DDR測(cè)試USB測(cè)試方案

第二項(xiàng)測(cè)試是發(fā)射機(jī)均衡測(cè)試，這項(xiàng)測(cè)試也與USB4預(yù)置值有關(guān)。這項(xiàng)測(cè)試的目標(biāo)，是確保發(fā)射機(jī)均衡落在規(guī)范的極限范圍內(nèi)。新USB4方法要求每個(gè)預(yù)置值3個(gè)波形，而PCIe Gen 3/4則要求一個(gè)波形。現(xiàn)在一共需要48個(gè)波形，因此耗時(shí)很長(zhǎng)！

USB4中接收機(jī)測(cè)試和校準(zhǔn)變化現(xiàn)在我們討論一下USB4中接收機(jī)測(cè)試和校準(zhǔn)有哪些變化。首先，USB4必需對(duì)全部5個(gè)SJ頻率執(zhí)行接收機(jī)校準(zhǔn)。這較USB3.2接收機(jī)校準(zhǔn)變化很大，在USB3.2中我們只在100MHzSJ頻率執(zhí)行校準(zhǔn)，然后使用相同的壓力眼圖校準(zhǔn)進(jìn)行接收機(jī)測(cè)試。USB4還有兩種測(cè)試情況，我們需要進(jìn)行自動(dòng)調(diào)諧或精調(diào)，來滿足壓力眼圖或總抖動(dòng)目標(biāo)。情況1是低插損(短通道)，情況2是比較大插損(長(zhǎng)通道)，這也要耗費(fèi)很長(zhǎng)時(shí)間。下一步是USB4接收機(jī)測(cè)試，或者我們?cè)鯓舆\(yùn)行傳統(tǒng)抖動(dòng)容差測(cè)試。抖動(dòng)容差測(cè)試的目標(biāo)之一，是掃描SJ或幅度，找到邊界，或者找到哪里開始出現(xiàn)誤碼。為了執(zhí)行這項(xiàng)測(cè)試，我們需要先使用邊帶通道初始化鏈路，然后開始BER測(cè)試。然后我們要一直監(jiān)測(cè)誤碼，因?yàn)閁SB4現(xiàn)在采用機(jī)載誤碼計(jì)數(shù)器，而不是BERT上的傳統(tǒng)誤碼檢測(cè)器。這個(gè)過程涉及到多個(gè)步驟。 usb3.0的接收容限測(cè)試？DDR測(cè)試USB測(cè)試方案

USB電纜/連接器測(cè)試和USB2.0相比，USB3.0及以上產(chǎn)品的信號(hào)帶寬高出很多，電纜、連接器和信號(hào)傳輸路徑驗(yàn)證變得更加重要。圖3.39是規(guī)范中對(duì)支持10Gbps信號(hào)的Type-C電纜的插入損耗(InsertionLoss)和回波損耗(ReturnLoss)的要求。

很多高速傳輸電纜的插損和反射是用頻域的S參數(shù)的形式描述的，頻域傳輸參數(shù)的測(cè) 試標(biāo)準(zhǔn)是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)。另外，對(duì)于電纜來說還有一些時(shí)域參數(shù)，如差分阻抗和 不對(duì)稱偏差(Skew)等也必須符合規(guī)范要求，這兩個(gè)參數(shù)通常是用TDR/TDT來測(cè)量。目前 很多VNA已經(jīng)可以通過增加時(shí)域TDR選件(對(duì)頻域測(cè)試參數(shù)進(jìn)行反FFT變換實(shí)現(xiàn))的方 式實(shí)現(xiàn)TDR/TDT功能。另外，USB Type-C電纜上要測(cè)試的線對(duì)數(shù)量很多，通過模塊化的 設(shè)計(jì)，VNA可以在一個(gè)機(jī)箱里支持多達(dá)32個(gè)端口，因此所有差分電纜/連接器的測(cè)試項(xiàng)目 都可以通過一 臺(tái)多端口的VNA來完成。圖3.40是用多端口的VNA配合測(cè)試夾具進(jìn)行 Type-C 的USB 電纜測(cè)試的例子。 USB測(cè)試USB測(cè)試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)USB2.0一致性測(cè)試環(huán)和報(bào)告解讀；

USB信號(hào)完整性測(cè)試

USB3.0和USB2.0相比有著非常本質(zhì)的區(qū)別，USB3.0有兩對(duì)高速差分線分別進(jìn)行信號(hào)的發(fā)送和接收，為全雙工工作模式，且使用了多種高速處理技術(shù)，如均衡、預(yù)加重等，對(duì)此進(jìn)行的物理層一致性測(cè)試是非常重要的，USB3.0規(guī)范要求進(jìn)行多個(gè)項(xiàng)目的測(cè)試，如發(fā)送端測(cè)試、接收端測(cè)試、線纜測(cè)試等，因此需要多種儀器進(jìn)行測(cè)試。

接著就是設(shè)置DUT類型、速率、夾具和測(cè)試分析模式，由于DUT是Host，所以在Host一欄選擇Host；USB3.2的速率為10G；測(cè)試的夾具分為了兩類，一類是USB-IF協(xié)會(huì)的，另一類就是Tektronix的，在這里選擇的是USB-IF的測(cè)試夾具；另外一個(gè)非常關(guān)鍵的點(diǎn)就是Test Method，是否選用USB-IF SigTest的分析方法，通常，我們會(huì)選擇使用；選擇參考時(shí)鐘，一般高速串行信號(hào)都會(huì)選用SSC模式；還要根據(jù)產(chǎn)品使用。

USB測(cè)試，需要被測(cè)件能夠發(fā)出不同速率的測(cè)試碼型以及不同的預(yù)加重設(shè)置。被測(cè)件發(fā)送信號(hào)的控制需要通過USB4的微控制器，這個(gè)控制器可以在USB協(xié)會(huì)提供的ETT(ElectricalTestTool)軟件的控制下和被測(cè)設(shè)備交互，并控制被測(cè)設(shè)備輸出需要的測(cè)試碼型。為Wilder公司提供的USB4.0的測(cè)試夾具及控制器。在有些示波器的USB4的信號(hào)質(zhì)量自動(dòng)測(cè)試軟件中，也集成了ETT軟件的控制腳本。這樣在測(cè)試過程中，用戶只需要選擇需要測(cè)試的速率和項(xiàng)目，測(cè)試軟件就會(huì)根據(jù)不同的項(xiàng)目設(shè)置被測(cè)件的狀態(tài)，而不需要每次運(yùn)行不同測(cè)試項(xiàng)目時(shí)等待用戶手動(dòng)進(jìn)行煩瑣的被測(cè)件狀態(tài)設(shè)置。USB4.0自動(dòng)測(cè)試軟件的測(cè)試環(huán)境設(shè)置、測(cè)試項(xiàng)目選擇以及運(yùn)行測(cè)試項(xiàng)目的界面。USB3.0一致性測(cè)試內(nèi)容；

新USB4標(biāo)準(zhǔn)新USB4標(biāo)準(zhǔn)引入了16種新的預(yù)置值，也就是說，發(fā)射機(jī)均衡現(xiàn)在有16種不同的組合。較USB 3.2發(fā)射機(jī)，這是一個(gè)很大的變化，前者支持1個(gè)前沖電平和3個(gè)加重電平。USB4采用雙重角色數(shù)據(jù)操作，使主機(jī)到主機(jī)通信成為可能。USB4接收機(jī)測(cè)試和鏈路/通路初始化中的巨大差異之一，是它采用邊帶通道進(jìn)行通信。USB4接收機(jī)測(cè)試不同于傳統(tǒng) USB 3. 2接收機(jī)測(cè)試?，F(xiàn)在，USB4接收機(jī)測(cè)試采用機(jī)載誤碼計(jì)數(shù)器，來計(jì)算BER，因此我們現(xiàn)在需要USB4微控制器，來同時(shí)執(zhí)行發(fā)射機(jī)測(cè)試和接收機(jī)測(cè)試。USB3.0信號(hào)和協(xié)議測(cè)試？USB測(cè)試USB測(cè)試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

USB3.0的自動(dòng)測(cè)試軟件；DDR測(cè)試USB測(cè)試方案

USB3.x發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量測(cè)試在進(jìn)行USB3.x發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量測(cè)試時(shí)，會(huì)要求測(cè)試對(duì)象發(fā)出特定的測(cè)試碼型，用實(shí)時(shí)示波器對(duì)該碼型進(jìn)行眼圖分析，并測(cè)量信號(hào)的幅度、抖動(dòng)、平均數(shù)據(jù)率及上升/下降時(shí)間等。雖然看起來好像比較簡(jiǎn)單，但實(shí)際上USB3.x針對(duì)超高速部分的信號(hào)測(cè)試與傳統(tǒng)USB2.0的測(cè)試方法有較大的不同，包括很多算法的處理和注意事項(xiàng)。首先，由于USB3.x信號(hào)速率很高，且信號(hào)的幅度更小，因此測(cè)試中需要更高帶寬的示波器。對(duì)于5Gbps信號(hào)的測(cè)試，推薦使用至少12.5GHz帶寬的示波器；對(duì)于10Gbps信號(hào)的測(cè)試，推薦使用至少16GHz帶寬的示波器。其次，對(duì)于USB3.x發(fā)送端測(cè)試，其測(cè)試的參考點(diǎn)不是像USB2.0那樣只是在發(fā)送端的連接器上進(jìn)行測(cè)試，還需要測(cè)試經(jīng)過“一致性通道”(ComplianceChannel)或“參考通道”(ReferenceChannel)傳輸，并經(jīng)參考均衡器均衡后的信號(hào)質(zhì)量。通常把直接在發(fā)送端連接器上進(jìn)行的測(cè)試叫作“ShortChannel”測(cè)試，把經(jīng)過傳輸通道進(jìn)行的測(cè)試叫作“LongChannel”測(cè)試。DDR測(cè)試USB測(cè)試方案