國產(chǎn)GEN3測試系統(tǒng)價位

國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)，特別是其GT600高性能測試平臺，在當(dāng)前全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈高度競爭與地緣***風(fēng)險加劇的背景下，對保障中國半導(dǎo)體及**制造領(lǐng)域的供應(yīng)鏈安全具有戰(zhàn)略意義。打破**ATE設(shè)備進(jìn)口依賴 自動測試設(shè)備（ATE）是芯片制造后道工序的**裝備，長期被美國泰瑞達(dá)（Teradyne）、日本愛德萬（Advantest）等國際巨頭壟斷，尤其在高性能SoC、AI芯片、車規(guī)芯片測試領(lǐng)域，國產(chǎn)設(shè)備幾乎空白。國磊GT600實(shí)現(xiàn)了400MHz測試速率、2048通道擴(kuò)展、高精度AWG/TMU等關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)的突破，具備替代進(jìn)口設(shè)備的能力。這***降低了國內(nèi)晶圓廠、封測廠和芯片設(shè)計公司在**測試環(huán)節(jié)對國外設(shè)備的依賴，避免因出口管制、斷供或技術(shù)封鎖導(dǎo)致產(chǎn)線停擺。國磊GT600每通道集成PPMU，支持HBM相關(guān)I/O引腳的漏電流（Leakage）、VIH/VIL、VOH/VOL等DC參數(shù)測量。國產(chǎn)GEN3測試系統(tǒng)價位

對于時間測量要求極高的場景（如ADAS傳感器信號），杭州國磊GT600可選配高精度TMU（時間測量單元，分辨率10ps），精確捕捉信號延遲與抖動，確保通信實(shí)時性。 再次，GT600支持混合信號測試。 現(xiàn)代車規(guī)芯片（如智能座艙、域控制器SoC）集成了CPU、GPU、ISP、音頻編解碼等模塊。國磊GT600通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號，測試攝像頭ISP的圖像處理能力；通過高速數(shù)字通道驗證CAN-FD、Ethernet等通信接口功能。 ***，國磊GT600的512站點(diǎn)并行測試能力，大幅提升了車規(guī)芯片的量產(chǎn)效率，降低了單顆測試成本，助力國產(chǎn)車規(guī)芯片快速上車。導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)國磊GT600SoC測試機(jī)作為一款通用型高jiATE，其設(shè)計目標(biāo)是支持廣類型的復(fù)雜SoC芯片的測試驗證。

支撐國產(chǎn)芯片全流程自主驗證 從設(shè)計到量產(chǎn)，芯片必須經(jīng)過嚴(yán)格的功能與參數(shù)測試。若測試設(shè)備受制于人，不僅存在數(shù)據(jù)安全風(fēng)險（如測試程序、芯片特性被第三方獲?。?，還可能因設(shè)備兼容性問題拖慢研發(fā)節(jié)奏。國磊（Guolei）GT600采用開放式GTFY軟件架構(gòu)，支持C++編程、自定義測試流程，并兼容STDF、CSV等標(biāo)準(zhǔn)格式，使國產(chǎn)CPU、GPU、AI加速器、車規(guī)MCU等關(guān)鍵芯片可在完全自主可控的平臺上完成工程驗證與量產(chǎn)測試，確保“設(shè)計—制造—測試”全鏈條安全閉環(huán)。加速國產(chǎn)芯片生態(tài)成熟與迭代 供應(yīng)鏈安全不僅在于“有無”，更在于“效率”與“響應(yīng)速度”。國磊作為本土企業(yè)，可提供快速的技術(shù)支持、定制化開發(fā)和本地化服務(wù)。例如，某智能駕駛芯片廠商在流片后發(fā)現(xiàn)高速接口時序異常，國磊工程師可在48小時內(nèi)協(xié)同優(yōu)化TMU測試程序，而依賴國外設(shè)備則可能需數(shù)周等待遠(yuǎn)程支持。這種敏捷響應(yīng)能力極大縮短了國產(chǎn)芯片的調(diào)試周期，加速產(chǎn)品上市，提升整個生態(tài)的競爭力與韌性。

    杭州國磊GT600SoC測試機(jī)之所以特別適用于高?？蒲袌鼍?，**在于其開放性、靈活性、多功能性與高性價比，完美契合高校在芯片教學(xué)、科研探索與原型驗證中的獨(dú)特需求。首先，高度開放的軟件生態(tài)是科研創(chuàng)新的基礎(chǔ)。GT600搭載GTFY軟件系統(tǒng)，支持C++編程語言，并兼容VisualStudio等主流開發(fā)環(huán)境。這意味著高校師生無需依賴封閉的“黑盒子”軟件，可自主編寫、調(diào)試和優(yōu)化測試程序，靈活實(shí)現(xiàn)各類新型芯片架構(gòu)（如RISC-V、存算一體、類腦計算）的功能驗證。這種開放性極大激發(fā)了學(xué)生的工程實(shí)踐能力與教師的科研創(chuàng)造力。其次，模塊化硬件架構(gòu)支持多樣化實(shí)驗需求。GT600提供16個通用插槽，可自由混插數(shù)字、模擬（AWG/TMU）、電源（SMU/DPS）等板卡，構(gòu)建從純數(shù)字邏輯到混合信號的完整測試平臺。無論是驗證一顆自研MCU的GPIO功能，還是測試新型傳感器接口的模擬性能，亦或是表征先進(jìn)工藝下的漏電特性，GT600都能“一機(jī)多用”，避免高校重復(fù)采購多臺**設(shè)備，***提升設(shè)備利用率。第三，高精度測量能力支撐前沿研究。GT600的PPMU可測nA級電流，TMU時間分辨率達(dá)10ps，適用于FinFET、GAA等先進(jìn)工藝下低功耗器件的特性表征。 國磊GT600SoC測試機(jī)可用于執(zhí)行電壓裕量測試（VoltageMargining），評估芯片在電壓波動下的穩(wěn)定性。

    MEMS麥克風(fēng)消費(fèi)電子中***采用的數(shù)字/模擬MEMS麥克風(fēng)，內(nèi)部包含聲學(xué)傳感MEMS結(jié)構(gòu)與低噪聲前置放大器ASIC。關(guān)鍵指標(biāo)包括靈敏度、信噪比（SNR）、總諧波失真（THD）和AOP（聲學(xué)過載點(diǎn)）。杭州國磊（Guolei）支持點(diǎn)：GT-AWGLP02AWG板卡生成純凈1kHz正弦激勵（THD<-122dB）；高分辨率Digitizer采集輸出信號，計算SNR與THD；支持I2S/PDM等數(shù)字音頻接口協(xié)議測試；可進(jìn)行多顆麥克風(fēng)并行測試（512Sites），滿足手機(jī)廠商大批量需求。壓力傳感器（氣壓/差壓/***壓力）用于可穿戴健康監(jiān)測（如血氧估算）、汽車胎壓監(jiān)測（TPMS）、工業(yè)過程控制等。其ASIC需處理pF級電容變化，并具備溫度補(bǔ)償與校準(zhǔn)功能。杭州國磊（Guolei）支持點(diǎn)：PPMU施加精確偏置電壓并測量微安級工作電流；AWG模擬不同壓力對應(yīng)的電容激勵信號；Digitizer采集校準(zhǔn)后數(shù)字輸出（如I2C讀數(shù)），驗證線性度與零點(diǎn)漂移；支持高低溫環(huán)境下的參數(shù)漂移測試（配合溫控分選機(jī)）。 國磊GT600測試系統(tǒng)只需通過“配置升級”和“方案打包”，就能快速適配Chiplet的復(fù)雜測試需求。導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)

國磊GT600SoC測試機(jī)512Sites高并行測試架構(gòu)，提升集成了HBM的AI/GPU芯片的測試吞吐量。國產(chǎn)GEN3測試系統(tǒng)價位

杭州國磊GT600支持比較高400MHz測試速率，意味著每秒可執(zhí)行4億次信號激勵與采樣，這是驗證現(xiàn)代高速SoC的基石。在智能手機(jī)場景中，麒麟芯片的LPDDR5內(nèi)存接口、PCIe 4.0存儲總線、USB4高速傳輸均工作在GHz級頻率。GT600的400MHz速率雖非直接運(yùn)行在接口全速，但足以覆蓋其協(xié)議層的功能測試與時序驗證。通過“降頻測試+向量仿真”，GT600能精確捕捉信號邊沿、驗證數(shù)據(jù)完整性。在AI芯片測試中，該速率可驅(qū)動NPU**進(jìn)行高吞吐矩陣運(yùn)算測試，確保算力達(dá)標(biāo)。400MHz還支持復(fù)雜狀態(tài)機(jī)跳轉(zhuǎn)、多模塊協(xié)同仿真，避免因測試速率不足導(dǎo)致功能覆蓋缺失。這一參數(shù)使GT600能勝任從5G通信到邊緣計算的各類高速芯片驗證，成為國產(chǎn)**SoC量產(chǎn)的“***道高速關(guān)卡”。國產(chǎn)GEN3測試系統(tǒng)價位