吉林自動(dòng)化PAT工具

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2025-12-08

不同封測(cè)廠的設(shè)備組合、工藝路線和管理重點(diǎn)差異明顯,標(biāo)準(zhǔn)化系統(tǒng)難以滿足全部需求。YMS提供高度可定制的生產(chǎn)良率管理方案,可根據(jù)客戶實(shí)際接入的Tester設(shè)備(如T861、STS8107、MS7000等)和數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu),調(diào)整解析邏輯、分析維度與報(bào)表模板。例如,針對(duì)高頻返工場(chǎng)景,可定制缺陷聚類規(guī)則;針對(duì)客戶審計(jì)需求,可開(kāi)發(fā)合規(guī)性報(bào)告模塊。系統(tǒng)底層保持統(tǒng)一數(shù)據(jù)治理規(guī)范,上層應(yīng)用則靈活適配業(yè)務(wù)流程,確保數(shù)據(jù)質(zhì)量與使用效率兼顧。SYL/SBL自動(dòng)計(jì)算與多格式報(bào)表導(dǎo)出功能,進(jìn)一步提升質(zhì)量閉環(huán)速度。這種“量體裁衣”式的服務(wù)模式,使系統(tǒng)真正融入客戶日常運(yùn)營(yíng)。上海偉諾信息科技有限公司將定制開(kāi)發(fā)視為價(jià)值共創(chuàng)過(guò)程,以技術(shù)靈活性支撐客戶業(yè)務(wù)獨(dú)特性。Mapping Over Ink處理實(shí)現(xiàn)測(cè)試通過(guò)率與長(zhǎng)期可靠性雙重保障,平衡質(zhì)量與產(chǎn)出效率。吉林自動(dòng)化PAT工具

吉林自動(dòng)化PAT工具,MappingOverInk處理

面對(duì)stdf、log、jdf等格式混雜的測(cè)試數(shù)據(jù)流,傳統(tǒng)手工轉(zhuǎn)換不僅耗時(shí),還易引入人為錯(cuò)誤。YMS系統(tǒng)采用智能解析與清洗技術(shù),自動(dòng)校驗(yàn)字段一致性,對(duì)缺失或錯(cuò)位字段進(jìn)行邏輯補(bǔ)全或標(biāo)記,確保每條記錄結(jié)構(gòu)完整。系統(tǒng)支持批量歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)入與實(shí)時(shí)測(cè)試流同步處理,無(wú)論數(shù)據(jù)來(lái)自ASL1000還是TR6850,均能統(tǒng)一轉(zhuǎn)化為可用于分析的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集。在此基礎(chǔ)上,異常值被自動(dòng)過(guò)濾,重復(fù)記錄被精確剔除,明顯提升數(shù)據(jù)可信度。這種端到端的自動(dòng)化處理機(jī)制,使工程師無(wú)需再耗費(fèi)數(shù)小時(shí)整理原始文件,而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際數(shù)據(jù)特征,構(gòu)建了這一高效可靠的數(shù)據(jù)預(yù)處理體系。甘肅自動(dòng)化MappingOverInk處理解決方案Mapping Over Ink處理系統(tǒng)與MES、SPC平臺(tái)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)聯(lián)動(dòng),構(gòu)建智能化質(zhì)量管理閉環(huán)。

吉林自動(dòng)化PAT工具,MappingOverInk處理

良率波動(dòng)若只憑單點(diǎn)數(shù)據(jù)判斷,容易誤判趨勢(shì)。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測(cè)試結(jié)果按時(shí)間序列歸檔,生成連續(xù)良率曲線,并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現(xiàn)變化規(guī)律。當(dāng)某產(chǎn)品線周良率從98%驟降至95%時(shí),系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間,還可聯(lián)動(dòng)同期WAT參數(shù)漂移或設(shè)備維護(hù)記錄,輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關(guān)鍵產(chǎn)品,工程師則可深入分析小時(shí)級(jí)波動(dòng)以優(yōu)化機(jī)臺(tái)參數(shù)。這種動(dòng)態(tài)追蹤能力,使質(zhì)量干預(yù)從事后追溯轉(zhuǎn)向事中預(yù)警。結(jié)合靈活報(bào)表工具,時(shí)間維度分析結(jié)果可一鍵導(dǎo)出為PPT或PDF,用于晨會(huì)或客戶匯報(bào)。上海偉諾信息科技有限公司通過(guò)YMS的時(shí)間序列分析功能,助力客戶實(shí)現(xiàn)精細(xì)化過(guò)程管控。

半導(dǎo)體制造過(guò)程中,良率數(shù)據(jù)的時(shí)效性與準(zhǔn)確性直接決定工藝優(yōu)化的效率。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)采集ASL1000、SineTest、MS7000等測(cè)試平臺(tái)生成的多源數(shù)據(jù),完成端到端的數(shù)據(jù)治理,消除因格式混亂或信息缺失導(dǎo)致的分析盲區(qū)。系統(tǒng)建立的標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù),使生產(chǎn)團(tuán)隊(duì)能夠從時(shí)間軸觀察良率波動(dòng)規(guī)律,或聚焦特定晶圓區(qū)域識(shí)別系統(tǒng)性缺陷,從而快速鎖定異常工序。SYL與SBL參數(shù)的自動(dòng)計(jì)算與閾值卡控,為過(guò)程質(zhì)量提供前置預(yù)警。同時(shí),系統(tǒng)內(nèi)置的報(bào)表引擎可一鍵生成周期性分析簡(jiǎn)報(bào),并以PPT、Excel或PDF形式輸出,便于管理層掌握產(chǎn)線健康狀態(tài)。這種數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的管理模式,明顯提升了制造穩(wěn)定性與決策效率。上海偉諾信息科技有限公司專注半導(dǎo)體行業(yè)系統(tǒng)開(kāi)發(fā),其YMS產(chǎn)品正助力制造企業(yè)邁向精細(xì)化運(yùn)營(yíng)。Mapping數(shù)據(jù)經(jīng)解析后與Bin信息精確對(duì)齊,確保測(cè)試結(jié)果可追溯。

芯片制造過(guò)程中,良率波動(dòng)若不能及時(shí)識(shí)別,可能導(dǎo)致整批產(chǎn)品報(bào)廢。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等Tester平臺(tái)輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多格式測(cè)試數(shù)據(jù),完成重復(fù)性檢測(cè)、缺失值識(shí)別與異常過(guò)濾,確保分析基礎(chǔ)可靠。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)支持從時(shí)間維度追蹤良率趨勢(shì),或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植迹焖俣ㄎ还に嚠惓|c(diǎn)。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析,可區(qū)分是設(shè)計(jì)問(wèn)題還是制程偏差,大幅縮短根因排查周期。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算與卡控機(jī)制嵌入關(guān)鍵控制節(jié)點(diǎn),實(shí)現(xiàn)預(yù)防性質(zhì)量干預(yù)。靈活報(bào)表工具按模板生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào),并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF,提升跨部門決策效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來(lái),持續(xù)優(yōu)化YMS系統(tǒng),助力芯片制造企業(yè)構(gòu)建自主可控的質(zhì)量管理能力。Mapping Over Ink處理嚴(yán)格遵循AECQ標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)判定,確保車規(guī)級(jí)芯片可靠性。甘肅可視化Mapping Inkless

Mapping Over Ink處理減少人工復(fù)核負(fù)擔(dān),提升質(zhì)量控制效率。吉林自動(dòng)化PAT工具

為提升晶圓測(cè)試(CP測(cè)試)的質(zhì)量與可靠性,行業(yè)的關(guān)注點(diǎn)已從單一的電性性能測(cè)試,擴(kuò)展到電性與物理外觀并重的綜合質(zhì)量評(píng)估。因此,越來(lái)越多的公司在CP測(cè)試環(huán)節(jié)中,引入外觀檢測(cè)設(shè)備(AOI,AutomatedOpticalInspection),對(duì)晶圓上每個(gè)Die的表面進(jìn)行高精度、自動(dòng)化的掃描與檢測(cè),以識(shí)別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價(jià)值在于,它彌補(bǔ)了傳統(tǒng)電性測(cè)試的盲區(qū)。一顆芯片可能電性參數(shù)測(cè)試“通過(guò)”,但其物理結(jié)構(gòu)已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續(xù)的封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用中有極高早期失效的風(fēng)險(xiǎn),是產(chǎn)品可靠性的重大隱患。通過(guò)AOI檢測(cè),可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專業(yè)的AOI與Probe Mapping堆疊方案,解決兩大關(guān)鍵問(wèn)題:一是通過(guò)數(shù)據(jù)融合,篩除外觀與電性的全部不良品,生成高可靠性的合一Mapping;二是具備優(yōu)異的兼容性,可將合并后的Mapping直接轉(zhuǎn)換為各類探針臺(tái)(如TSK、TEL、UF3000等)可識(shí)別的格式,實(shí)現(xiàn)從質(zhì)量判定到生產(chǎn)執(zhí)行的自動(dòng)化,有效提升品質(zhì)與效率。吉林自動(dòng)化PAT工具

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進(jìn)的發(fā)展理念,先進(jìn)的管理經(jīng)驗(yàn),在發(fā)展過(guò)程中不斷完善自己,要求自己,不斷創(chuàng)新,時(shí)刻準(zhǔn)備著迎接更多挑戰(zhàn)的活力公司,在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**,在業(yè)界也收獲了很多良好的評(píng)價(jià),這些都源自于自身的努力和大家共同進(jìn)步的結(jié)果,這些評(píng)價(jià)對(duì)我們而言是比較好的前進(jìn)動(dòng)力,也促使我們?cè)谝院蟮牡缆飞媳3謯^發(fā)圖強(qiáng)、一往無(wú)前的進(jìn)取創(chuàng)新精神,努力把公司發(fā)展戰(zhàn)略推向一個(gè)新高度,在全體員工共同努力之下,全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來(lái),創(chuàng)造更有價(jià)值的產(chǎn)品,我們將以更好的狀態(tài),更認(rèn)真的態(tài)度,更飽滿的精力去創(chuàng)造,去拼搏,去努力,讓我們一起更好更快的成長(zhǎng)!