河南USB測(cè)試聯(lián)系方式

USB測(cè)試

USB3. 1的Type-C的外設(shè)接收容限的典型測(cè)試環(huán)境，測(cè)試系統(tǒng)中心是 一 臺(tái)高性能的誤碼儀。誤碼儀可以產(chǎn)生5～10Gbps的高速數(shù)據(jù)流，同時(shí)其內(nèi)部集成時(shí)鐘恢 復(fù)電路、預(yù)加重模塊、噪聲注入、參考時(shí)鐘倍頻、信號(hào)均衡電路等。接收端的測(cè)試中用到了 USB協(xié)會(huì)提供的測(cè)試夾具和1m長(zhǎng)的USB電纜，用于模擬實(shí)際鏈路上電纜以及Host/ Device上PCB走線(xiàn)造成的ISI 的影響。

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

地址：深圳市南山區(qū)南頭街道中祥路8號(hào)君翔達(dá)大廈A棟2樓H區(qū) 示波器在USB2.0一致性分析測(cè)試方案；河南USB測(cè)試聯(lián)系方式

USB電纜/連接器測(cè)試和USB2.0相比，USB3.0及以上產(chǎn)品的信號(hào)帶寬高出很多，電纜、連接器和信號(hào)傳輸路徑驗(yàn)證變得更加重要。圖3.39是規(guī)范中對(duì)支持10Gbps信號(hào)的Type-C電纜的插入損耗(InsertionLoss)和回波損耗(ReturnLoss)的要求。

很多高速傳輸電纜的插損和反射是用頻域的S參數(shù)的形式描述的，頻域傳輸參數(shù)的測(cè) 試標(biāo)準(zhǔn)是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)。另外，對(duì)于電纜來(lái)說(shuō)還有一些時(shí)域參數(shù)，如差分阻抗和 不對(duì)稱(chēng)偏差(Skew)等也必須符合規(guī)范要求，這兩個(gè)參數(shù)通常是用TDR/TDT來(lái)測(cè)量。目前 很多VNA已經(jīng)可以通過(guò)增加時(shí)域TDR選件(對(duì)頻域測(cè)試參數(shù)進(jìn)行反FFT變換實(shí)現(xiàn))的方 式實(shí)現(xiàn)TDR/TDT功能。另外，USB Type-C電纜上要測(cè)試的線(xiàn)對(duì)數(shù)量很多，通過(guò)模塊化的 設(shè)計(jì)，VNA可以在一個(gè)機(jī)箱里支持多達(dá)32個(gè)端口，因此所有差分電纜/連接器的測(cè)試項(xiàng)目 都可以通過(guò)一 臺(tái)多端口的VNA來(lái)完成。圖3.40是用多端口的VNA配合測(cè)試夾具進(jìn)行 Type-C 的USB 電纜測(cè)試的例子。 黑龍江USB測(cè)試DDR測(cè)試克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室usb測(cè)試眼圖測(cè)試；

4.USB4.0Sideband信號(hào)測(cè)試因?yàn)閁SB4.0需要通過(guò)Type-C連接器的SBU1、SBU2等sideband信號(hào)完整復(fù)雜的初始化和協(xié)議控制，所以測(cè)試規(guī)范對(duì)它們的電氣特性測(cè)試做了詳細(xì)的要求。這部分測(cè)試比較簡(jiǎn)單，使用通用示波器和萬(wàn)用表就可以很方便的完成，感興趣的同學(xué)可以直接參考測(cè)試規(guī)范。

小結(jié)：是德科技提供了完整的 USB4.0 電氣測(cè)試方案，  包括發(fā)送端測(cè)試、 接收端測(cè)試、回波損耗測(cè)試 Sideband 信號(hào)測(cè)試。并且，這些方案 已經(jīng)在實(shí)際中得到驗(yàn)證，  表現(xiàn)優(yōu)異。

需要 指出的是在 TP3(Case 2) 遠(yuǎn)端 校準(zhǔn)時(shí)，   除了 Type-C cable 外， 還 需要 ISI boards，   利用 網(wǎng) 絡(luò) 分 析 實(shí)測(cè)，   保 證 ISI boards+Type-C cable+Test fixture 整個(gè)測(cè)試鏈路的插入損耗滿(mǎn)足 18-19 dB at 5GHz for Gen 2 (10Gbps) 和 16-17 dB at 10GHz for Gen 3 (20Gbps) 的要求。

同時(shí)，  是德科技提供 N5991U40A USB4.0 全自動(dòng)化接收端軟件，  幫 助客戶(hù)非常方便的控制示波器對(duì)誤碼儀輸出的加壓信號(hào)進(jìn)行校 準(zhǔn)，  通過(guò) USB4.0 Microcontroller 和 USB4ETT 軟件讀取誤碼測(cè)試時(shí)誤 碼儀和被測(cè)芯片 Preset 和鏈路協(xié)商過(guò)程、以及的誤碼測(cè)試結(jié) 果，  生成完整的測(cè)試報(bào)告。 USB2.0的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試方法？

USB4.0測(cè)試

在進(jìn)行不同項(xiàng)目測(cè)試時(shí)，可能會(huì)用到不同的測(cè)試碼型。典型的測(cè)試碼型有PRBS31、PRBS15、PRBS9、PRBS7、SQ2(重復(fù)的“10”碼型)、SQ4(重復(fù)的“1100”碼型)、SQ32(重復(fù)的16個(gè)高電平和16個(gè)低電平)、SQ128(重復(fù)的64個(gè)高電平和64個(gè)低電平)以及不同速率的SLOS(SymbolLockOrderedSets)碼型等。比如眼圖的測(cè)試會(huì)使用PRBS31碼型，抖動(dòng)的測(cè)試會(huì)使用PRBS15碼型，Preset的測(cè)試會(huì)使用SQ128碼型等。除了測(cè)試碼型以外，被測(cè)件的發(fā)送端還有16種不同的Preset設(shè)置，同時(shí)示波器捕獲波形在做信號(hào)均衡時(shí)還有10種 USB4電性一致性測(cè)試；信號(hào)完整性測(cè)試USB測(cè)試安裝

USB2.0USB3.0測(cè)試方法區(qū)別？河南USB測(cè)試聯(lián)系方式

為了模擬傳輸通道對(duì)信號(hào)的影響，USB協(xié)會(huì)提供了相應(yīng)的測(cè)試夾具。每套測(cè)試夾具由 很多塊組成，可以模擬相應(yīng)的PCB走線(xiàn)并在中間插入測(cè)試電纜。這些測(cè)試夾具通過(guò)組合可 以進(jìn)行發(fā)送信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試，也可以進(jìn)行接收容限的測(cè)試，或者進(jìn)行接收容限測(cè)試前的校 準(zhǔn)。圖3 .4是USB協(xié)會(huì)提供的針對(duì)10Gbps的A型接口主機(jī)及Micro-B型接口外設(shè)的測(cè) 試夾具。

除了使用真實(shí)的測(cè)試夾具和電纜來(lái)模擬傳輸通道對(duì)信號(hào)的影響外，實(shí)際測(cè)試中還可以 用示波器的S參數(shù)嵌入功能來(lái)模擬加入傳輸通道影響，這樣可以簡(jiǎn)化測(cè)試連接，也避免了 夾具反復(fù)插拔造成的特性變化。圖3.5是使用夾具直接引出信號(hào)，并通過(guò)示波器中的S參 數(shù)嵌入功能進(jìn)行通道嵌入的典型的USB3.0的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試環(huán)境。 河南USB測(cè)試聯(lián)系方式