高性能PCB測試系統(tǒng)研發(fā)公司

集成PPMU與動態(tài)電流監(jiān)測——賦能“每瓦特算力”優(yōu)化 背景：AI芯片能效比（Performance per Watt）成為核心競爭力，尤其在數(shù)據(jù)中心“雙碳”目標(biāo)下。每通道集成PPMU，支持nA級靜態(tài)電流與A級動態(tài)電流測量； 可捕獲微秒級浪涌電流（Inrush Current）與電壓塌陷（Voltage Droop）； 支持FVMI/FIMV等模式，繪制功耗-性能曲線。幫助芯片設(shè)計團(tuán)隊優(yōu)化電源完整性（PI）與低功耗策略（如電源門控），打造高能效國產(chǎn)AI芯片。512 Sites并行測試架構(gòu)——降低量產(chǎn)成本，搶占市場先機(jī)。AI芯片年出貨量動輒百萬級，測試成本直接影響產(chǎn)品競爭力。512站點并行測試能力，使單顆芯片測試成本降低70%以上，測試效率呈指數(shù)級提升。為國產(chǎn)AI芯片大規(guī)模量產(chǎn)提供“超級測試流水線”，實現(xiàn)“測得快、賣得起、用得穩(wěn)”。開放軟件生態(tài)（GTFY + C++ + Visual Studio）——加速AI芯片創(chuàng)新迭代 背景：AI架構(gòu)快速演進(jìn)（如存算一體、類腦計算），需高度靈活的測試平臺。開放編程環(huán)境支持自定義測試邏輯，高校與企業(yè)可快速開發(fā)新型測試方案。不僅是量產(chǎn)工具，更是科研創(chuàng)新的“開放實驗臺”，推動中國AI芯片從“跟隨”走向“**”。電壓設(shè)置靈活，測試電壓1–3000V可調(diào)，適應(yīng)多種實驗條件。高性能PCB測試系統(tǒng)研發(fā)公司

隨著智能手機(jī)進(jìn)入AI時代，SoC的競爭已從單一CPU性能轉(zhuǎn)向“CPU+GPU+NPU”三位一體的綜合算力比拼。Counterpoint數(shù)據(jù)顯示，天璣9000系列憑借在AI能力上的前瞻布局，2024年出貨量同比增長60%，預(yù)計2025年將再翻一番。這一成就的背后，不**是架構(gòu)設(shè)計的**，更是對NPU（神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)處理單元）和AI工作負(fù)載深度優(yōu)化的結(jié)果。而這類高度集成的AISoC，對測試設(shè)備提出了前所未有的挑戰(zhàn)：高引腳數(shù)、多電源域、復(fù)雜時序、低功耗模式、混合信號模塊等，均需在量產(chǎn)前完成**驗證。國磊GT600測試機(jī)正是為此類**手機(jī)SoC量身打造的測試平臺，具備從功能到參數(shù)、從數(shù)字到模擬的全棧測試能力。贛州PCB測試系統(tǒng)廠商國磊GT600SoC測試機(jī)可以通過GPIB/TTL接口聯(lián)動探針臺與分選機(jī)，實現(xiàn)全自動測試。

AI眼鏡的崛起標(biāo)志著消費電子向“感知+計算+交互”一體化演進(jìn)。其**SoC是典型的高度集成、低功耗、混合信號器件，測試難度遠(yuǎn)超傳統(tǒng)MCU。國磊GT600測試機(jī)憑借nA級電流測量、高精度模擬測試、10ps時序分析、高并行架構(gòu)與開放軟件平臺，成為AI眼鏡SoC從研發(fā)驗證到量產(chǎn)落地的關(guān)鍵支撐。它不**滿足當(dāng)前40/28nm節(jié)點的測試需求，更具備向更先進(jìn)工藝延伸的能力。在AI終端加速滲透的浪潮中，GT600為國產(chǎn)可穿戴芯片提供可靠、高效、自主可控的測試解決方案，助力中國智造搶占下一代人機(jī)交互入口。

傳統(tǒng)測試設(shè)備面向通用CPU/GPU設(shè)計，難以應(yīng)對AI芯片特有的稀疏計算、張量**、片上互聯(lián)等新架構(gòu)。GT600針對此類需求優(yōu)化了測試向量調(diào)度機(jī)制與并行激勵生成能力，支持對非規(guī)則數(shù)據(jù)流、動態(tài)稀疏***、混合精度運(yùn)算的專項驗證。其靈活的時鐘域管理還可模擬多頻異構(gòu)系統(tǒng)的工作狀態(tài)。這種“為AI而生”的設(shè)計理念，使GT600不僅兼容現(xiàn)有芯片，更能前瞻性支持下一代AI硬件創(chuàng)新。在杭州打造“中國算力之城”的進(jìn)程中，GT600正推動測試從“功能檢查”向“場景仿真”演進(jìn)，**國產(chǎn)測試技術(shù)范式升級。國磊GT600數(shù)字通道邊沿精度100ps，確保模擬IC控制信號（如Enable、Reset）的建立與保持時間精確驗證。

HBM接口動輒上千個高速信號引腳，數(shù)據(jù)速率高達(dá)Gbps級別，對測試設(shè)備的通道密度、測試速率與時序精度提出極限挑戰(zhàn)。國磊GT600測試機(jī)以400MHz測試速率和**2048個數(shù)字通道的強(qiáng)大配置，從容應(yīng)對HBM接口的高并發(fā)、高速邏輯測試需求。其128M向量存儲深度可完整運(yùn)行復(fù)雜協(xié)議測試Pattern，確保功能覆蓋無遺漏。更關(guān)鍵的是，GT600支持512Sites高并行測試，大幅提升測試吞吐量，**降低AI芯片的單顆測試成本。在HBM驅(qū)動的算力**中，GT600不**是測試工具，更是提升國產(chǎn)AI芯片量產(chǎn)效率與市場競爭力的**引擎。靈活的分組測試模式，可單獨控制16通道為一組。金門導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家

GT600通過多SMU同步控制與TMU測量，驗證各域電壓建立時間符合設(shè)計時序否。若順序錯，可能閂鎖或功能異常。高性能PCB測試系統(tǒng)研發(fā)公司

科研創(chuàng)新的“開放平臺” 在高校與科研院所，芯片研發(fā)需要高度靈活的測試環(huán)境。杭州國磊GT600的開放式GTFY系統(tǒng)支持C++/Python編程，研究人員可自由開發(fā)測試算法，驗證新型架構(gòu)（如存算一體、類腦芯片）。其16個通用插槽可接入自研測試板卡，實現(xiàn)定制化測量。128M向量深度支持復(fù)雜實驗程序運(yùn)行，避免頻繁加載。杭州國磊GT600還支持探針臺接口，便于對晶圓上裸片進(jìn)行特性表征。在國產(chǎn)芯片從“模仿”到“創(chuàng)新”的轉(zhuǎn)型中，杭州國磊GT600不僅是量產(chǎn)工具，更是科研探索的“開放實驗臺”，為下一代半導(dǎo)體技術(shù)的突破提供關(guān)鍵支持。高性能PCB測試系統(tǒng)研發(fā)公司