要測試的模組或芯片的具體布線要求稍作修改,目的是把被測的MIPI信號轉(zhuǎn)成標(biāo)準(zhǔn)SMA接口的輸出,并通過SMA電纜連接到RTB板上。RTB板可以從MIPI協(xié)會購買,上面除了可以引出信號到插針上方便測試以外,還可以根據(jù)HS和LP模式的不同切換負(fù)載的匹配,并根據(jù)需要模擬不同的容性負(fù)載,以方便進(jìn)行不同情況下的信號測試。而對于系統(tǒng)廠商(如手機(jī)廠商等)來說,由于系統(tǒng)設(shè)計(jì)已經(jīng)完成,要進(jìn)行MIPI的信號測試只能使用焊接或點(diǎn)測探頭連接PCB上的實(shí)際信號進(jìn)行測試,進(jìn)行系統(tǒng)間MIPD-PHY信號測試的典型連接圖。

2,MIPID-PHY測試項(xiàng)目

(1)DataLaneHS-TXDifferentialVoltages

(2)DataLaneHS-TXDifferentialVoltageMismatch

(3)DataLaneHS-TXSingle-EndedOutputHighVoltages(

4)DataLaneHS-TXStaticCommon-ModeVoltages

(5)DataLaneHS-TXStaticCommon-ModeVoltageMismatchΔV_CMTX(1,0)

(6)DataLaneHS-TXDynamicCommon-LevelVariationsBetween50-450MHz

(7)1.3.10DataLaneHS-TXDynamicCommon-LevelVariationsAbove450MHz

(8)DataLaneHS-TX20%-80%RiseTime

(9)DataLaneHS-TX80%-20%FallTime

(10)DataLaneHSEntry:T_LPXValue

(11)DataLaneHSEntry:T_HS-PREPAREValue

(12)DataLaneHSEntry:T_HS-PREPARE+T_HS-ZEROValue

(13)DataLaneHSExit:T_HS-TRAILValue

(14)DataLaneHSExit:30%-85%Post-EoTRiseTimeT_REOT

(15)DataLaneHSExit:T_EOTValue

(16)DataLaneHSExit:T_HS-EXITValue

(17)HSEntry:T_CLK-PREValue

(18)HSExit:T_CLK-POSTValue

(19)HSClockRisingEdgeAlignmenttoFirstPayloadBit

(ata-to-ClockSkew(T_SKEW[TX])

(21)ClockLaneHSClockInstantaneous:UI_INSTValue

(22)ClockLaneHSClockDeltaUI:(ΔUI)Value 電氣測試:檢驗(yàn)MIPI信號的電氣參數(shù)是否符合規(guī)范,包括差分阻抗、峰峰電壓等;

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在MIPI接口的高速接收單元中,高速比較器是部件。圖4是高速比較器的電路結(jié)構(gòu)。由于輸入數(shù)據(jù)是高
速低擺幅的信號(例如140mV),比較器的輸入失調(diào)電壓有可能會引起接收數(shù)據(jù)錯(cuò)誤,嚴(yán)重影響系統(tǒng)性能。
因此,該比較器增加了offset校準(zhǔn)功能,在每次進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸之前,對電路進(jìn)行一次校準(zhǔn),以減小輸入失調(diào)
電壓對系統(tǒng)性能的影響。
輸入失調(diào)電壓校準(zhǔn)是通過圖4中的CAL2模塊來實(shí)現(xiàn)。在這里,增加了iconst和itrimm兩路電流,其中ieonst
電流保持不變,itrimmm電流可通過五位控制信號進(jìn)行調(diào)節(jié),在默認(rèn)控制字10000時(shí),immm電流與iconst
大小相同,對應(yīng)的是沒有輸入失調(diào)的情況。

MIPI物理層一致性測試是一種用于檢測MIPI接口物理層性能是否符合規(guī)范的測試方法;機(jī)械MIPI測試PCI-E測試

數(shù)據(jù)線的HS信號質(zhì)量測試;機(jī)械MIPI測試PCI-E測試

液晶屏接口類型有LVDS接口、MIPIDSIDSI接口(下文只討論液晶屏LVDS接口,不討論其它應(yīng)用的LVDS接口,因此說到LVDS接口時(shí)無特殊說明都是指液晶屏LVDS接口),它們的主要信號成分都是5組差分對,其中1組時(shí)鐘CLK,4組DATA(MIPIDSI接口中稱之為lane),它們到底有什么區(qū)別,能直接互聯(lián)么?在網(wǎng)上搜索“MIPIDSI接口與LVDS接口區(qū)別”找到的答案基本上是描述MIPIDSI接口是什么,LVDS接口是什么,沒有直接回答該問題。深入了解這些資料后,有了一些眉目,整理如下。首先,兩種接口里面的差分信號是不能直接互聯(lián)的,準(zhǔn)確來說是互聯(lián)后無法使用,MIPIDSI轉(zhuǎn)LVDS比較簡單,有現(xiàn)成的芯片,例如ICN6201、ZA7783;LVDS轉(zhuǎn)MIPIDSI比較復(fù)雜暫時(shí)沒看到通用芯片,基本上是特制模塊,而且原理也比較復(fù)雜。其次,它們的主要區(qū)別總結(jié)為兩點(diǎn):1、LVDS接口只用于傳輸視頻數(shù)據(jù),MIPIDSI不僅能夠傳輸視頻數(shù)據(jù),還能傳輸控制指令;2、LVDS接口主要是將RGBTTL信號按照SPWG/JEIDA格式轉(zhuǎn)換成LVDS信號進(jìn)行傳輸,MIPIDSI接口則按照特定的握手順序和指令規(guī)則傳輸屏幕控制所需的視頻數(shù)據(jù)和控制數(shù)據(jù)。機(jī)械MIPI測試PCI-E測試